1、線圈之繞線電阻DCR（銅阻），繞線感量（L）圈數(shù)N、圈數(shù)比例（Np/Ns），線圈間容量（Cp），鐵芯狀態(tài)（Q，ACR，LK）等，屬于低壓參數(shù)測(cè)試。上述項(xiàng)目使用自動(dòng)變壓測(cè)試系統(tǒng)，LCR數(shù)字電橋、圈數(shù)測(cè)試儀、直流低電阻測(cè)試儀等完成。

2、不同線圈間或線圈對(duì)鐵芯及外殼等的耐壓和絕緣程度，使用耐壓測(cè)試儀和絕緣電阻測(cè)試儀。

3、線圈自身的的絕緣程度，使用脈沖式線圈測(cè)試儀（匝間絕緣測(cè)試儀）。

一般生產(chǎn)過程中檢驗(yàn)合格的元件，使用于電氣電子產(chǎn)品中，即使短期功能正常，但長(zhǎng)期使用也可能因線圈自身的絕緣不佳而產(chǎn)生潛在的不良因素，而影響產(chǎn)品的之壽命和穩(wěn)定性。
絕緣問題導(dǎo)致產(chǎn)品不良的表現(xiàn)：耐久性差，壽命短；抗噪聲能力不佳；高溫下穩(wěn)定性不好。

常見造成線圈絕緣不良的原因：漆包線，絕緣膠帶或骨架絕緣不良；原始設(shè)計(jì)的出線方式或加工工藝不良；引腳間未留安全距離或焊錫后的污染物的存在。

繞線工序結(jié)束，磁性材料加入前進(jìn)行脈沖測(cè)試，可發(fā)現(xiàn)如下不良情況：線圈自身絕緣不良（ 波形前段衰減及放電現(xiàn)象）；繞線圈數(shù)或接線明顯錯(cuò)誤前段（Lx，前段諧振周期變化）；繞線方式錯(cuò)誤（并聯(lián)電容Cx變化，后段諧振周期）。