解讀FPGA電容在線測試系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)方案
PCB在焊接完成后,需要對其元器件進(jìn)行測試,傳統(tǒng)的方法是將其焊離PCB板后測試,但該方法不僅 麻煩、效率低,并且容易損傷電路板而極不實(shí)用;另一方法就是人工結(jié)合機(jī)器進(jìn)行測試,但這需要測試人員有一定的經(jīng)驗(yàn),也給測試帶來了一定的不確定性,使得測 試結(jié)果的精準(zhǔn)度無法達(dá)到現(xiàn)代電路板的可靠性要求。所以,本文研究了一種可行的、簡單實(shí)用及高精度的電容在線測試電路。另外,隨著EDA技術(shù)的快速發(fā) 展,FPGA以其高集成度、高可靠性及靈活性等特點(diǎn)正在快速成為數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)平臺,在多種領(lǐng)域都有非常廣闊的應(yīng)用前景。本設(shè)計(jì)結(jié)合上述兩特點(diǎn),設(shè)計(jì)了一種 基于向FPGA內(nèi)植入Nios II嵌入式軟核作為控制器的電容在線測試電路。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201710/369310.htm測試原理
在線測試的基本思想是應(yīng)用電氣隔離技術(shù),將被測元器件在電氣上和與其相連的元件隔離,進(jìn)而一一檢測PCB板上的每一個(gè)元件。隔離方法如圖1所示。設(shè)待測元件為Zx,周圍與之相連的元件阻抗等效為Z1、Z2,并將其另一端與測試電路同地。因?yàn)檫\(yùn) 放正向輸入端接地,根據(jù)“虛地”原則,Z2兩端等電位,都為地,即Z2被隔離;另外Vi為理想電壓源時(shí),內(nèi)阻為零,Z1可視為電壓源的輸出負(fù)載,不影響 Zx上電壓降,即Z1也被隔離??梢姡灰_定輸入,測得輸出結(jié)果,就可計(jì)算出被測元件的大小。
信號源電路
電容測試需要在測試電路輸入端加交流信號,并且要求頻率可調(diào)。本文采用DDS專用芯片AD9850進(jìn)行交流信號源的設(shè)計(jì)。AD9850內(nèi)部有40位控制字,其中32位用于頻率控制,5位用于相位控制,1位用于電源休眠控制,2位用于選擇工作方式。這40位控制字可以通過并行或串行方式接入到控制器FPGA,本文采用串行裝載控制字,以節(jié)約I/O口,圖3為控制字的串行加載時(shí)序圖。
串行輸入方式,在W_CLK上升沿把數(shù)據(jù)位D7的一位數(shù)據(jù)串行輸入,當(dāng)輸入40位后,用一個(gè)FQ_UD脈沖即可更新輸出頻率和相位。圖4為DDS硬件電路圖。
其中,D0~D7為八位數(shù)據(jù)輸入端口,給內(nèi)部寄存器裝入40位控制數(shù)據(jù),本文采用串行輸入,所以只 用到D7位與FPGA相連;CLKIN為外部參考時(shí)鐘輸入,本設(shè)計(jì)采用100M外部時(shí)鐘輸入;W_CLK為字輸入信號,上升沿有效;FQ_UD為頻率更新 控制信號,時(shí)鐘上升沿確認(rèn)輸入數(shù)據(jù)有效;VINP和VINN分別為內(nèi)部比較器的正負(fù)輸入端;IOUT為內(nèi)部DAC輸出端;IOUTB為“互補(bǔ)”DAC輸出 端;AVDD和DVDD采用+5V供電。IOUT輸出信號經(jīng)過濾波器后作為測試電路的激勵(lì)信號。
通過上述實(shí)測值與標(biāo)準(zhǔn)值的比較可以看出本文設(shè)計(jì)的由FPGA控制的電容在線測試系統(tǒng)具有多量程自動(dòng)選擇,測試精度高,使用方便等特點(diǎn),測試范圍達(dá)到0.01μF~3μF.經(jīng)理論分析和試驗(yàn)證明,該設(shè)計(jì)具有很強(qiáng)的實(shí)用性和可靠性。
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