客戶使用的MCU 是STM32F446，反饋在做壓力測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)多次插拔后，產(chǎn)品意外無法再工作。分析了幾天仍然無進(jìn)展，只有MCU 復(fù)位后才能恢復(fù)正常。

1 問題描述
客戶使用的 MCU 是 STM32F446，反饋在做壓力測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)多次插拔后，產(chǎn)品意外無法再工作。分析了幾天仍然無進(jìn)展，只有 MCU 復(fù)位后才能恢復(fù)正常。
2 問題分析
由于此問題以屬于偶發(fā)現(xiàn)象，一時(shí)半刻無法重現(xiàn)。首先能想到的是可能客戶使用到了動(dòng)態(tài)內(nèi)存。通過與客戶溝通，發(fā)現(xiàn)客戶在一個(gè)比較老的 HAL 庫版本上的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改造，將原來的動(dòng)態(tài)內(nèi)存方式改成了靜態(tài)內(nèi)存，因此，不應(yīng)該是內(nèi)存分析失敗導(dǎo)致。

好在之前客戶有通過 USB 分析儀采集通信過程，如下圖所示：

從上圖可以看出，當(dāng)出現(xiàn)問題時(shí)，有一堆異常數(shù)據(jù)，顯示為 1044 個(gè)字節(jié)，展開內(nèi)容卻發(fā)現(xiàn)大部分字節(jié)值為 0Xff,如下圖所示：

這部分?jǐn)?shù)據(jù)沒有合法格式，姑且認(rèn)為是 USB 總線上的干擾數(shù)據(jù)，由插拔操作導(dǎo)致。接下來要客戶嘗試在調(diào)試模式下重現(xiàn)問題，然后再截取異常出現(xiàn)時(shí) USB 各寄存器的值，檢查是否有異常。

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