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          MOS管及其外圍電路設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2024-08-12 來(lái)源:硬件筆記本 收藏

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          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/202408/461897.htm


          01

          柵極驅(qū)動(dòng)部分

          常用的mos管驅(qū)動(dòng)電路結(jié)構(gòu)如圖1所示,驅(qū)動(dòng)信號(hào)經(jīng)過(guò)圖騰柱放大后,經(jīng)過(guò)一個(gè)驅(qū)動(dòng)電阻Rg給mos管驅(qū)動(dòng)。其中Lk是驅(qū)動(dòng)回路的感抗,一般包含mos管引腳的感抗,PCB走線的感抗等。在現(xiàn)在很多的應(yīng)用中,用于放大驅(qū)動(dòng)信號(hào)的圖騰柱本身也是封裝在專(zhuān)門(mén)的驅(qū)動(dòng)芯片中。本文要回答的問(wèn)題就是對(duì)于一個(gè)確定的功率管,如何合理地設(shè)計(jì)其對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電路(如驅(qū)動(dòng)電阻阻值的計(jì)算,驅(qū)動(dòng)芯片的選型等等)。

          注1:圖中的Rpd為mos管柵源極的下拉電阻,其作用是為了給mos管柵極積累的電荷提供泄放回路,一般取值在10k~幾十k這一數(shù)量級(jí)。由于該電阻阻值較大,對(duì)于mos管的開(kāi)關(guān)瞬態(tài)工作情況基本沒(méi)有影響,因此在后文分析mos的開(kāi)關(guān)瞬態(tài)時(shí),均忽略Rpd的影響。

          注2:Cgd,Cgs,Cds為mos管的三個(gè)寄生電容,在考慮mos管開(kāi)關(guān)瞬態(tài)時(shí),這三個(gè)電容的影響至關(guān)重要。


          圖1 mos驅(qū)動(dòng)電路結(jié)構(gòu)


          1.1 驅(qū)動(dòng)電阻的下限值

          驅(qū)動(dòng)電阻下限值的計(jì)算原則為:驅(qū)動(dòng)電阻必須在驅(qū)動(dòng)回路中提供足夠的阻尼,來(lái)阻尼mos開(kāi)通瞬間驅(qū)動(dòng)電流的震蕩。

          當(dāng)mos開(kāi)通瞬間,Vcc通過(guò)驅(qū)動(dòng)電阻給Cgs充電,如圖2所示(忽略Rpd的影響)。根據(jù)圖2,可以寫(xiě)出回路在s域內(nèi)對(duì)應(yīng)的方程:


          根據(jù)式(1)可以求解出ig,并將其化為典型二階系統(tǒng)的形式


          根據(jù)式(2),可以求解出該二階系統(tǒng)的阻尼比為:


          為了保證驅(qū)動(dòng)電流ig不發(fā)生震蕩,該系統(tǒng)的阻尼比必須大于1,則根據(jù)(3)可以求解得到:


          式(4)給出了驅(qū)動(dòng)電阻Rg的下限值,式(4)中Cgs為mos管gs的寄生電容,其值可以在mos管對(duì)應(yīng)的datasheet中查到。而Lk是驅(qū)動(dòng)回路的感抗,一般包含mos管引腳的感抗,PCB走線的感抗,驅(qū)動(dòng)芯片引腳的感抗等,其精確的數(shù)值往往難以確定,但數(shù)量級(jí)一般在幾十nH左右。

          因此在實(shí)際設(shè)計(jì)時(shí),一般先根據(jù)式(4)計(jì)算出Rg下限值的一個(gè)大概范圍,然后再通過(guò)實(shí)際實(shí)驗(yàn),以驅(qū)動(dòng)電流不發(fā)生震蕩作為臨界條件,得出Rg下限值。


          圖2 mos開(kāi)通時(shí)的驅(qū)動(dòng)電流


          1.2 驅(qū)動(dòng)電阻的上限值

          驅(qū)動(dòng)電阻上限值的計(jì)算原則為:防止mos管關(guān)斷時(shí)產(chǎn)生很大的dV/dt使得mos管再次誤開(kāi)通。

          當(dāng)mos管關(guān)斷時(shí),其DS之間的電壓從0上升到Vds(off),因此有很大的dV/dt,根據(jù)公式:i=CdV/dt,該dV/dt會(huì)在Cgd上產(chǎn)生較大的電流igd,如圖3所示。


