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          關(guān)于鋁電解電容器腐蝕失效的研究進展

          作者:伍凡,劉想,馬義勛(珠海格力新元電子有限公司,廣東珠海 519000) 時間:2023-05-12 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
          編者按:總體概括了近些年鋁電解電容器的失效現(xiàn)象、機理研究及防止電解電容失效的一些重要措施。重點總結(jié)出了鋁電解電容器陽極腐蝕發(fā)生的原因,電化學腐蝕的機理、反應(yīng)過程及腐蝕表現(xiàn),將為以后研究陽極腐蝕的學者提供一定的參考。


          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202305/446536.htm

          0 引言

          鋁電解電容以其容量大、體積小、價格低等優(yōu)點已被廣泛應(yīng)用于各種電子線路中,大多應(yīng)用于低頻濾波、音頻耦合、隔直流、儲能等方面,是現(xiàn)在不可取代的重要電子元器件之一。并且隨著電子元器件的量產(chǎn)化,市場對電解電容的質(zhì)量和可靠性要求也越來越高。但據(jù)近幾年市場產(chǎn)品售后異常統(tǒng)計,質(zhì)量問題出現(xiàn)最多的還是電解電容鼓包失效的問題,其中多為400 V 以上高壓鋁電解電容產(chǎn)品失效。而一般在壽命實驗中,的失效模式大致可分為:漏液、產(chǎn)品開路失效、擊穿短路這幾種,其中絕大部分的均表現(xiàn)為陽極引出條因斷裂而開路、進而造成產(chǎn)品失效,其中中高壓的產(chǎn)品尤為明顯。王錫清[1]通過對不同廠家生產(chǎn)的電容分析,從X 射線透射均發(fā)現(xiàn)電容正極引出條均斷裂、只有負極引出條與引出端相連;從解刨芯子發(fā)現(xiàn)同樣是由于電容芯子正極鋁箔與正極引出條斷開并產(chǎn)生了大量泥狀物進而導致電容器開路失效。所謂陽極腐蝕,是指電容陽極引出條與蓋板組件相連接的鋁鉚釘逐漸被電化學腐蝕,從而導致產(chǎn)品失效的現(xiàn)象,一般有兩種斷裂位置,一種是陽極引出條斷裂,另一種是引出端鉚接部位斷開,如圖1 所示。故本文章的目的在于總結(jié)鋁電解電容發(fā)生腐蝕的原因,為防止電解電容腐蝕提供方法和改善途徑。

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          圖1 電解電容內(nèi)部腐蝕圖

          1 陽極腐蝕發(fā)生的原因

          本章節(jié)通過對以往學者的研究內(nèi)容分析,詳細總結(jié)了雜質(zhì)離子對的危害,雜質(zhì)離子的來源,如果更好的避免生產(chǎn)制造中人為帶入氯離子的污染以及通過改善電容的存放環(huán)境和使用條件來降低雜質(zhì)離子對電容的不良影響這幾個方面的內(nèi)容。

          1.1 雜質(zhì)離子對的危害

          對鋁電解電容器有害的雜質(zhì)離子有Cl-、SO42-、Cu2+、Fe3+等,在電容器內(nèi)如沾有重金屬旁子Cu2+、Fe3+會導致閃火電壓下降,漏電流上升,電容器發(fā)熱產(chǎn)生熱擊穿或使引出片熔融。SO42-在電場作用下移向陽極也會在鋁箔表面上形成腐蝕的多孔膜,但影響不如Cl-嚴重。其實在生產(chǎn)過程中最有危害的是Cl-,因為Cl-存在比較普遍,比如在汗水、頭屑和塵埃中都有存在。而且它不僅腐蝕鋁,還能破壞氧化膜。Al2O3 膜一旦被破壞就會引起局部電流上升、發(fā)熱量大增,高溫也會加速陽極引出條的斷裂速度,從而影響電容的使用壽命。在此化學反應(yīng)過程中會附加產(chǎn)生氫氣,造成電容內(nèi)壓上升,嚴重情況還會發(fā)生電容鼓底爆炸現(xiàn)象。

          1.2 原材料的品質(zhì)對電容質(zhì)量的影響

          產(chǎn)品的質(zhì)量與原材料的品質(zhì)息息相關(guān),所以要嚴格控制原材料的廠家選用與入庫檢測環(huán)節(jié)。鋁電解電容器結(jié)構(gòu)是以鋁化成箔為陽極、吸附電解液的電解質(zhì)和負極箔為陰極,配合蓋板、鋁殼、引出線、膠塞等材料組合而成,如圖2 所示。陳中煒等[2]從鋁電解電容的組成結(jié)構(gòu)分析,提出蓋板、鋁殼、鋁箔、電解紙、電解液、引出條等材料的質(zhì)量、制作工藝水平及純度對電容器氯離子是否超標有至關(guān)重要的作用。要仔細選擇純度較高、含氯離子雜質(zhì)較少的原材料。比如選擇添加緩蝕劑的電解液、經(jīng)過高壓化成處理的陽極引出條等等。下面重點說明了蓋板、密封膠塞、電解液對陽極腐蝕的影響。

