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          TI:以太空強化型塑料裝置因應低軌道衛(wèi)星應用挑戰(zhàn)

          作者: 時間:2022-10-06 來源: 收藏

          新興的太空市場中,近年大量低地球軌道 (LEO) 衛(wèi)星的發(fā)射令人振奮,這些衛(wèi)星體積小、成本合理,能夠耐輻射并且非??煽?。這些衛(wèi)星可以對全世界擴展通訊和聯(lián)機。不同于傳統(tǒng)的衛(wèi)星市場,大多數(shù)任務都在距離地球 22,236 英哩的地球同步軌道上,預計將持續(xù) 10 年以上,LEO 衛(wèi)星的軌道距離地球更近,不超過 1,300 英哩。由于這些衛(wèi)星相對容易替換,因此任務壽命通常不到七年。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202210/438808.htm

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          裝置將有助于因應低地球軌道應用的挑戰(zhàn)


          LEO 衛(wèi)星電子設計必須同時滿足嚴格的預算并保持競爭力,因此面臨的的主要挑戰(zhàn)包括:
          ?使用體積更小、整合度更高的組件來縮小電路板尺寸。
          ?尋找交貨時間短的裝置進行快速設計。
          ?采用能夠承受太空嚴苛條件的電子組件。
          對于剛接觸太空市場的設計師來說,為地面市場設計的產(chǎn)品無法解決太空中的特定挑戰(zhàn),其中包括:
          ?輻射性能。
          ?控制商業(yè)現(xiàn)貨 (COTS) 裝置中常見的制程和材料變化。
          ?衛(wèi)星環(huán)繞地球時,熱循環(huán)會經(jīng)歷極端的溫度波動。
          ?將非密封的塑料包裝釋氣。
          (EP) 認證程序能夠解決這些挑戰(zhàn),而且能消除有時用于這個市場的高風險和資源密集型篩檢方法。篩檢是對零件進行電氣或環(huán)境測試而在產(chǎn)品規(guī)格表規(guī)格之外使用的做法。雖然篩檢有助于對裝置的太空性能進行分類,不過仍然存在許多風險,而且,如果不完全了解裝置的「原理」以及測試向量,這可能會導致現(xiàn)場故障,而且衛(wèi)星將在任務期間出現(xiàn)錯誤的安全感。
          耐輻射塑料裝置如何降低風險
          的認證太空產(chǎn)品可供設計人員和組件工程師設計和驗證自己的電路板,完全不需要顧慮衛(wèi)星在 LEO 太空環(huán)境中的具體考慮因素。太空 EP 產(chǎn)品因應的一些考慮因素包括:
          ?受控制的基準流程: 在單一制造設施、組裝地點和測試地點制造每個太空 EP 裝置,藉以控制材料組、輻射容限和電氣規(guī)格之間的現(xiàn)場差異。
          ?輻射批次驗收測試。太空 EP 裝置至少要對每個晶圓批次的總游離劑量 (TID) 保證進行測試,藉以確實達到 20 krad (Si),對能夠滿足更高 TID 等級的裝置進行更高等級的測試,藉此消除批次間輻射變化的任何風險。在額外輻射性能的鑒定期間,這些裝置的一般表征是 30 至 50-krad (Si) TID。(對于需要更高等級 TID 性能的計劃,TI 的傳統(tǒng) QMLV 空間產(chǎn)品通常額定為 100 krad (Si) 或更高。)
          ?金線:太空 EP 裝置僅使用金鍵合線,在更嚴格的容差要求下消除銅可能出現(xiàn)的鍵合完整性和可靠性問題。
          ?沒有錫須的風險:由于太空的嚴苛條件,即使使用保形涂層,錫須也是一大問題。為了避免這種風險,太空 EP 產(chǎn)品不使用錫含量高的端子。飾面則是鎳鈀金或 63% 錫/37% 鉛。
          ?擴大的溫度范圍:太空環(huán)境通常需要 -55℃至125℃的溫度容差。促使太空 EP 零件符合此溫度范圍的要求,就完全不需要為擴展的溫度范圍進行篩檢,這將導致 TI 的保固失效,并且可能損害飛航中使用的裝置。
          ?嚴苛環(huán)境鑒定:由于擴展的高加速應力測試、每個裝置上的溫度循環(huán)和強化的材料集,太空 EP 產(chǎn)品獲得太空環(huán)境的流程有關的附加功能,藉以滿足 NASA 推動的美國測試和材料協(xié)會 E-495 釋氣規(guī)格。
          加快發(fā)布時程
          TI 太空 EP 裝置的質(zhì)量和可靠性有助于設計人員加速洗板和驗證新設計。在 TI.com 上的裝置產(chǎn)品文件夾中,提供針對 LEO 要求進行優(yōu)化的裝置有關的所有輻射數(shù)據(jù),以及釋氣數(shù)據(jù)和可靠性報告。使用TI的詳細報告可以節(jié)省大量成本,因為在 LEO 衛(wèi)星應用中使用 COTS 產(chǎn)品時,對于輻射測試、篩檢和低產(chǎn)量方面進行大量投資。TI的報告包括:
          ?針對 TID 提供的輻射報告,其中包括 30-50 krad (Si) 的表征資料和 20-50 krad (Si) 的抗輻射保證數(shù)據(jù)
          ?單一事件效應的輻射報告、43 MeVcm2/mg 的單一事件閂鎖報告以及電源管理產(chǎn)品的其他破壞性單一事件和單一事件瞬態(tài)表征。
          ?釋氣和可靠性報告,提供有關產(chǎn)品流程、可靠性數(shù)據(jù)、可追溯性和釋氣測試的信息。報告中的信息有助于加快電路板認證并減少對外部認證工作的需求,盡可能降低選擇新產(chǎn)品時的風險,并讓這些裝置從一開始就可以正常運作。
          嚴苛的太空環(huán)境需要更高等級的可靠性來確保系統(tǒng)的安全。使用太空 EP 裝置組合,為日后進行發(fā)布時,節(jié)省時間并降低風險。



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