一. 零點(diǎn)調(diào)節(jié)

　　由于超聲波通過保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件的，缺陷定位時(shí)，需將這部分聲程移去，才能得到超聲波在工件中實(shí)際聲程。

　　零點(diǎn)一般是通過已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)節(jié)，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

　　二. K值調(diào)節(jié)

　　由于斜探頭探傷時(shí)不僅要知道缺陷的聲程，更要得出缺陷的垂直和水平位置，因此斜探頭還要精確測(cè)定其K值(折射角)才能準(zhǔn)確地對(duì)缺陷進(jìn)行定位。

　　K值一般是通過對(duì)具有已知深度孔的試塊來(lái)調(diào)節(jié)，如用CSK-IA試塊?50或?1.5的孔。

　　三. 定量調(diào)節(jié)

　　定量調(diào)節(jié)一般采用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)。

　　四. 缺陷定位

　　超聲波探傷中測(cè)定缺陷位置簡(jiǎn)稱缺陷定位。

　　1. 縱波(直探頭)定位

　　縱波定位較簡(jiǎn)單，如探頭波束軸線不偏離，缺陷波在屏幕上位置即是缺陷至探頭在垂直方向的距離。

　　2. 表面波定位

　　表面波探傷定位與縱波定位基本類似，只是缺陷位于工件表面，缺陷波在屏幕上位置是缺陷至探頭在水平方向的距離(此時(shí)要考慮探頭前沿)。

　　3. 橫波定位

　　橫波斜探頭探傷定位由缺陷的聲程和探頭的折射角或缺陷的水平和垂直方向的投影來(lái)確定。

　　4. 橫波周向探測(cè)圓柱面時(shí)缺陷定位

　　周向探傷時(shí)，缺陷定位與平面探傷不同。

　　(1) 外圓探傷周向探測(cè)

　　(2) 內(nèi)壁周向探測(cè)