語音模組重啟及聲音輸出異常淺析
1 語音模組簡介
基于語音識別技術(shù)的語音模組主要包括語音識別芯片和其他外圍電路,開發(fā)者將模塊嵌入到產(chǎn)品內(nèi)以實現(xiàn)人機(jī)語音交互目的。
圖1 音色變化對比圖
2 相關(guān)背景
應(yīng)用在金貝高端柜機(jī)的語音模組是實現(xiàn)人機(jī)交互的重要部件,截止目前共經(jīng)過兩次結(jié)構(gòu)更改,編碼由300 072 000 001 變?yōu)?40 147 060 006, 再變?yōu)?40 147 060 009。本次更改為模組結(jié)構(gòu)更改,由于語音模組硬件因質(zhì)量問題比較突出和主控芯片停產(chǎn),重新設(shè)計新平臺以解決目前的質(zhì)量和資源問題。新平臺MCU集成度較老平臺高,可降低模塊整體元器件用量,提高模塊整體可靠性。自切換新模組以來,出現(xiàn)了兩類問題影響用戶體驗:模組重啟以及聲音信號輸出異常。
圖2 內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖
3 原因分析
3.1 音色變化失效機(jī)理分析
1)故障模組在正常通電3 min 以上異常即可復(fù)現(xiàn)故障,斷電后重新上電故障現(xiàn)象消失,通電一段時間后再次復(fù)現(xiàn)故障,如此反復(fù),可正常執(zhí)行指令,功能無異常,僅音色發(fā)生變化;
2)40 倍放大鏡下檢查外觀未發(fā)現(xiàn)器件焊接、破損等裝配異常;
3)測量系統(tǒng)供電、整機(jī)電流均正常;
4)正常工作狀態(tài)下,芯片DAC 輸出波形正常,音色變化時,DAC 輸出波形已出現(xiàn)明顯可見噪聲,至此鎖定為主控問題(如圖1)。
5)將不良模組配置Logic 電壓,降頻試驗;
①VDD_LOG@0.95 V,CLK_12S_FRAC_IN=1.2G,播放4 h 音色變化(原不良模組默認(rèn)配置)
② VDD_LOG@0.975 V,CLK_12S_FRAC_IN=1.2G,播報72 h 音色無變化(抬高電壓)
③ VDD_LOG@0.95 V,CLK_12S_FRAC_IN=600M,播報72 h 音色無變化(降頻)
結(jié)論:芯片存在“正太分布”,IC 內(nèi)部有“自適應(yīng)”電壓機(jī)制,屬于AP 型行業(yè)內(nèi)做法,對于分布在一般性能的IC,VDD_LOG 電壓適配在1.05 V,對于分布在高性能的IC,VDD_LOG 電壓適配在0.95 V,在12S_IN時時鐘頻率在1.2 GHz 狀態(tài)下,電壓margin 不足導(dǎo)致音頻信號失真。
3.2 不定時重啟失效機(jī)理分析
使用串口調(diào)試工具對模塊內(nèi)部程序進(jìn)行讀取未發(fā)現(xiàn)異常,說明程序并未被篡改。
1)故障模組在通電后可正常執(zhí)行指令,功能無異常,最短復(fù)現(xiàn)時間為5 min,沒有喚醒指令的出現(xiàn)重啟現(xiàn)象,重啟時模組的指示燈熄滅,1 s 后自動上電,重新播放歡迎詞,模組可正常被喚醒并執(zhí)行指令;
2)40 倍放大鏡下檢查外觀未發(fā)現(xiàn)器件焊接、破損等裝配異常;
3)測量系統(tǒng)供電、整機(jī)電流均正常,重啟時電壓、電流瞬間歸零,重啟后恢復(fù)正常;
4)上電測試PMU 電壓及系統(tǒng)供電電壓正常,串口抓重啟現(xiàn)象發(fā)生時的系統(tǒng)運行狀態(tài)LOG 信息,發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤導(dǎo)致重啟;
5)更換故障品上的DDR 芯片,通電一段時間仍會出現(xiàn)重啟現(xiàn)象,將故障品換下的DDR 芯片換在合格品上,通電36h 未復(fù)現(xiàn)故障,排除DDR 內(nèi)存問題;
6)更換故障品上的MCU 主控芯片,通電36 h 未出現(xiàn)重啟現(xiàn)象,將故障品換下的MCU 主控芯片換在合格品上,通電2 min 復(fù)現(xiàn)故障,鎖定故障位置為MCU主控芯片;
7)讀取MCU 主控芯片內(nèi)程序,發(fā)現(xiàn)模組子程序調(diào)取錯誤,對MCU 主控芯片內(nèi)程序擦除重新燒錄,通電36 h 未出現(xiàn)重啟現(xiàn)象。
結(jié)論:主控程序燒錄未防錯,錯誤子程序被正常燒錄在主控芯片內(nèi),系統(tǒng)運行時發(fā)生錯誤致使模組重啟復(fù)位。
圖3 模塊篩選軟件界面
4 后續(xù)整改措施
4.1 限制VDD_LOG的最低電壓為1.05 V
