如何評(píng)估驅(qū)動(dòng)芯片的模擬采樣精度
TI 針對(duì)新能源電驅(qū)應(yīng)用場(chǎng)景的明星產(chǎn)品有不帶 SPI接口的智能驅(qū)動(dòng)UCC21750-Q1系列和帶SPI接口的 ASILD功能安全驅(qū)動(dòng)UCC5880-Q1系列。UCC21750-Q1具有DESAT保護(hù)、內(nèi)置米勒鉗位、隔離采樣通道、針對(duì)短路過(guò)流故障的/FLT pin及針對(duì)供電電源的RDY pin輸出。UCC5880-Q1為TI的第二代功能安全柵極驅(qū)動(dòng)芯片,具有可調(diào)驅(qū)動(dòng)電流,豐富的診斷保護(hù)功能和優(yōu)異的魯棒性。UCC21750-Q1有一個(gè)隔離采樣通道,UCC5880-Q1具有兩個(gè)隔離采樣通道,可以用于采樣模組溫度,DC link電壓等應(yīng)用場(chǎng)景。本文主要介紹隔離驅(qū)動(dòng)芯片的采樣的應(yīng)用方法和精度分析。
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202312/453878.htm1. 隔離采樣通道介紹
驅(qū)動(dòng)的隔離采樣通道通常為模擬信號(hào)輸入,通過(guò)占空比信號(hào)或SPI輸出。對(duì)于non SPI的驅(qū)動(dòng)芯片如UCC21750-Q1系列來(lái)說(shuō),從AIN pin輸入0-4.5V的模擬信號(hào),通過(guò)APWM 輸出頻率為400kHz的PMW 信號(hào),其占空比反應(yīng)輸入的模擬值大小,可以直接接到MCU的I/O口進(jìn)行讀數(shù),也可以通過(guò)外接RC轉(zhuǎn)換成模擬值讀取,如下圖1所示。 對(duì)于UCC5880-Q1來(lái)說(shuō),在內(nèi)置ADC采樣后,除了通過(guò)DOUT pin占空比輸出外,用戶還可選擇通過(guò)SPI對(duì)采樣結(jié)果進(jìn)行讀數(shù),如下圖2所示。
圖1 UCC21750-Q1內(nèi)置隔離采樣通道示意圖
圖2 UCC5880-Q1內(nèi)置隔離采樣通道示意圖
2. 采樣偏置方式介紹
模擬采樣通道的偏置方式通常有電壓型和電流型兩種。使用電流型偏置的應(yīng)用場(chǎng)景主要為外置熱敏二極管類的場(chǎng)合,參考圖3所示。芯片內(nèi)部產(chǎn)生恒定的電流源流過(guò)功率模組的熱敏二極管產(chǎn)生壓降,根據(jù)熱敏二極管的V-T特性曲線(如圖4)反推當(dāng)前的溫度。
圖3 電流型偏置示意圖
圖4 熱敏電阻溫度特性曲線
電壓型偏置的應(yīng)用場(chǎng)景為母線電壓采樣或基于NTC或PTC 的溫度采樣。以母線電壓采樣為例,可以通過(guò)電阻網(wǎng)絡(luò)分壓將電壓采樣的范圍轉(zhuǎn)換到ADC輸入范圍。對(duì)UCC21750-Q1來(lái)說(shuō),內(nèi)部的偏置電流源不能關(guān)掉,所以分析結(jié)果時(shí)需要減去電流源在
上產(chǎn)生的壓降影響。而對(duì)UCC5880-Q1來(lái)說(shuō), 在使用電壓偏置時(shí),可以通過(guò)寄存器配置關(guān)掉內(nèi)置的偏置電流源。
圖5 電壓型偏置示意圖
3. 隔離采樣精度分析
如下圖6所示,隔離采樣中的誤差主要有以下三個(gè)主要來(lái)源:
· 信號(hào)源誤差
· AD轉(zhuǎn)換誤差
· MCU量化誤差
圖6 隔離采樣精度分析
第一部分信號(hào)源誤差主要指的是對(duì)被采樣信號(hào)產(chǎn)生的測(cè)量誤差,使用電流偏置型電路的需要考慮電流源大小的誤差,使用電壓型偏置電路的需要考慮分壓電阻網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)生的誤差。如果使用了驅(qū)動(dòng)芯片的VREF輸出進(jìn)行偏置,也同樣需要考慮偏置源VREF本身產(chǎn)生的誤差。
第二部分AD轉(zhuǎn)換誤差指驅(qū)動(dòng)芯片收到二次側(cè)的模擬信號(hào)輸入,轉(zhuǎn)換成占空比輸出產(chǎn)生的誤差。對(duì)UCC21750-Q1來(lái)說(shuō),這一誤差可以通過(guò)Datasheet的對(duì)應(yīng)電壓范圍的精度這個(gè)指標(biāo)得到。對(duì)UCC5880-Q1來(lái)說(shuō),在不同的輸入電壓范圍ADC精度的LSB不同,以電壓下 ADC精度worst case為例,采樣精度為,其中N為UCC5880-Q1 ADC的位數(shù)。
第三部分MCU 對(duì)APWM/DOUT采樣的量化誤差, 這與MCU的采樣頻率和APWM/DOUT的輸出頻率相關(guān)。UCC21750-Q1的APWM頻率為固定的400kHz,而UCC5880-Q1 DOUT輸出頻率為兩檔可配。這一部分產(chǎn)生的量化誤差為,其中為MCU采樣頻率,為驅(qū)動(dòng)芯片PWM輸出頻率。 這里需要注意的是MCU 采樣的是占空比還是導(dǎo)通時(shí)間。如果MCU采樣的是導(dǎo)通時(shí)間,則還需要考慮PWM輸出頻率抖動(dòng)造成的影響。
當(dāng)然,如果將驅(qū)動(dòng)芯片PWM輸出通過(guò)RC濾波形成模擬量采樣,則不需要考慮量化誤差的影響,只需要考慮MCU端采樣的精度。如果使用UCC5880-Q1并通過(guò)SPI對(duì)AD采樣結(jié)果進(jìn)行讀數(shù),也不需要考慮第三部分的影響。
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