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          圖2 鋁電解電容器結(jié)構(gòu)圖

          2.2.1 蓋板對陽極腐蝕的影響

          電容在工作中,蓋板中氯離子等雜質(zhì)離子會游離出來,向陽極引條移動,從而破壞陽極引條引起陽極腐蝕。朱緒飛等[3] 對蓋板及鉚釘做預處理工藝試驗驗證,利用配制的乙二醇+ 硼酸+ 防腐蝕劑+ 磷酸二氫銨清洗液提前處理蓋板并與未用清洗液處理的蓋板做了壽命實驗驗證,證明了加入腐蝕阻止劑提前處理蓋板可有效減少電容器陽極鉚釘?shù)母g。朱緒飛等[4] 幾年后又對比分析了蓋板在不同條件下的陽極腐蝕情況:針對相同蓋板,不同電解液的陽極腐蝕先后次序不同,結(jié)果是,含水電解液腐蝕速度最快,非水系電解液較含水系電解液的腐蝕速度慢,無機酸鹽的腐蝕速度更慢;徐榮等人[5] 提出一種新型的鋁電解電容器蓋板改變蓋板本體的結(jié)構(gòu),在蓋板本體下方設(shè)置有凸楞以削弱正負極間的電場強度及陽極腐蝕發(fā)生時產(chǎn)生的局部電場強度,阻止電場中被汽化的正負離子的擴散遷移,達到防止腐蝕發(fā)生的目的。所以,應(yīng)該選含有雜質(zhì)離子含量較少的蓋板,制作過程中也要注意封口工序,防止有害氣體從蓋板封口邊緣處以及鉚釘與膠皮之間滲透進入,可以考慮給電容器端面增加絕緣墊片或采用環(huán)氧樹脂封裝來阻止外界異物滲透,延緩腐蝕時間的建議。

          1.2.2 密封膠塞對陽極腐蝕的影響

          電容器密封橡膠的特性對電容器壽命有重要影響,而現(xiàn)有的鋁電解電容密封使用不同類型的橡膠材料,郭思琪等[6]研究了硅橡膠密封膠片(SR)、丁基橡膠密封膠片(IIR)、三元乙丙橡膠密封膠片(EPDM)耐洗板水性能、對氯的阻隔性及通過SEM 表征、熱重分析測試等發(fā)現(xiàn)由于EPDM 橡膠和IIR 橡膠結(jié)構(gòu)致密,有機溶劑在其內(nèi)部擴散緩慢,所以它們耐溶劑性要更優(yōu),而SR橡膠對洗板水中氯的阻隔性最差,所以它也會導致電容器的壽命較短。

          1.2.3 電解液對陽極腐蝕的影響

          電解液對鋁電解電容性能的影響至關(guān)重要。電解液影響主要有3 個方面的因素:①藥品的純度;②電解液中溶劑與溶質(zhì)的因素;③電解液與鋁箔的兼容性。王新龍等人[7]分析發(fā)現(xiàn)電解液中過多的水分易破壞氧化膜結(jié)構(gòu),過多的電極液易使最初的電化學腐蝕向純化學腐蝕轉(zhuǎn)移,加劇陽極腐蝕,還發(fā)現(xiàn)加入緩蝕劑可有效降低腐蝕速度,所以制作過程中應(yīng)減少芯子及電解液水分,電容芯包內(nèi)電解液含量不能太多,可以用甩干的辦法除去多余的電解液,電解液中也可加入無雜質(zhì)離子的緩蝕劑用于保護氧化膜。

          1.3 電解電容的生產(chǎn)對陽極腐蝕的影響

          鋁電解電容的生產(chǎn)流程大致分為原材料檢驗、裁切、釘接、卷繞、烘干、含浸、組立、套管、老化、分選、加工、包裝、出貨。由于制作工序繁多,所以鋁電解電容的制作工藝及每道制作工序的質(zhì)量把控對產(chǎn)品的質(zhì)量好壞影響極大,每個生產(chǎn)環(huán)節(jié)都可能存在由于生產(chǎn)員工操作不當引入雜質(zhì)離子污染產(chǎn)品,從而導致陽極腐蝕情況出現(xiàn),特別是前工序芯子未組立前的每道工序都極易帶入雜質(zhì)離子污染產(chǎn)品。何宵云等[8]對內(nèi)部生產(chǎn)環(huán)節(jié)可能引起產(chǎn)品腐蝕的誘因做了氯離子檢測及數(shù)據(jù)統(tǒng)計,發(fā)現(xiàn)人體中的汗液、唾液以及芯子從鉚卷后到裝配前未完全密封保存好引入的氯離子雜質(zhì)含量最高。所以為了減少氯離子污染途徑,需要做到落實原材料來料的氯離子含量檢測;嚴格控制生產(chǎn)過程中鉚卷、含浸、裝配工序的作業(yè)時間要求,減少芯子在空氣中裸露的時間;生產(chǎn)人員要嚴格按照規(guī)定穿戴凈化服、佩戴口罩、低氯乳膠手套并定期洗手和清理操作設(shè)備及產(chǎn)品周轉(zhuǎn)物品。

