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          在白電應用中減小噪聲對TPS54202的影響

          作者:South China FAE Skylar Li 時間:2024-01-12 來源:TI 收藏

          在白色家電領域,降壓轉換器的應用非常廣泛,為了實現(xiàn)不同的功能就需要不同的電源軌。 器件是一款在家電領域應用非常成熟的具有兩個集成 N 溝道 MOSFET 的 28V, 2A的同步降壓轉換器,通常用于12V轉5V或者3.3V的電路給MCU 或者運放等芯片供電。這顆芯片經(jīng)過優(yōu)化的內部補償網(wǎng)絡較大程度地減少了外部元件數(shù)量,并簡化了控制環(huán)路設計。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202401/454728.htm

                  在最終產(chǎn)品量產(chǎn)之前,通常會對電源芯片進行各類的測試,比如把熱電偶粘在電源芯片的塑殼上來做溫升測試,或者用天線靠近電源芯片檢測無線電對芯片干擾。這些測試引入的噪聲有時會影響芯片的正常輸出,因此減小噪聲對芯片以及整個系統(tǒng)的正常工作至關重要。接下來介紹兩個具體的噪聲對應用的影響的案例及其應對方法。

          案例一:用熱電偶布在的塑殼上做溫升實驗

          在帶有電機的家電應用上,曾有過異?,F(xiàn)象是采用TPS54202 EVM板電路設計,熱電偶布在TPS54202塑殼上,電機一轉,后端MCU復位。通過抓取波形,在掉電的那一瞬間,EN腳的電壓掉到閾值以下,如圖一。

          圖一:TPS54202的 EN及Vout的波形圖(C1:VEN  C2: Vout)

          通過觀察抓取的波形圖,推測是熱電偶布在54202的塑殼上給EN腳引入電機噪聲。于是檢查TPS54202的原理圖和layout,R4和R5設置得比較大是因為可以提高整體效率。因為高電阻將減少電阻的功率損失,如果不使用熱電偶進行測試(熱電偶容易引入噪聲),那么這些大電阻比較合適;關于EN腳的受干擾程度,是因為大電阻所產(chǎn)生的信號比較小,所以更容易被噪聲淹沒,這就代表信噪比不高。要提高信噪比,就要加強信號,或者減弱噪聲。減小電阻就可以加強信號,并聯(lián)電容就可以減少噪聲。

          圖二:TPS54202 EVM的原理圖

              對此,如果需要在我們的EVM板上用熱電偶測試溫度,將R4/R5降低到51k/10.5k歐姆,同時添加一個1nF的X7R電容與R5并聯(lián)。測試之后表現(xiàn)出后端MCU不會再復位。研發(fā)工程師把輸出電壓改成3.3V,測得的波形如下。可以看出,輸出電壓Vout穩(wěn)定在3.3V,不會對后端MCU造成影響。

          圖三:TPS54202 的EN, SW 和Vout的波形圖

          案例二:用天線靠近TPS54202檢測無線電對芯片干擾

          在線控器這類產(chǎn)品上,通常會有WiFi模塊,WIFI模塊的天線的射頻能量容易對芯片甚至系統(tǒng)造成干擾。因此研發(fā)工程師們在研發(fā)線控器產(chǎn)品的過程中,經(jīng)常會用2.4Ghz的天線來檢測電源芯片的抗干擾能力。在檢測的過程中,TPS54202有出現(xiàn)在天線靠近的時候,輸出電壓升高,從而后端的MCU損壞的問題。


            

          圖四:TPS54202 SW,VFB和Vout的波形圖

          通過觀察圖四可以發(fā)現(xiàn),TPS54202的FB引腳的電壓由于持續(xù)性的巨大的射頻能量而被拉到0,從而導致芯片內部不斷發(fā)脈沖,讓輸出電壓升高。分析FB引腳的特性和圖二的EVM板的原理圖和,F(xiàn)B引腳的內部結構是一個接收器,它很容易受到具有大量能量的耦合噪聲的干擾,圖二的C8也就是Cff(前饋電容), Cff作為低阻抗路徑,能將一對零極點引入回路,帶寬將會增加,帶寬增加容易引入更多的噪聲(如圖五)。

          圖五:FB引腳的特性

          因此,考慮移除Cff將減少環(huán)路帶寬,環(huán)路將會由于帶寬變窄更少受到外部噪音的干擾。 移除前饋電容測出的波形圖如圖六。

          圖六:移除前饋電容后的Vout波形圖

          可以看出,移除前饋電容之后,可以看出輸出電壓不會增加,同時也表現(xiàn)出不會損壞后端的MCU。

          綜上所述,TPS54202的FB引腳和EN引腳都容易引入外部的噪聲,在實際應用和測試的過程,需要較為注意避免對這些引腳的干擾,同時采用上述方法來減小噪聲的干擾。



          關鍵詞: TI TPS54202

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