EMI測試那點事——高速數(shù)據(jù)引起的EMI問題
此時底噪明顯下降,280MHz處為-71dBm,當我們再將頻譜分析時間段右移至完全沒有突發(fā)幅度處時,得到如下測試結(jié)果:
此時底噪已經(jīng)降低到-85dBm一下,原來280MHz頻點處被底噪淹沒的-73dBm的信號此時已經(jīng)顯現(xiàn)出來。
由于該電路板EMI呈周期性變化,既然FPGA的設計難以在短時間內(nèi)更改,我們能否通過有效的控制手段,讓有用的射頻信號在突發(fā)周期間隔中底噪較低的時刻發(fā)射,而在突發(fā)幅度時刻不發(fā)射有用信息?客戶認為此方法可行。底噪呈周期性變化,必定與電路板中某種控制信號相關,雖然我們已經(jīng)測試出突發(fā)底噪變化的周期,但如果我們不知道這種周期與哪種控制相關,上述設想就難以實現(xiàn)??蛻魧ζ鋬?nèi)部控制時序相當熟悉,94uS的周期剛好是該電路板高速USB信號傳輸控制周期。為了驗證這一假設,我們將MDO示波器通道1接到高速USB控制測試點,同時測試射頻頻譜,得到如下結(jié)果:
以上測試結(jié)果充分證明了通道1中的高速USB信號與底噪突發(fā)抬升的規(guī)律相同,證明二者相關。高速USB的時序由嵌入式程序控制,因此只要在程序中控制射頻在高速USB信號發(fā)出后延遲50uS發(fā)射,發(fā)射持續(xù)時間小于40uS即可。
案例總結(jié):
本案例利用MDO跨域分析及調(diào)制域分析功能,成功地確認EMI與高速USB信號相關,通過時序控制,跨域有效避免以前難以解決的問題。
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