          1.4 電解電容的使用環(huán)境及貯存環(huán)境對陽極腐蝕的影響

          導致電解電容陽極腐蝕的外部因素也很多,比如在PCB電路板加工中可能洗板水(指電路板清洗劑)、助焊劑、密封膠等物質(zhì)中存在的大量鹵素及硫酸根離子、硝酸根離子等雜質(zhì),在長期使用后鹵素會滲入到電容器內(nèi)部也會對產(chǎn)品發(fā)生腐蝕。丁繼華等[9]通過對洗板水中的鹵素和硫含量分析,研究驗證洗板水中的雜質(zhì)離子是可以通過線路板接觸到電容器的表面并通過蓋板的焊針部位滲入到電容器的表面并通過蓋板的焊針部位滲入到電容器的內(nèi)部從而對產(chǎn)品內(nèi)在參數(shù)發(fā)生影響,當濃度達到一定量時,其對電容器內(nèi)部會造成不同程度的腐蝕。除此之外,鋁電解電容器的儲存環(huán)境也會影響它本身的性能。劉慧從等[10]發(fā)現(xiàn)鋁電解電容在濕熱環(huán)境下長期貯存,則陽極箔上的鋁氧化膜被腐蝕則進而造成電容器的電容量和漏電流增大,還會使金屬引腳出現(xiàn)腐蝕、橡膠塞長霉,所以電容器的貯存環(huán)境溫度對其外觀及電氣性能有很重要的影響。

          2 電化學腐蝕機理及腐蝕所需條件

          本章節(jié)簡單概括了雜質(zhì)離子的腐蝕機理及發(fā)生腐蝕所需的條件。

          2.1 鋁電解電容器陽極腐蝕的機理

          2.1.1 C1-對陽極腐蝕反應(yīng)機理

          對鋁的腐蝕:1683892649719737.png有附加產(chǎn)氫

          對氧化膜的腐蝕:1683892611123180.png

          并且氯離子的腐蝕是不消耗氧離子,氯離子的腐蝕作用可以不斷反復進行。他們最終的產(chǎn)物是白色或略綠色( 灰黃色) 的氫氧化鋁的堆積物及水。水分也是產(chǎn)生氯離子腐蝕的條件之一,也會加速氯離子的腐蝕。

          2.1.2 SO42-對陽極腐蝕的反應(yīng)機理

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          上述反應(yīng)釋放的硫酸根離子會繼續(xù)對鋁發(fā)生酸性腐蝕反應(yīng),同時破壞介質(zhì)氧化膜導致電容器漏電流不斷增大。

          2.2 發(fā)生氯離子腐蝕的條件

          沈行素等[11]提出鋁陽極引出片腐蝕屬局部腐蝕,也即局部氧化膜受到氯離子破壞引起的腐蝕。局部腐蝕在發(fā)生之前必先經(jīng)歷一個誘導期,誘導期內(nèi)電流保持較低水平、氧化膜沒有遭到破壞,此時在電場作用下在氧化膜缺陷處發(fā)生氯離子的富集過程,當氯離子達到一定的臨界含量時,該處氧化膜便會被強電場所擊穿,電流突然上升、該處氧化膜便以較大速度發(fā)展下去。項永金等[12]通過含氯腐蝕性氣體入侵試驗以及電容加入不同濃度氯離子溶液做壽命試驗驗證,發(fā)現(xiàn)陽極箔出現(xiàn)不同程度的腐蝕現(xiàn)象,說明氯離子要發(fā)生腐蝕必須要達到一定的濃度才能發(fā)生。所以綜合看出,陽極氯離子腐蝕需要的條件有,氯離子必須達到一定濃度,且在過酸或過堿的條件下才能與Al 或者Al2O3 反應(yīng),以及在高溫高壓條件下才容易發(fā)生。

          3 結(jié)束語

          鋁電解電容發(fā)生腐蝕的原因眾多,有原材料純度低對產(chǎn)品的污染,有內(nèi)部生產(chǎn)過程中人為引入的雜質(zhì)污染產(chǎn)品,也有電容使用及貯存環(huán)境不當引起的雜質(zhì)離子增多導致的,進而導致產(chǎn)品失效情況出現(xiàn)。所以,我們在以后的鋁電解電容生產(chǎn)及使用中應(yīng)該盡可能的避免雜質(zhì)離子對產(chǎn)品的危害,減少產(chǎn)品開路失效情況出現(xiàn)。

          參考文獻:

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          (本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2023年4月期)



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