基于ADF4106的低相噪本振設(shè)計
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作者/ 曹陽1 ,2 1.中國電子科技集團公司第41研究所 研發(fā)1部(安徽 蚌埠 233006) 2.電子信息測試技術(shù)安徽省重點實驗室(安徽 蚌埠 233006)
本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/201705/359748.htm*基金項目：國家科技重大專項面向R12 LTE-Advanced終端綜合測試儀(編號：2016ZX03002010)
曹陽(1989-)，男，助理工程師，研究方向：通信測量儀器的研究與開發(fā)。
摘要：為了實現(xiàn)低相噪的本振信號輸出，本文設(shè)計出一種基于鎖相環(huán)芯片ADF4106的低相噪本振源。通過實際調(diào)試，測試結(jié)果滿足設(shè)計要求，并作為第二點頻本振應(yīng)用于一款通信測試儀器的中。
引言
低相噪本振是通信測試儀器等現(xiàn)代電子設(shè)備系統(tǒng)的核心模塊，它對電子設(shè)備系統(tǒng)的性能起著決定性的作用。對于低相噪本振的設(shè)計，許多人做了大量的研究[1-4]，本文利用鎖相環(huán)芯片ADF4106設(shè)計出一種低相噪本振源，作為第二點頻本振應(yīng)用于一款通信測試儀器中，為測試儀器提供一個5400MHz的下變頻信號。
1 方案設(shè)計
1.1 設(shè)計指標(biāo)
輸出頻率：5400MHz
相位噪聲：≤-110dBc@1kHz
相位噪聲：≤-118dBc@10kHz
輸出功率范圍：10～12dBm
1.2 設(shè)計方案
本方案利用Z-COM公司的壓控振蕩器CRO5400Z產(chǎn)生5400MHz的輸出頻率，經(jīng)過功率分配后，一路通過功率調(diào)理電路后輸出給整機作為第二點頻本振，另一路反饋進入具有分頻、鑒相功能的ADI公司的可編程鎖相環(huán)芯片ADF4106，與100MHz參考經(jīng)過分頻后進行鑒相，通過環(huán)路濾波器濾波后驅(qū)動壓控振蕩器產(chǎn)生5400MHz的輸出頻率。原理框圖如圖1所示。
2 關(guān)鍵電路設(shè)計
2.1 ADF4106電路設(shè)計
ADF4106由一個數(shù)字鑒相器PD、一個充電泵CP、一個可編程的基準(zhǔn)分頻器、可編程的A(6位)、B(13位)計數(shù)器及一個雙模式的前置分頻器(P/P+1)組成。內(nèi)部結(jié)構(gòu)原理圖如圖2所示。
利用ADF4106和環(huán)路濾波器LF(Loop Filter)、壓控振蕩器VCO(Voltage Controlled Oscillator)可以構(gòu)成一個鎖相環(huán)PLL(Phase Locked Loop)。根據(jù)ADF4106datasheet提供的公式：
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