已安裝的電信設(shè)備的自動(dòng)校準(zhǔn)5G NR ATE系統(tǒng)/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試

圖8是同時(shí)測(cè)量多端口DIB/DUT輸入/輸出以完成自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量流程的簡(jiǎn)化框圖。CPS被設(shè)置成4通道模式，每個(gè)獨(dú)立采樣的ADC通道最大支持1.6 Gsps的采樣率。多端口DIB/DUT也可代表已安裝的電信系統(tǒng)的測(cè)試/測(cè)量點(diǎn)。在4通道模式下，ADC(A, B, C, D)同時(shí)測(cè)量DIB/DUT或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)的RF吞吐端口、端口1、端口2和RF輸出端口。這種配置可同時(shí)測(cè)量每個(gè)端口，數(shù)據(jù)可被用作“校準(zhǔn)誤差測(cè)量值”和/或“原始測(cè)試測(cè)量值”。最終的測(cè)試測(cè)量值可通過(guò)從原始測(cè)試測(cè)量值中減去端口校準(zhǔn)誤差得出。

此外，EV12AQ605包含一個(gè)“多ADC鏈?zhǔn)酵焦δ堋保蔀檫@種多端口測(cè)試測(cè)量帶來(lái)更大的設(shè)計(jì)靈活性。4個(gè)ADC核心的鏈?zhǔn)酵焦δ埽〞r(shí)鐘樹(shù)和數(shù)字復(fù)位）可自動(dòng)調(diào)整多個(gè)ADC的采樣時(shí)序/相位并重對(duì)齊，支持實(shí)時(shí)測(cè)量修正。ADC的鏈?zhǔn)酵焦δ苁惯@一4通道系統(tǒng)可被擴(kuò)展為8, 12, 16或更多通道的系統(tǒng)。

圖8 簡(jiǎn)化框圖：同時(shí)多端口自動(dòng)校準(zhǔn)誤差測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量

獨(dú)特的帶CPS的四通道ADC(EV12AQ605和EV10AQ190)為5G NR ATE系統(tǒng)和電信設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試加入自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試和測(cè)量的功能

EV12AQ605是一款四通道12位1.6 Gsps的ADC。內(nèi)置的交叉點(diǎn)開(kāi)關(guān)(CPS)可切換多個(gè)工作模式，從而交織4個(gè)獨(dú)立的核心實(shí)現(xiàn)更高的采樣率。在4通道工作模式下，4個(gè)核心可以1.6 Gsps的采樣率同相位采樣4個(gè)獨(dú)立的輸入。在2通道工作模式下，核心可兩兩交織，實(shí)現(xiàn)每個(gè)輸入端3.2 Gsps的采樣率。在1通道模式下，單個(gè)輸入連接到交織的4個(gè)核心，實(shí)現(xiàn)6.4 Gsps的采樣率。這種高度的靈活性使用戶(hù)可在3.2 GHz的瞬時(shí)帶寬內(nèi)實(shí)現(xiàn)RF（和IF）的數(shù)字化。EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過(guò)6 GHz(EFPBW)，允許C波段(4-8 GHz)的信號(hào)直接采樣，無(wú)需使用下變頻器將信號(hào)轉(zhuǎn)換到基帶。這款A(yù)DC包含多個(gè)ADC鏈?zhǔn)酵降墓δ?，可用于多通道系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。它的封裝是使用HiTCE玻璃陶瓷材料的非密封型倒裝封裝，可優(yōu)化RF性能，支持較高的管腳密度。

與本文介紹的主題相關(guān)的一個(gè)重要的性能指標(biāo)是通道間隔離度或串?dāng)_。大的串?dāng)_會(huì)給ADC增加額外的誤差并影響結(jié)果?？梢酝ㄟ^(guò)與其他噪聲源類(lèi)似的自動(dòng)校準(zhǔn)的流程修正這種誤差。圖10表明，EV12AQ605擁有世界領(lǐng)先的串?dāng)_性能，其引入的額外噪聲影響不大。

圖9: EV12AQ605框圖

EV10AQ190是類(lèi)似的早期的10 bit的ADC版本，也集成了交叉點(diǎn)開(kāi)關(guān)。兩者的性能概述請(qǐng)參考下表：

圖10: EV12AQ605的串?dāng)_性能

結(jié)論

隨著5G NR網(wǎng)絡(luò)在世界范圍的普及，高頻器件的自動(dòng)/校準(zhǔn)高速測(cè)量是一個(gè)關(guān)鍵的問(wèn)題。校準(zhǔn)、可重復(fù)性和測(cè)量值的相互關(guān)聯(lián)是5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些問(wèn)題和總體測(cè)試速度以及吞吐量直接關(guān)聯(lián)，影響解決方案的效率和性能。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC使用非并行的片上高頻交叉點(diǎn)開(kāi)關(guān)輸入電路技術(shù)，在5G NR ATE和/或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境中為器件（單個(gè)或多端口）的測(cè)試提供自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量的解決方案。

Marc Stackler,銷(xiāo)售和應(yīng)用工程師, APAC半導(dǎo)體

Yuki Chan,營(yíng)銷(xiāo)傳播經(jīng)理, APAC