          圖3 mos關(guān)斷時(shí)的對(duì)應(yīng)電流


          該電流igd會(huì)流過(guò)驅(qū)動(dòng)電阻Rg,在mos管GS之間又引入一個(gè)電壓,當(dāng)該電壓高于mos管的門(mén)檻電壓Vth時(shí),mos管會(huì)誤開(kāi)通,為了防止mos管誤開(kāi)通,應(yīng)當(dāng)滿(mǎn)足:


          式(6)給出了驅(qū)動(dòng)電阻Rg的上限值,式(6)中Cgd為mos管gd的寄生電容,Vth為mos管的門(mén)檻電壓,均可以在對(duì)應(yīng)的datasheet中查到,dV/dt則可以根據(jù)電路實(shí)際工作時(shí)mos的DS電壓和mos管關(guān)斷時(shí)DS電壓上升時(shí)間(該時(shí)間一般在datasheet中也能查到)求得。

          從上面的分析可以看到,在mos管關(guān)斷時(shí),為了防止誤開(kāi)通,應(yīng)當(dāng)盡量減小關(guān)斷時(shí)驅(qū)動(dòng)回路的阻抗。基于這一思想,下面再給出兩種很常用的改進(jìn)型電路,可以有效地避免關(guān)斷時(shí)mos的誤開(kāi)通問(wèn)題。


          圖4 改進(jìn)電路1


          圖4給出的改進(jìn)電路1是在驅(qū)動(dòng)電阻上反并聯(lián)了一個(gè)二極管,當(dāng)mos關(guān)斷時(shí),關(guān)斷電流就會(huì)流經(jīng)二極管Doff,這樣mos管gs的電壓就為二極管的導(dǎo)通壓降,一般為0.7V,遠(yuǎn)小于mos的門(mén)檻電壓(一般為2.5V以上),有效地避免了mos的誤開(kāi)通。


          圖5 改進(jìn)電路2


          圖5給出的改進(jìn)電路2是在驅(qū)動(dòng)電路上加入了一個(gè)開(kāi)通二極管Don和關(guān)斷三級(jí)管Qoff。當(dāng)mos關(guān)斷時(shí),Qoff打開(kāi),關(guān)斷電流就會(huì)流經(jīng)該三極管Qoff,這樣mos管gs的電壓就被鉗位至地電平附近,從而有效地避免了mos的誤開(kāi)通。


          1.3 驅(qū)動(dòng)電阻阻值的選擇

          根據(jù)1.1節(jié)和1.2節(jié)的分析,就可以求得mos管驅(qū)動(dòng)電阻的上限值和下限值,一般來(lái)說(shuō),mos管驅(qū)動(dòng)電阻的取值范圍在5~100歐姆之間,那么在這個(gè)范圍內(nèi)如何進(jìn)一步優(yōu)化阻值的選取呢?這就要從損耗方面來(lái)考慮,當(dāng)驅(qū)動(dòng)電阻阻值越大時(shí),mos管開(kāi)通關(guān)斷時(shí)間越長(zhǎng)(如圖6所示),在開(kāi)關(guān)時(shí)刻電壓電流交疊時(shí)間久越大,造成的開(kāi)關(guān)損耗就越大(如圖7所示)。所以在保證驅(qū)動(dòng)電阻能提供足夠的阻尼,防止驅(qū)動(dòng)電流震蕩的前提下,驅(qū)動(dòng)電阻應(yīng)該越小越好。


          圖6 mos開(kāi)關(guān)時(shí)間隨驅(qū)動(dòng)電阻的變化


          比如通過(guò)式(4)和式(6)的計(jì)算得到驅(qū)動(dòng)電阻的下限為5歐姆,上限為100歐姆。那么考慮一定的裕量,取驅(qū)動(dòng)電阻為10歐姆時(shí)合適的,而將驅(qū)動(dòng)電阻取得太大(比如50歐姆以上),從損耗的角度來(lái)講,肯定是不合適的。


          1.4 驅(qū)動(dòng)芯片的選型

          對(duì)于驅(qū)動(dòng)芯片來(lái)說(shuō),選型主要考慮如下技術(shù)參數(shù):驅(qū)動(dòng)電流,功耗,傳輸延遲時(shí)間等,對(duì)隔離型驅(qū)動(dòng)還要考慮原副邊隔離電壓,瞬態(tài)共模抑制等等(common mode transient immunity),下面就分別加以介紹。


          最大電流

          在mos管開(kāi)通的時(shí)候,根據(jù)圖2,可以得到mos開(kāi)通瞬間的驅(qū)動(dòng)電流ig為(忽略Lk的影響)