VDD-LOG 電壓由PMU 供給RK3229,包括內(nèi)部CODEC。更改I2C 數(shù)據(jù)可以修改輸出電壓值。故障樣機(jī)VDD-LOG=0.95 V,I2S-FRAC-IN=1.2 GHz, 揚聲器在一定時間后出現(xiàn)沙沙聲。抬高VDD-LOG 電壓值,由0.95 V 抬高到0.975 V,可解決音色變化問題,gpu dvfs 可以vdd_logic 最低電壓限制在1.05 V,遂將電壓設(shè)置在1.05 V 留足安全余量設(shè)置(如圖2)。
4.2 將CLK_12S_FRAC_IN的時鐘源由1.2 GHz切換到600 MHz
1.2 GHz 分頻是:gpll_clk:1200m → i2s-frac:1200m → i2s_clk,導(dǎo)致i2s-frac 頻率太高。由于PLL 輸出到分頻單元的芯片設(shè)置為1.2 GHz 時處于超頻狀態(tài),因此提升VDD_LOG 電壓到1.05 V,使1.2 GHz 能夠工作。當(dāng)降低為600 MHz 時,由于頻率降低,在0.95 V 可以正常工作(如圖3)。
4.3 更換主控芯片品牌,保證音頻信號無干擾
SGM4890 輸出接地有2 個開關(guān),在上電時無法保證開關(guān)閉合,導(dǎo)致有電流流過揚聲器,影響音頻信號輸出,LM器件的開關(guān)強(qiáng)制接地,確保音頻信號不受干擾(如圖4 和圖5)。
4.4 避錯設(shè)計
不定時重啟的失效機(jī)理為軟件子程序調(diào)取燒錄錯誤,在燒錄時沒有設(shè)計避錯,糾正措施為設(shè)置燒錄工具防錯機(jī)制,每一個固件版本對應(yīng)唯一的版本號和MD5碼值,燒錄工具讀取固件時,必須輸入正確的MD5碼值,否則無法導(dǎo)入固件,同時工具會顯示版本號。
圖4 SGM4890(整改前)
5 整改效果
5.1 環(huán)境試驗
試驗條件:在溫度40±3 ℃,濕度93%±3% 的條件下通電8 h,結(jié)束后在常溫下恢復(fù)2 h;樣品不上電,在-35 ℃環(huán)境中放置1 h,取出后立刻放在40 ℃、濕度為93% 的環(huán)境中帶電運行3 h,試驗5 個循環(huán),在室溫下恢復(fù)2 h;按技術(shù)圖紙規(guī)定在上限溫度環(huán)境下帶電放置96 h,每4 h 查看一次運作是否正常。在常溫下恢復(fù)最少2 h;按技術(shù)圖紙規(guī)定在下限溫度環(huán)境下放置96 h,在低溫下通電2 h;在溫度為85 ℃,相對濕度為85% 的環(huán)境中,模塊帶電放置96 h;測試結(jié)果:模組外觀無異常,語音功能正常,各項參數(shù)測試符合圖紙要求。
5.2 模組應(yīng)用測試
試驗條件:系統(tǒng)啟動跑flash_stress_test,在固定的塊,BAC 分區(qū)反復(fù)讀寫,常溫狀態(tài)運行7 d;自動化重復(fù)錄音、播報3 d,連接PC 檢查錄音質(zhì)量;系統(tǒng)啟動自發(fā)自收,波特率設(shè)置為1.5 MHz,數(shù)據(jù)位8 位,停止位1 位,無奇偶驗證,硬件連接客戶產(chǎn)品,常溫測試7 d;常溫下運行語音應(yīng)用7 d,每天檢查1 次系統(tǒng)狀態(tài);85 ℃下運行語音應(yīng)用7 d,每天檢查一次系統(tǒng);重啟間隔5 min,試驗3 d,每天檢查1 次系統(tǒng)狀態(tài)。測試結(jié)果:Flash 可正??截愗?fù)載,觀察LED 狀態(tài),測試成功快速閃爍;音頻文件格式正確,錄音正常,播放正常,音質(zhì)不失真;使用UART 腳本測試,響應(yīng)時間小于1 s,無卡頓,查詢log 信息無重啟記錄。
5.3 模組穩(wěn)定性測試
試驗條件1:7 臺在線、7 臺離線,頻繁壓力測試,累計測試一周;藍(lán)牙推送音樂,IOS 和Android 各連續(xù)播放60 h;播放在線音樂、電臺各48 h。
試驗條件2:OTA 壓力測試30 次,OTA 時分布各種場景下的交互,過程不斷電,檢查userdata 可用空間是否異常變化;頻繁禁止、恢復(fù)語音功能50 次;頻繁進(jìn)入推出廠測50 次;手機(jī)播放藍(lán)牙設(shè)備,手機(jī)關(guān)閉藍(lán)牙與語音關(guān)閉藍(lán)牙各50 次。
測試結(jié)果:CPU 可正常負(fù)載,模組可正常交互,無卡頓,模組指示燈1 個常亮,1 個閃爍,查詢log 信息無重啟記錄。
圖5 LM4890(整改后)
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(本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年6月期)
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