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          解析半導(dǎo)體工藝節(jié)點(diǎn)的演進(jìn) 尋找摩爾定律的曙光

          作者: 時(shí)間:2017-07-28 來源:智慧產(chǎn)品圈 收藏
          編者按:任何一個(gè)新技術(shù)都會(huì)帶來風(fēng)險(xiǎn),摩爾定律也在面臨巨大挑戰(zhàn), 我們無法預(yù)測“后摩爾定律”時(shí)代的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)會(huì)怎樣發(fā)展?但是如果新技術(shù)能夠確保摩爾定律繼續(xù)走下去,我們就能有效地避免半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)整體下滑。

            01 下的工藝節(jié)點(diǎn)的形成

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201707/362299.htm

            1958年,美國德州儀器公司的工程師杰克·基爾比制成了世界上第一片集成電路,1962年,德州儀器公司建成世界上第一條商業(yè)化集成電路生產(chǎn)線。此后,在市場需求的驅(qū)動(dòng)下,集成電路發(fā)展成為一個(gè)龐大的產(chǎn)業(yè),從小規(guī)模集成電路(SSI)到中規(guī)模集成電路(MSI)、再到大規(guī)模集成電路(LSI),一直到現(xiàn)在的超大規(guī)模集成電路(VLSI)。集成度被看作是描述集成電路工藝先進(jìn)程度的一個(gè)重要指標(biāo),通常用晶體管數(shù)目來表示集成度高低,一個(gè)芯片里含有的晶體管數(shù)目越多,芯片的功能也就越強(qiáng)。因此,集成電路的規(guī)模反映了集成電路的先進(jìn)程度。

            集成度的提高,不僅意味著單個(gè)晶體管的尺寸縮小了,同時(shí)也意味著采用了更加先進(jìn)的制造工藝,因?yàn)榫w管尺寸與制造工藝之間有著密切的聯(lián)系。可以說,集成電路技術(shù)的發(fā)展過程,就是把晶體管尺寸做得越來越小的過程。九十年代的大規(guī)模集成電路普遍采用的是微米級(jí)工藝,筆者在上世紀(jì)90年代初做設(shè)計(jì)時(shí)就是采用5微米和3微米標(biāo)準(zhǔn)單元庫,這也是那個(gè)年代的主流工藝(晶圓尺寸是3英寸和4英寸)。二十多年過去了,現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展到納米級(jí)工藝了,中芯國際去年實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)的28納米工藝,比起3微米工藝,尺寸縮小了100多倍。

            這些工藝演進(jìn)的背后,是更多金錢的投入。因?yàn)楦〉某叽缫馕吨鴮?duì)設(shè)計(jì)和制造設(shè)備以及芯片材料等都有更為苛刻的要求,為了克服技術(shù)門檻,芯片企業(yè)每年需要投入數(shù)億、數(shù)十億美元的研發(fā)經(jīng)費(fèi),不知有多少世界一流的科學(xué)家和工程師都參與了這一耗資巨大的芯片微縮化工程。

            那么5微米、3微米、以及90納米、28納米等等這些“節(jié)點(diǎn)”是怎樣形成的呢?可以說這是描述進(jìn)程的一個(gè)指標(biāo)。說,芯片每一年半(后來改為兩年),其集成度翻一番,并伴隨著性能的增長和成本的下降。怎樣描述這個(gè)集成度呢?這就有了工藝“節(jié)點(diǎn)”的說法。即工藝節(jié)點(diǎn)數(shù)值越小,表征芯片的集成度就越高。這些數(shù)值也被《國際技術(shù)藍(lán)圖(ITRS)》用來劃分工藝的階段(也稱工藝代),或描述芯片的先進(jìn)性。

            這里有必要解釋這些數(shù)值表示的是什么尺寸。例如28nm工藝,這里的28nm是指晶體管柵極的最小線寬(柵寬)。實(shí)際設(shè)計(jì)中除了柵極,其他的設(shè)計(jì)尺寸一般都大于工藝節(jié)點(diǎn)的尺寸,例如晶體管之間的金屬連線寬度、有源區(qū)寬度等。


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            ▲ 圖一 與非門、或門的版圖

            圖一是個(gè)例子。在這個(gè)與非門和或非門的版圖里,白的是襯底層,紅的是多晶硅層,藍(lán)的是金屬層。這其中只有紅的多晶硅柵極的最小線寬是可以達(dá)到28nm的,其他一切尺寸都是要大于28nm。具體各層線寬的最小值需要看該工藝的設(shè)計(jì)規(guī)則(Design Rull)。

            為什么用柵極線寬而不是其他的線寬來表征工藝節(jié)點(diǎn),這是因?yàn)闁艠O寬度一般是整個(gè)設(shè)計(jì)中最重要的參數(shù)。在CMOS電路中,MOS晶體管最主要的功能就是通過柵極控制源漏之間的電流。這個(gè)電流受很多因素影響,例如晶體管遷移率、絕緣層電容,還有各種效應(yīng)等,這些都與半導(dǎo)體工藝有關(guān),工藝定了設(shè)計(jì)很難改變。一般情況下唯一可以設(shè)計(jì)的參數(shù)就是溝道寬長比,溝道寬長比就是晶體管柵極的長寬比(長溝器件可以直接近似,短溝器件要加修正項(xiàng))。也就是說在電壓一樣的情況下,柵極越寬,溝道就越長,源漏電流就越小。

