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          ADC前端設(shè)計科普貼——ADC采樣前端模型初探

          作者:世健Wolfe Yu 時間:2021-07-12 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏


          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202107/426834.htm

          前言

          在實際應(yīng)用中,經(jīng)常會出現(xiàn)無法達(dá)到標(biāo)稱精度的情況,而且還會出現(xiàn)波形嚴(yán)重失真的問題,這一現(xiàn)象長期困擾著我們的硬件工程師,那么,在實際的應(yīng)用中,為何會出現(xiàn)這種情況呢?

          筆者在這里通過一個實例和大家一起共同來探討 在應(yīng)用中可能會碰到的問題。

          案例分享

          日前,有客戶公司在用某ADC做AD轉(zhuǎn)換的時候,碰到這樣一個問題,客戶傳感器型號PT100,在采集信號時,輸入采樣端的波形如下:

          1626074068638366.png

          我們首先假定這是一個直流,拋開交流耦合等因素,單從這個采樣波形來看,采樣端明顯是工作異常的。那么,為何會出現(xiàn)這種情況呢?

          ADC模型初探

          我們先來大致解剖一下 ADC電路參考模型及其驅(qū)動電路,通過這個模型來跟大家共同來探討一番,為了便于做定量分析,我們在文中插入一些公式,供大家參考。

          1626074088443647.png

          為了更加直觀,我們刪繁就簡,重新整理這個電路,單看輸入、采樣端的電路模型,大致如下:

          1626074105875618.png

          為了簡化設(shè)計,我們假設(shè)輸入電壓近似于一個直流電源,拋開耦合因素,輸入內(nèi)阻遠(yuǎn)大于采樣電阻,Rin>>Rsh,輸入電容和采樣電容之間的關(guān)系用a來表示:

          image.png

          初始狀態(tài),相對來說Vin向Cin充電相對較小,主要看Cin向Csh充電過程,我們構(gòu)建電路模型如下圖所示:

          image.png

          根據(jù)以上模型,可以大致推導(dǎo)出第1階段輸入電壓和采樣電壓對應(yīng)方程,以及采樣電容充電時間關(guān)系。

          1626074147387706.png

          當(dāng)Csh電壓迅速上升到與Cin相當(dāng)之后,我們忽略Rsh對電路的影響,我們重新構(gòu)建第2階段電路模型如下。

          image.png

          此時,等效電容為輸入電容和采樣電容并聯(lián),根據(jù)以上模型,可以大致推導(dǎo)出輸入電壓和采樣電壓對應(yīng)方程如下:

          image.png

          此時,根據(jù)等效模型,我們可以推導(dǎo)出正常狀態(tài)下:

          1626074187134253.png

          由此,我們可以畫出采樣端波形大致如下:

          1626074205208500.png

          根據(jù)ADC內(nèi)部結(jié)構(gòu)和,我們可以很輕松的推導(dǎo)出,第二階段的時間遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于第一階段的時間,同時,我們也可以推導(dǎo)出,采樣時間和輸入電阻必須滿足:

          1626074221950940.png

          按照正常采樣,第二階段采樣時間必須要滿足輸入電阻、輸入電容和采樣電容并聯(lián)的乘積關(guān)系。如果采樣不足,又會出現(xiàn)怎樣的情況呢?在采樣開關(guān)斷開之后,采樣保持階段,由于Cx變小,輸入電容充電速度明顯加快,此時,Csh電壓幾乎不變,大致波形應(yīng)如下(具體推導(dǎo)公式不再列出):

          image.png

          結(jié)合該客戶反饋的測試結(jié)果,我們大致判斷出,客戶這個問題是由于在未達(dá)到采樣條件時就開始進(jìn)行ADC采樣并轉(zhuǎn)換引起。

          解決方案

          結(jié)合上述電路模型及其推導(dǎo)公式,我們該如何解決此類問題呢?我們給出三種建議:

          A.延遲采樣時間;

          B.加大輸入電容;

          C.增加驅(qū)動電路,重構(gòu)輸入阻抗。

          實施細(xì)節(jié)

          一、延遲采樣,增加采樣周期

          這一點(diǎn)不難理解,只要采樣速率沒有要求,理論上來說,增加采樣周期,完成ADC轉(zhuǎn)換完全沒問題,本文不做重點(diǎn)講解。

          二、加大輸入電容

          我們在很多ADC采樣場合都看到ADC輸入有一個電容,如果我們設(shè)定Rin非常小,忽略不計,那么這個電容有何作用呢?本文中,我們有一個推導(dǎo)公式:

          image.png

          由于在每個采樣周期內(nèi),輸入電容和采樣電容的電壓值都會相對固定,如果我們通過調(diào)整輸入輸入電容和采樣電容的比值來調(diào)整第一階段的快速充電時間,這似乎不失為一個好辦法。

          但是,當(dāng)輸入電源發(fā)生變化的時候,由于采樣電容吸收能力有限,采樣端輸入電容泄放又會遇到新的難題。同時,對于高頻信號來說,電容越大,等效阻抗會更小。

          所以,在采樣端引入輸入電容的時候,我們需要非常謹(jǐn)慎,這個電容大多數(shù)是用來做高頻分量濾波用的。

          三、增加驅(qū)動能力,重構(gòu)輸入阻抗

          我們再回到第2階段采樣時間這個公式:

          image.png

          如果我們能夠降低輸入阻抗,就會大大縮短采樣時間,目前增加驅(qū)動有兩種主流方法:

          第一種是用變壓器來做驅(qū)動電路,這個方法有一個弱點(diǎn),只能針對交流信號,對工作頻率有要求,需要做匹配設(shè)計。

          另一種方法是用運(yùn)放做跟隨器,這樣可以大大降低信號端的內(nèi)阻,大多數(shù)模擬都采用這種方法來做前端設(shè)計。

          image.png

          經(jīng)過和客戶確認(rèn),客戶后來采用運(yùn)放做跟隨驅(qū)動的方法,重新測試一版,測試采樣端波形如下圖,從硬件電路來看,應(yīng)該找到問題所在,目前還在驗證中。

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          Microchip ADC介紹

          針對傳感器市場,Microchip推出多種Delta-Sigma ADC,可以滿足多種不同應(yīng)用需求,特別是這么缺貨的年代,

          MCP356X簡介:

          24 bits Delta-Sigma ADC

          153.6 kSPS @ 16 bits,19.2 kSPS @ 24 bits

          OSR Rang:32-98034

          VREF  External VREF rang:0.1V-AVDD

          Clock Internal or External

          RMS Effective Resolution: Up to 23.3 bits

          Power Consumption:0.8-2 Ma

          Package:UQFN-20

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          同時,Microchip也有多種運(yùn)算放大器可以用來做前端設(shè)計,供大家選擇。



          關(guān)鍵詞: ADC 前端

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