          其中ΔVgs為驅(qū)動(dòng)電壓的擺幅,那么在選擇驅(qū)動(dòng)芯片的時(shí)候,最重要的一點(diǎn)就是驅(qū)動(dòng)芯片能提供的最大電流要超過(guò)式(7)所得出的電流,即驅(qū)動(dòng)芯片要有足夠的“驅(qū)動(dòng)能力”。


          功耗

          驅(qū)動(dòng)功率計(jì)算表達(dá)式如下:


          其中Qg為柵極充電電荷,可以在datasheet中查到,ΔVgs為驅(qū)動(dòng)電壓的擺幅,fs為mos的開(kāi)關(guān)頻率,在實(shí)際選擇驅(qū)動(dòng)芯片時(shí),應(yīng)選擇驅(qū)動(dòng)芯片所能提供的功率大于式(8)所計(jì)算出來(lái)的功率。同時(shí)還要考慮環(huán)境溫度的影響,因?yàn)榇蠖鄶?shù)驅(qū)動(dòng)芯片所能提供的功率都是隨著環(huán)溫的升高而降額的,如圖8所示。


          圖8 驅(qū)動(dòng)允許的損耗功率隨著環(huán)溫升高而降低


          傳輸延遲(Propagation Delay)

          所謂傳輸延遲,即驅(qū)動(dòng)芯片的輸出上升沿和下降沿都要比起輸入信號(hào)延遲一段時(shí)間,其對(duì)應(yīng)的波形如圖9所示。對(duì)于傳輸延遲來(lái)說(shuō),我們一般希望有兩點(diǎn):1)傳輸延時(shí)的實(shí)際要盡量短。2)“開(kāi)通”傳輸延時(shí)和“關(guān)斷”傳輸延時(shí)的一致性要盡量好。


          圖9 驅(qū)動(dòng)芯片輸入輸出傳輸延時(shí)


          下面就針對(duì)第二點(diǎn)來(lái)說(shuō)一說(shuō),如果開(kāi)通和關(guān)斷傳輸延時(shí)不一致會(huì)有什么影響呢?我們以常用的IGBT驅(qū)動(dòng),光耦M57962為例,給出其傳輸延時(shí)的數(shù)據(jù),如圖10所示。


          圖10 M57962的傳輸延時(shí)數(shù)據(jù)


          從圖10可以看到,M57962的的開(kāi)通傳輸延時(shí)一般為1us,最大為1.5us;關(guān)斷傳輸延時(shí)一般為1us,最大為1.5us。其開(kāi)通關(guān)斷延時(shí)的一致性很差,這樣就會(huì)對(duì)死區(qū)時(shí)間造成很大的影響。假設(shè)輸入M57962的驅(qū)動(dòng)死區(qū)設(shè)置為1.5us。那么實(shí)際到IGBT的GE級(jí)的驅(qū)動(dòng)死區(qū)時(shí)間最大為2us(下管開(kāi)通延時(shí)1.5us, 上管關(guān)斷延時(shí)1us),最小僅為1us(下管開(kāi)通延時(shí)1us, 上管關(guān)斷延時(shí)1.5us)。造成實(shí)際到達(dá)IGBT的GE級(jí)的死區(qū)時(shí)間的不一致。因此在設(shè)計(jì)死區(qū)時(shí)間時(shí),應(yīng)當(dāng)充分考慮到驅(qū)動(dòng)芯片本身的傳輸延時(shí)的不一致性,避免因此造成的死區(qū)時(shí)間過(guò)小而導(dǎo)致的橋臂直通。


          原副邊絕緣電壓

          對(duì)于隔離型驅(qū)動(dòng)來(lái)說(shuō)(光耦隔離,磁耦隔離)。需要考慮原副邊的絕緣電壓,一般項(xiàng)目中都會(huì)給出絕緣電壓的

          相關(guān)要求。若沒(méi)有相關(guān)要求,一般可取絕緣電壓為mos電壓定額的兩倍以上。


          02

          外圍保護(hù)電路


          R7作用:防靜電影響MOS,管子的DG,GS之間分別有結(jié)電容, DS之間電壓會(huì)給電容充電,這樣G極積累的靜電電壓就會(huì)抬高直到mos管導(dǎo)通,電壓高時(shí)可能會(huì)損壞管子. 同時(shí)為結(jié)電容提供泄放通道,可以加快MOS開(kāi)關(guān)速度。阻值一般為幾千左右。

