電磁兼容:傳導(dǎo)干擾測試
EMC測試,簡單地說,就是測量產(chǎn)品的射頻輸出量,并比較其輸出值是否符合國家相關(guān)部門制定的標(biāo)準(zhǔn)。一般來講,任何可能會(huì)輸出RF信號的商業(yè)產(chǎn)品,都必須通過上述標(biāo)準(zhǔn)。
EMC兼容測試需要用到專業(yè)的設(shè)備和專門的技術(shù),對于大多數(shù)公司來說,這些設(shè)備的成本是非常高昂的,所以一般都是選擇在產(chǎn)品開發(fā)完成后,送到第三方實(shí)驗(yàn)室做認(rèn)證測試。然而遺憾的是,很少有產(chǎn)品能夠一次性就通過,一般都需要多次整改。這樣的重復(fù)整改和測試,會(huì)增加成本,不可避免地,產(chǎn)品上市也將被延遲,這會(huì)給公司帶來非常重大的損失。
怎么解決這個(gè)問題呢?我們可以通過一些簡單的工具和技術(shù)來減少時(shí)間和經(jīng)濟(jì)成本的損失。我們可以在產(chǎn)品開發(fā)的各個(gè)階段,進(jìn)行預(yù)兼容測試,識別并解決出現(xiàn)的EMC問題,這個(gè)過程并不需要昂貴的設(shè)備支撐,整體來講,省時(shí)省力又省錢。
在這篇應(yīng)用文檔中,我們將介紹如何進(jìn)行傳導(dǎo)干擾的預(yù)兼容測試。這項(xiàng)技術(shù)將最大限度地避免產(chǎn)品開發(fā)后期的重復(fù)整改,幫助工程師更好地理解電路設(shè)計(jì)中需要注意的EMC問題,同時(shí),對于未來的產(chǎn)品設(shè)計(jì)中如何規(guī)避EMC問題,也是一個(gè)很好的參考。
2、傳導(dǎo)干擾
傳導(dǎo)干擾,主要是測量用電產(chǎn)品產(chǎn)生的,通過線纜傳播的射頻分量,如能量,信號和數(shù)據(jù)。大多數(shù)對于傳導(dǎo)干擾的測試標(biāo)準(zhǔn)都集中在主電源交流分量產(chǎn)生的能量。電纜上過多的射頻分量會(huì)產(chǎn)生過度干擾,尤其是對于廣播收音機(jī)和其他的一些廣播頻段而言。
設(shè)備清單:
頻譜分析儀/EMI 接收器:測量相對于頻率的RF功率。頻譜儀的最高輸入頻率應(yīng)該不低于1GHz, DANL為-100dBm (-40dBuV)或者更小,RBW不低于10kHz。
瞬態(tài)限幅器(可選用): 保護(hù)頻譜儀RF輸入端,防止能量過大損壞儀器。
衰減器(可選用): 備用3dB和10dB的衰減器,保護(hù)頻譜儀受到能量過大信號的破壞。
線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN):將DUT產(chǎn)生的RF能量傳輸?shù)筋l譜分析儀/EMI 接收機(jī)。選擇符合國家相關(guān)部門出臺(tái)的EMC標(biāo)準(zhǔn),和DUT適配的LISN
注意:請認(rèn)真研讀LISN用戶手冊。某些設(shè)計(jì)可能存在潛在的高壓,非常危險(xiǎn),可能需要特殊說明才能安全操作。
水平接地層:導(dǎo)電金屬片的寬度約為15cm。DUT到垂直接地層留出40cm的距離。
垂直接地層:導(dǎo)電金屬片的寬度約為15cm。DUT到水平接地層留出80cm的距離。水平和垂直接地層兩者交匯處采用低阻抗導(dǎo)電帶連接。
LISN連接: 短金屬導(dǎo)電片,用于將LISN連接到水平接地層。需要具備低阻抗特性,最好是薄金屬帶。如果用電線的話,效果不理想。
不導(dǎo)電工作臺(tái):尺寸略大于DUT。材質(zhì)可以是木材,玻璃纖維,塑料。
物理設(shè)置
將DUT放在不導(dǎo)電工作臺(tái)的中心位置
將水平接地層放到與DUT距離80cm的位置,并在DUT正下方居中。
將垂直接地層放到與DUT距離40cm的位置,并以DUT為中心。將垂直和水平接地層電氣連接。
將LISN連接到水平接地層。
將頻譜分析儀/EMI接收機(jī)放置在離水平接地層的邊緣幾英尺的地方,并將其連接電源。
測試前檢查
根據(jù)頻譜分析儀制造商的建議預(yù)熱儀器。
打開LISN電源,但此時(shí)注意不要連接DUT。
將LISN RF輸出端連接到頻譜儀的RF輸入端。同時(shí)可以連上瞬態(tài)限幅器和3dB或者10dB的衰減器。
設(shè)置頻譜儀:
將起始頻率設(shè)置為150 kHz
將終止頻率設(shè)置為30 MHz
將RBW設(shè)置為1 MHz
將檢波方式設(shè)置為正峰值檢波
將LISN校正數(shù)據(jù)輸入分析儀并啟用校正功能以確保測量的準(zhǔn)確性
許多頻譜分析儀都有創(chuàng)建Limit模板的功能。如果可用,您可以將特定的Limit模板添加到頻譜分析儀,這樣可以進(jìn)一步簡化測量過程。
(選用)如果使用瞬態(tài)限幅器,請將其校正數(shù)據(jù)輸入分析儀并啟用校正功能以確保測量的準(zhǔn)確性