            所以在設(shè)計(jì)中,溝道越短,意味著晶體管的尺寸越小,單位面積可以存放的晶體管數(shù)量就越多,芯片集成度就越高;換一種說法是設(shè)計(jì)出來的芯片面積就越小,芯片的價(jià)格就越便宜。當(dāng)然這是在只考慮生產(chǎn)成本,不考慮NRE費(fèi)用的前提下。


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            ▲ 圖二 NVIDIA GTX580(40nm工藝) 與 GTX680(28nm工藝)的對(duì)比

            從圖二,我們看到Geforce GTX 680雖然晶體管數(shù)目比GTX 580多,但是芯片面積卻只有后者的一半多一點(diǎn),這就是從40nm制程工藝進(jìn)化到28nm的好處。

            有一個(gè)例外是DRAM 電路,在DRAM存儲(chǔ)單元中,該特征尺寸不是指柵寬,而是指金屬連線所允許的最小間距的一半。概括來說,它描述了該工藝代下加工尺寸的精確度。它并非一定指半導(dǎo)體器件中某一具體結(jié)構(gòu)的特征尺寸,而是一類可以反映出加工精度的尺寸的平均值。它最直觀地反映出:集成電路通過微電子制造工藝加工生產(chǎn)能達(dá)到更大的集成密度。

            02 工藝節(jié)點(diǎn)進(jìn)步可帶來功耗進(jìn)一步減少

            工藝節(jié)點(diǎn)的進(jìn)步也帶來了理論上功耗的降低。因?yàn)榫w管縮小可以降低單個(gè)晶體管的功耗,因?yàn)榘凑盏缺壤s小的規(guī)則,柵壓(Vds)會(huì)減小,柵壓減小會(huì)降低整體芯片的供電電壓,進(jìn)而降低功耗。

            但是從物理原理上說,隨著工藝節(jié)點(diǎn)的進(jìn)步芯片的單位面積功耗并不跟著降低。因此這成為了晶體管縮小的一個(gè)嚴(yán)重障礙,因?yàn)槔碚撋系挠?jì)算是理想情況,實(shí)際上,芯片的功耗會(huì)隨著集成度的提高而提高。在2000年左右的時(shí)候,人們已經(jīng)預(yù)測,根據(jù)摩爾定律的發(fā)展(晶體管)繼續(xù)縮小下去,假如沒有什么技術(shù)進(jìn)步的話,10多年后,其功耗密度可以達(dá)到火箭發(fā)動(dòng)機(jī)的水平,這樣的芯片是不可能正常工作的。即使達(dá)不到這個(gè)水平,溫度太高也會(huì)影響晶體管的性能。

            事實(shí)上,業(yè)界現(xiàn)在也沒有找到真正徹底解決晶體管功耗問題的方案,現(xiàn)在的做法是一方面降低電壓(功耗與電壓的平方成正比),一方面不再追求時(shí)鐘頻率。因此在2005年以后,CPU頻率不再增長,性能的提升主要依靠多核架構(gòu)。這個(gè)被稱作“功耗墻”?!肮膲Α钡拇嬖谑沟镁w管的縮小不能再任意下去。

            03 半導(dǎo)體制造對(duì)工藝節(jié)點(diǎn)的影響

            在微米時(shí)代,工藝節(jié)點(diǎn)可以看作是與晶體管的柵寬(溝道長度)劃等號(hào)。工藝節(jié)點(diǎn)的數(shù)字越小,溝道長度也越小,晶體管的尺寸也越小。但是在22nm節(jié)點(diǎn)之后,情況有了變化。晶體管的實(shí)際尺寸,或者說溝道的實(shí)際長度,不一定與這個(gè)節(jié)點(diǎn)相等。比方說,英特爾的14nm工藝的晶體管,溝道長度其實(shí)是20nm。這是為什么呢?

            這要從硅原子談起。硅原子直徑是納米級(jí)的,硅原子半徑為110皮米,也就是0.11納米,直徑0.22nm。如果把晶體管的溝道縮小到10nm,就意味著大約是45個(gè)硅原子排在一起的長度(不考慮原子間距的情況下),這時(shí)在經(jīng)典物理理論下的晶體管的電流模型已不再適用。用經(jīng)典的電流理論計(jì)算電子的傳輸,電子在分布確定之后,仍然被當(dāng)作一個(gè)粒子來對(duì)待,而不考慮它的量子效應(yīng)。因?yàn)槌叽绱蟛恍枰5窃叫【筒恍辛?,就需要考慮它的各種復(fù)雜的物理效應(yīng)。

            其次,一種叫做“短溝道效應(yīng)”的現(xiàn)象也會(huì)對(duì)晶體管的性能帶來影響,“短溝道效應(yīng)”帶來的直接損害是柵極電壓不能有效關(guān)閉晶體管,導(dǎo)致漏電流產(chǎn)生,浪費(fèi)大量功耗。這部分漏電不能小看,“短溝道效應(yīng)”引起的這部分漏電流導(dǎo)致的能耗,可以占到總能耗的一半。

            另一個(gè)制造工藝的極限是由制造設(shè)備帶來的,具體來說就是光刻機(jī)的分辨率制約。光刻機(jī)的分辨率與光源有關(guān)系,光源的聚焦性能越好,分辨率越高,能夠刻出的線條就越細(xì)。在250nm工藝以前的光刻工藝使用的是汞燈光源,為了提高分辨率,從180nm開始采用波長為248nm的KrF激光作為曝光光源,130nm和90nm工藝采用波長為193nm的ArF激光光源,從65nm工藝開始采用波長更短的激光光源。


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