          R6和D3作用:在MOS關(guān)斷時(shí),這個(gè)回路快速放掉柵極結(jié)電容的電荷,柵極電位快速下降,因此可以加快MOS開(kāi)關(guān)速度。另外,高頻時(shí), MOSFET的輸入阻抗將降低,而且在某個(gè)頻率范圍內(nèi)將變成負(fù)阻,會(huì)發(fā)生振蕩,這個(gè)電阻可以減少震蕩。R6阻值一般較小,幾歐到幾十歐左右。

          C11,R8和d5作用:MOS有分布電感,關(guān)斷時(shí)會(huì)有反峰電壓。Rc部分用于吸收尖波,這個(gè)設(shè)計(jì)給這個(gè)反峰提供了釋放回路。D5是為了防止高電壓擊穿mos。經(jīng)實(shí)驗(yàn),去掉該回路后波形有很大的震蕩。


          03

          減少振鈴的方法

          三種方法:


          3.1 PCB設(shè)計(jì)

          減少VCC,GND與MOS的距離

          效果:


          3.2 柵極/自舉電阻

          兩電阻示意圖如下:


          設(shè)計(jì)的特點(diǎn)是增加開(kāi)通時(shí)間,但不影響關(guān)斷時(shí)間。增大電阻可以減少振鈴,但是會(huì)增大損耗,且不改變振鈴頻率,因?yàn)橹皇怯闷湮漳芰苛T了。

          下面是振鈴的幅度以及能量的損耗示意圖:




          3.3加入開(kāi)關(guān)阻尼RC

          示意圖


          RC的選擇可以根據(jù)示波器上測(cè)出的振鈴頻率計(jì)算:


          振鈴減少的效果:



          3.4 加入共源極電感

          這種方法缺點(diǎn)是電感值難以調(diào)整,且損耗大。




          3.5部分常見(jiàn)波形

          工作在線性區(qū),損耗巨大,原因可能是布線太長(zhǎng),電感太大


          高頻振鈴嚴(yán)重


          上升下降沿緩慢,可能因?yàn)轵?qū)動(dòng)芯片驅(qū)動(dòng)能力太差,或者是柵極驅(qū)動(dòng)電阻太大



          有振鈴的方波,邊沿陡峭,開(kāi)關(guān)速度快,損耗小,可以略微增大柵極電阻




          測(cè)量的是上管的驅(qū)動(dòng),由于自舉電容較小,提供的電荷不足,無(wú)法保證GD間的電壓


          完美波形


          04

          緩沖

          關(guān)于緩沖電路

          基本拓?fù)潆娐飞弦话銢](méi)有吸收緩沖電路,實(shí)際電路上一般有吸收緩沖電路,吸收與緩沖是工程需要,不是拓?fù)湫枰?/span>

          吸收與緩沖的功效:

          ●防止器件損壞,吸收防止電壓擊穿,緩沖防止電流擊穿

          ●使功率器件遠(yuǎn)離危險(xiǎn)工作區(qū),從而提高可靠性

          ●降低(開(kāi)關(guān))器件損耗,或者實(shí)現(xiàn)某種程度的關(guān)軟開(kāi)

          ●降低di/dt和dv/dt,降低振鈴,改善EMI品質(zhì)

          ●降低di/dt和dv/dt,降低振鈴,改善EMI品質(zhì)

          也就是說(shuō),防止器件損壞只是吸收與緩沖的功效之一,其他功效也是很有價(jià)值的。


          吸收

          吸收是對(duì)電壓尖峰而言。

          電壓尖峰的成因 :

          ●電壓尖峰是電感續(xù)流引起的。

          ●引起電壓尖峰的電感可能是:變壓器漏感、線路分布電感、器件等效模型中的感性成分等。

          ●引起電壓尖峰的電流可能是:拓?fù)潆娏鳌⒍O管反向恢復(fù)電流、不恰當(dāng)?shù)闹C振電流等。

          減少電壓尖峰的主要措施是:

          ●減少可能引起電壓尖峰的電感,比如漏感、布線電感等

          ●減少可能引起電壓尖峰的電流,比如二極管反向恢復(fù)電流等

          ●如果可能的話,將上述電感能量轉(zhuǎn)移到別處。

          ●采取上述措施后電壓尖峰仍然不能接受,最后才考慮吸收。吸收是不得已的技術(shù)措施


          拓?fù)湮?/span>

          將開(kāi)關(guān)管Q1、拓?fù)淅m(xù)流二極管D1和一個(gè)無(wú)損的拓?fù)潆娙軨2組成一個(gè)在布線上盡可能簡(jiǎn)短的吸收回路。