(選用)如果使用外部衰減器,請將其校正數(shù)據(jù)輸入分析儀并啟用校正功能以確保測量的準(zhǔn)確性
在沒有輸入的前提下,觀測頻譜儀的界面,它的譜線應(yīng)該是平滑且功率非常低的。您也可以將RBW設(shè)置到最低,顯示出來的譜線代表的是本底噪聲。
我們可以將這些保存為圖片或圖像文件以供稍后參考。 下面的圖3顯示了鼎陽科技 SSA3032X頻譜分析儀的開路頻譜圖,其配置如上所述:
斷開LISN輸出端與頻譜儀輸入端的連線。
將電源線從DUT連接到LISN,電源線不能卷曲和纏繞。確保其平放并且不在DUT和水平接地層之間。
打開DUT的電源。
將LISN RF輸出端重新連接到頻譜分析儀RF輸入端。注意:這些步驟為頻譜分析儀前端增加了另一層保護(hù)。 一些LISN還擁有最小化這些瞬變值的特性,在這種情況下,這些步驟就可做可不做了。
觀察掃描結(jié)果并記錄3dB內(nèi)或者是超過limit模板的峰值。這些是潛在的產(chǎn)生問題區(qū)域。
圖4 展示了未通過Limit模板的掃描結(jié)果
繼續(xù)掃描和評估
上述初步掃描已經(jīng)大致鎖定了出現(xiàn)射頻泄漏的頻率范圍。但是,設(shè)置與大多數(shù)規(guī)格中指出的設(shè)置不同。我們建議使用以下頻譜儀設(shè)置:RBW = 10 kHz,檢波方式=正峰值,Span= 30MHz。這使您可以快速分析有問題的區(qū)域,并對DUT的射頻泄漏情況有一個(gè)大概的了解。
更多可選的器件有助于使測量更精確:
大多數(shù)頻譜分析儀沒有預(yù)選濾波器。如果您使用的是沒有預(yù)選濾波器的頻譜分析儀,則您觀察到的峰值可能不真實(shí)。沒有預(yù)選濾波器的分析儀會(huì)因帶外信號與觀測信號混合而產(chǎn)生假峰值。
您可以通過添加外部衰減器來測試峰值的真假(選用3dB或者10dB衰減器)。隨著衰減量的增加,真峰值的波峰會(huì)下降。如果峰值下降的幅度超過了衰減值,那么很有可能是假峰值。
實(shí)際峰值將減少衰減器的數(shù)量。如果峰值下降超過衰減器,則可能是假峰值。記下假峰值,以便與合規(guī)性測試結(jié)果進(jìn)行比較。您也可以使用預(yù)選濾波器或EMI接收器,但這些對于大多數(shù)快速測試來說往往成本過高。記錄下假峰值,以便后期進(jìn)行對比。
圖5 給出了一個(gè)典型的峰值確認(rèn)的測試圖。在沒有衰減器的情況下,屏幕上顯示的是黃色跡線。粉紅色跡線是添加了10dB衰減后的結(jié)果。我們不難看出,峰值下降的量與衰減量相同,我們可以判定出這個(gè)峰值是真實(shí)的,而不是帶外信號的產(chǎn)物。
EMI濾波器:(6dB帶寬)
RBW帶寬為200 Hz,9 kHz和120 kHz
準(zhǔn)峰值(QP)檢波器
如果您猜測該DUT具有瞬態(tài)的RF脈沖,或者間歇性的數(shù)字通信,或者偶發(fā)的瞬態(tài)高功率信號,那么最好是用EMI 濾波器和準(zhǔn)峰值檢波器重新掃描一下。
將頻譜儀的中心頻率設(shè)置為感興趣的峰值頻率,將SPAN設(shè)置為指定RBW的10倍,然后將濾波器更改為EMI,將檢波器更改為準(zhǔn)峰值(QP)檢波器,然后觀察掃描。由于準(zhǔn)峰值檢波器自身特性原因,使用QP檢波器掃描時(shí)間會(huì)把一般的要長。
許多頻譜分析儀都具有‘最大保持’功能??梢猿掷m(xù)保持每個(gè)頻率點(diǎn)掃描出的最高幅值。這個(gè)功能將使得您可以將每個(gè)頻點(diǎn)的最壞的數(shù)據(jù)收集到,并加以比較。
如果可以的話,您可以使用Marker功能和峰值表功能,使其能夠清楚地顯示出峰值頻率和幅值。
為了便于搜集EMC報(bào)告數(shù)據(jù)和屏幕截圖,SIGLENT鼎陽還提供了一個(gè)名為EasySpectrum的免費(fèi)軟件包。它可以讓用戶快速輸入,存儲(chǔ)和調(diào)用硬件校正因子,生成Limit限制模板和生產(chǎn)掃描報(bào)告等。更多相關(guān)信息,請參考SSA3000X軟件頁面。
幾乎所有會(huì)產(chǎn)生射頻泄漏的商業(yè)性電子產(chǎn)品都需要進(jìn)行EMC認(rèn)證。一般的公司都會(huì)送到第三方實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢驗(yàn),但是這價(jià)格非常高昂,并且實(shí)驗(yàn)室本身也是需要預(yù)約的,所以對于公司來講,時(shí)間和經(jīng)濟(jì)成本的代價(jià)都很高。
通過一些簡單的工具和方法,可以先行進(jìn)行預(yù)兼容測試,從而大大縮短產(chǎn)品開發(fā)總時(shí)間,降低成本,自行反復(fù)整改和調(diào)試的經(jīng)驗(yàn),也會(huì)大大減少未來產(chǎn)品的EMC問題。
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