          拓?fù)湮盏奶攸c(diǎn):

          ●同時(shí)將Q1、D1的電壓尖峰、振鈴減少到最低程度。

          ●拓?fù)湮帐菬o(wú)損吸收,效率較高。

          ●吸收電容C2可以在大范圍內(nèi)取值。

          ●拓?fù)湮帐怯查_(kāi)關(guān),因?yàn)橥負(fù)涫怯查_(kāi)關(guān)。

          體二極管反向恢復(fù)吸收

          開(kāi)關(guān)器件的體二極管的反向恢復(fù)特性,在關(guān)斷電壓的上升沿發(fā)揮作用,有降低電壓尖峰的吸收效應(yīng)。


          RC吸收

          ●RC吸收的本質(zhì)是阻尼吸收。

          ●有人認(rèn)為R 是限流作用,C是吸收。實(shí)際情況剛好相反。

          ●電阻R 的最重要作用是產(chǎn)生阻尼,吸收電壓尖峰的諧振能量,是功率器件。

          ●電容C的作用也并不是電壓吸收,而是為R阻尼提供能量通道。

          ●RC吸收并聯(lián)于諧振回路上,C提供諧振能量通道,C 的大小決定吸收程度,最終目的是使R形成功率吸收。

          ●對(duì)應(yīng)一個(gè)特定的吸收環(huán)境和一個(gè)特定大小的電容C,有一個(gè)最合適大小的電阻R,形成最大的阻尼、獲得最低的電壓尖峰。

          ●RC吸收是無(wú)方向吸收,因此RC吸收既可以用于單向電路的吸收,也可用于雙向或者對(duì)稱(chēng)電路的吸收。


          RC吸收設(shè)計(jì)

          ●RC吸收的設(shè)計(jì)方法的難點(diǎn)在于:吸收與太多因素有關(guān),比如漏感、繞組結(jié)構(gòu)、分布電感電容、器件等效電感電容、電流、電壓、功率等級(jí)、di/dt、dv/dt、頻率、二極管反向恢復(fù)特性等等。而且其中某些因素是很難獲得準(zhǔn)確的設(shè)計(jì)參數(shù)的。

          ●比如對(duì)二極管反壓的吸收,即使其他情況完全相同,使用不同的二極管型號(hào)需要的RC吸收參數(shù)就可能有很大差距。很難推導(dǎo)出一個(gè)通用的計(jì)算公式出來(lái)。

          ●R 的損耗功率可大致按下式估算:

          Ps = FCU2

          其中U為吸收回路拓?fù)浞瓷潆妷骸?/span>

          ●工程上一般應(yīng)該在通過(guò)計(jì)算或者仿真獲得初步參數(shù)后,還必須根據(jù)實(shí)際布線在板調(diào)試,才能獲得最終設(shè)計(jì)參數(shù)。


          RCD吸收

          特點(diǎn)

          ●RCD吸收不是阻尼吸收,而是靠非線性開(kāi)關(guān)D 直接破壞形成電壓尖峰的諧振條件,把電壓尖峰控制在任何需要的水平。

          ●C 的大小決定吸收效果(電壓尖峰),同時(shí)決定了吸收功率(即R的熱功率)。

          ●R 的作用只是把吸收能量以熱的形式消耗掉。其電阻的最小值應(yīng)該滿(mǎn)足開(kāi)關(guān)管的電流限制,最大值應(yīng)該滿(mǎn)足PWM逆程RC放電周期需要,在此范圍內(nèi)取值對(duì)吸收效果影響甚微。

          ●RCD吸收會(huì)在被保護(hù)的開(kāi)關(guān)器件上實(shí)現(xiàn)某種程度的軟關(guān)斷,這是因?yàn)殛P(guān)斷瞬間開(kāi)關(guān)器件上的電壓即吸收電容C上的電壓等于0,關(guān)斷動(dòng)作會(huì)在C 上形成一個(gè)充電過(guò)程,延緩電壓恢復(fù),降低dv/dt,實(shí)現(xiàn)軟關(guān)斷。


          不適應(yīng)性

          ●RCD吸收一般不適合反激拓?fù)涞奈?,這是因?yàn)镽CD吸收可能與反激拓?fù)湎鄾_突。

          ●RCD吸收一般不適合對(duì)二極管反壓尖峰的吸收,因?yàn)镽CD吸收動(dòng)作有可能加劇二極管反向恢復(fù)電流。


          鉗位吸收

          RCD 鉗位

          ●盡管RCD鉗位與RCD吸收電路可以完全相同,但元件參數(shù)和工況完全不同。RCD吸收RC時(shí)間常數(shù)遠(yuǎn)小于PWM周期,而RCD鉗位的RC時(shí)間常數(shù)遠(yuǎn)大于PWM周期。

          ●與RCD吸收電容的全充全放工況不同,RCD鉗位的電容可以看成是電壓源,其RC充放電幅度的谷值應(yīng)不小于拓?fù)浞瓷潆妷海逯导淬Q位電壓。

          ●由于RCD鉗位在PWM電壓的上升沿和下降沿都不會(huì)動(dòng)作,只在電壓尖峰出現(xiàn)時(shí)動(dòng)作,因此RCD鉗位是高效率的吸收。


          齊納鉗位

          ●齊納鉗位的幾種形式。

          ●齊納鉗位也是在電壓尖峰才起作用,也是高效率吸收。

          ●某些場(chǎng)合,齊納鉗位需要考慮齊納二極管的反向恢復(fù)特性對(duì)電路的影響。

          ●齊納吸收需注意吸收功率匹配,必要時(shí)可用有源功率器件組成大功率等效電路


          無(wú)損吸收

          無(wú)損吸收的條件

          ●吸收網(wǎng)絡(luò)不得使用電阻。

          ●不得形成LD電流回路。

          ●吸收回路不得成為拓?fù)潆娏髀窂健?/span>

          ●吸收能量必須轉(zhuǎn)移到輸入側(cè)或者輸出側(cè)。

          ●盡量減少吸收回路二極管反向恢復(fù)電流的影響。

          無(wú)損吸收是強(qiáng)力吸收,不僅能夠吸收電壓尖峰,甚至能夠吸收拓?fù)浞瓷潆妷?/span>


          緩沖

          緩沖是對(duì)沖擊尖峰電流而言

          ●引起電流尖峰第一種情況是二極管(包括體二極管)反向恢復(fù)電流。

          ●引起電流尖峰第二種情況是對(duì)電容的充放電電流。這些電容可能是:電路分布電容、變壓器繞組等效分布電容、設(shè)計(jì)不恰當(dāng)?shù)奈针娙?、設(shè)計(jì)不恰當(dāng)?shù)闹C振電容、器件的等效模型中的電容成分等等。

          緩沖的基本方法:

          ●在沖擊電流尖峰的路徑上串入某種類(lèi)型的電感,可以是以下類(lèi)型:

          緩沖的特性:

          ●由于緩沖電感的串入會(huì)顯著增加吸收的工作量,因此緩沖電路一般需要與吸收電路配合使用。

          ●緩沖電路延緩了導(dǎo)通電流沖擊,可實(shí)現(xiàn)某種程度的軟開(kāi)通(ZIS)。

          ●變壓器漏感也可以充當(dāng)緩沖電感。


          LD 緩沖

          特點(diǎn):

          ●可不需要吸收電路配合。

          ●緩沖釋能二極管與拓?fù)淅m(xù)流二極管電流應(yīng)力相當(dāng)甚至更大。

          ●緩沖釋能二極管的損耗可以簡(jiǎn)單理解為開(kāi)關(guān)管減少的損耗。

          ●適當(dāng)?shù)木彌_電感(L3)參數(shù)可以大幅度減少開(kāi)關(guān)管損耗,實(shí)現(xiàn)高效率。


          LR 緩沖

          特點(diǎn):

          ●需要吸收電路配合以轉(zhuǎn)移電感剩余能量。

          ●緩沖釋能電阻R的損耗較大,可簡(jiǎn)單理解為是從開(kāi)關(guān)管轉(zhuǎn)移出來(lái)的損耗。

          ●R、L參數(shù)必須實(shí)現(xiàn)最佳配合,參數(shù)設(shè)計(jì)調(diào)試比較難以掌握。

          ●只要參數(shù)適當(dāng)仍然能夠?qū)崿F(xiàn)高效率。


          飽和電感緩沖

          ●飽和電感的電氣性能表現(xiàn)為對(duì)di/dt敏感。

          ●在一個(gè)沖擊電流的上升沿,開(kāi)始呈現(xiàn)較大的阻抗,隨著電流的升高逐漸進(jìn)入飽和,從而延緩和削弱了沖擊電流尖峰,即實(shí)現(xiàn)軟開(kāi)通。

          ●在電流達(dá)到一定程度后,飽和電感因?yàn)轱柡投尸F(xiàn)很低的阻抗,這有利于高效率地傳輸功率。

          ●在電流關(guān)斷時(shí),電感逐漸退出飽和狀態(tài),一方面,由于之前的飽和狀態(tài)的飽和電感量非常小,即儲(chǔ)能和需要的釋能較小。另一方面,退出時(shí)電感量的恢復(fù)可以減緩電壓的上升速度,有利于實(shí)現(xiàn)軟關(guān)斷。

          ●以Ls2為例,5u表示磁路截面積5mm2,大致相當(dāng)于1顆PC40材質(zhì)442的小磁芯飽和電感特性


          ●熱特性

          飽和電感是功率器件,通過(guò)進(jìn)入和退出飽和過(guò)程的磁滯損耗(而不是渦流損耗或者銅損)吸收電流尖峰能量,主要熱功率來(lái)自于磁芯。

          這一方面要求磁芯應(yīng)該是高頻材料,另一方面要求磁芯溫度在任何情況下不得超過(guò)居里溫度。這意味著飽和電感的磁芯應(yīng)該具有最有利的散熱特性和結(jié)構(gòu),即:更高的居里溫度、更高的導(dǎo)熱系數(shù)、更大的散熱面積、更短的熱傳導(dǎo)路徑。


          ●飽和特性

          顯然飽和電感一般不必考慮使用氣隙或者不易飽和的低導(dǎo)磁率材料。


          ●初始電感等效特性

          在其他條件相同情況下,較低導(dǎo)磁率的磁芯配合較多匝數(shù)、與較高導(dǎo)磁率的磁芯配合較少匝數(shù)的飽和電感初始電感相當(dāng),緩沖效果大致相當(dāng)。

          這意味著直接采用1 匝的穿心電感總是可能的,因?yàn)槿魏味嘣训碾姼锌偪梢哉业礁邔?dǎo)磁率的磁芯配合1 匝等效之。這還意味著磁芯最高導(dǎo)磁率受到限制,如果一個(gè)適合的磁芯配合1 匝的飽和電感,將沒(méi)有使用更高導(dǎo)磁率的磁芯配合更少匝數(shù)的可能。


          ●磁芯體積等效特性

          在其他條件相同情況下,相同體積的磁芯的飽和電感緩沖效果大致相當(dāng)。既然如此,磁芯可以按照最有利于散熱的磁路進(jìn)行設(shè)計(jì)。比如細(xì)長(zhǎng)的管狀磁芯比環(huán)狀磁芯、多個(gè)小磁芯比集中一個(gè)大磁芯、穿心電感比多匝電感顯然具有更大的散熱表面積。


          ●組合特性

          有時(shí)候,單一材質(zhì)的磁芯并不能達(dá)到工程上需要的緩沖效果,采用多種材質(zhì)的磁芯相互配合或許才能能夠滿(mǎn)足工程需要。


          無(wú)源無(wú)損緩沖吸收

          ●如果緩沖電感本身是無(wú)損的(非飽和電感),而其電感儲(chǔ)能又是經(jīng)過(guò)無(wú)損吸收的方式處理的,即構(gòu)成無(wú)源無(wú)損緩沖吸收電路,實(shí)際上這也是無(wú)源軟開(kāi)關(guān)電路。

          ●緩沖電感的存在延遲和削弱的開(kāi)通沖擊電流,實(shí)現(xiàn)了一定程度的軟開(kāi)通。

          ●無(wú)損吸收電路的存在延遲和降低了關(guān)斷電壓的dv/dt,實(shí)現(xiàn)了一定程度的軟關(guān)斷。

          ●實(shí)現(xiàn)無(wú)源軟開(kāi)關(guān)的條件與無(wú)損吸收大致相同。并不是所有拓?fù)涠寄軌虼罱ǔ鲆粋€(gè)無(wú)源軟開(kāi)關(guān)電路。因此除了經(jīng)典的電路外,很多無(wú)源軟開(kāi)關(guān)電路都是被專(zhuān)利的熱門(mén)。

          ●無(wú)源無(wú)損軟開(kāi)關(guān)電路效率明顯高于其他緩沖吸收方式,與有源軟開(kāi)關(guān)電路效率相差無(wú)幾。因此只要能夠?qū)崿F(xiàn)無(wú)源軟開(kāi)關(guān)的電路,可不必采用有源軟開(kāi)關(guān)。


          濾波緩沖

          ●電路中的電解電容一般具有較大的ESR(典型值是百毫歐姆數(shù)量級(jí)),這引起兩方面問(wèn)題:一是濾波效果大打折扣;二是紋波電流在ESR上產(chǎn)生較大損耗,這不僅降低效率,而且由于電解電容發(fā)熱直接導(dǎo)致的可靠性和壽命問(wèn)題。

          ●一般方法是在電解電容上并聯(lián)高頻無(wú)損電容,而事實(shí)上,這一方法并不能使上述問(wèn)題獲得根本的改變,這是由于高頻無(wú)損電容在開(kāi)關(guān)電源常用頻率范圍內(nèi)仍然存在較大的阻抗的緣故。

          ●提出的辦法是:用電感將電解和CBB分開(kāi),CBB位于高頻紋波電流側(cè),電解位于直流(工頻)側(cè),各自承擔(dān)對(duì)應(yīng)的濾波任務(wù)。

          ●設(shè)計(jì)原則:Π形濾波網(wǎng)絡(luò)的諧振頻率Fn應(yīng)該錯(cuò)開(kāi)PWM頻率Fp??扇p=(1.5~2)Fn 。

          ●這一設(shè)計(jì)思想可以延伸到直流母線濾波的雙向緩沖,或者其他有較大濾波應(yīng)力的電路結(jié)構(gòu)。


          振鈴

          振鈴的危害:

          ●MEI測(cè)試在振鈴頻率容易超標(biāo)。

          ●振鈴將引起振鈴回路的損耗,造成器件發(fā)熱和降低效率。

          ●振鈴電壓幅度超過(guò)臨界值將引起振鈴電流,破環(huán)電路正常工況,效率大幅度降低。

          振鈴的成因:

          ●振鈴多半是由結(jié)電容和某個(gè)等效電感的諧振產(chǎn)生的。對(duì)于一個(gè)特定頻率的振鈴,總可以找到原因。電容和電感可以確定一個(gè)頻率,而頻率可以觀察獲得。電容多半是某個(gè)器件的結(jié)電容,電感則可能是漏感。

          ●振鈴最容易在無(wú)損(無(wú)電阻的)回路發(fā)生。比如:副邊二極管結(jié)電容與副邊漏感的諧振、雜散電感與器件結(jié)電容的諧振、吸收回路電感與器件結(jié)電容的諧振等等。


          振鈴的抑制:

          ●磁珠吸收,只要磁珠在振鈴頻率表現(xiàn)為電阻,即可大幅度吸收振鈴能量,但是不恰當(dāng)?shù)拇胖橐部赡茉黾诱疋彙?/span>

          ●RC 吸收,其中C可與振鈴(結(jié))電容大致相當(dāng),R 按RC吸收原則選取。

          ●改變諧振頻率,比如:只要將振鈴頻率降低到PWM頻率相近,即可消除PWM上的振鈴。

          ●特別地,輸入輸出濾波回路設(shè)計(jì)不當(dāng)也可能產(chǎn)生諧振,也需要調(diào)整諧振頻率或者其他措施予以規(guī)避。


          吸收緩沖能量再利用:

          RCD吸收能量回收電路

          ●只要將吸收電路的正程和逆程回路分開(kāi),形成相對(duì)0 電位的正負(fù)電流通道,就能夠獲得正負(fù)電壓輸出。其設(shè)計(jì)要點(diǎn)為:

          ●RCD吸收電路參數(shù)應(yīng)主要滿(mǎn)足主電路吸收需要,不建議采用增加吸收功率的方式增加直流輸出功率。輸出電流由L1、R1控制。逆程回路的阻抗同樣應(yīng)滿(mǎn)足吸收回路逆程時(shí)間的需要,調(diào)整L1、R1的大小可控制輸出功率大小,當(dāng)R1減少到0時(shí),該電路達(dá)到最大可能輸出電流和最大輸出功率。

          ●輸出電壓基本上可由齊納門(mén)檻電壓任意設(shè)定,需注意齊納二極管的功率匹配。


          RCD鉗位能量回收電路

          RCD鉗位吸收回收電路輸出電壓與鉗位電壓有關(guān),可控制范圍有限。如果回收電源負(fù)載不能確定,需要確保在任意負(fù)載狀態(tài)下吸收狀態(tài)不變,不影響主電路。

          注意回收電路的接地,避免成為共模干擾源。




          關(guān)鍵詞: MOS管 電路設(shè)計(jì)

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