了解近場探頭的工作原理及其在解決EMI問題中的應用。

在投放市場之前，電子產(chǎn)品必須符合電磁兼容性（EMC）的法律標準。EMC是指系統(tǒng)在不干擾其他設備或不受外部干擾的情況下正常運行的能力。由于對每個潛在用例進行測試是不切實際的，EMC標準包括一套評估產(chǎn)品性能的規(guī)則和條件。

EMC測試分為兩大類：

排放測試：確保電力線、通信線和系統(tǒng)本身排放的能量保持在可接受的范圍內。設備經(jīng)常無法通過排放測試，因為它的某些部分會產(chǎn)生過多的輻射能量。

抗擾度測試：驗證被測設備（EUT）即使在受到外部干擾時也能保持功能。最常見的故障原因是EUT的一個或多個組件對施加的電場或磁場過于敏感。

從產(chǎn)品開發(fā)的早期階段就解決EMC合規(guī)性問題非常重要，同時還有時間解決出現(xiàn)的任何問題。一旦系統(tǒng)被設計和構建，就很難進行必要的修改。

不幸的是，當在正式的EMC測試活動中出現(xiàn)問題時，很難甚至不可能知道問題的確切位置。例如，假設我們正在EMC室中測試一個系統(tǒng)。每個EMC問題都有三個部分：

來源：產(chǎn)生過量排放的部件或結構。

受害者：受排放物影響的部件。

耦合路徑：從源頭到受害者的路徑。

EMC室測量遠場中的發(fā)射，因此這里的受害者將是測量天線，路徑將是室內的自由空氣。然而，我們仍然不知道排放的來源。

或者，假設計算機的屏幕在輻射抗擾度測試期間開始閃爍。問題的影響在屏幕上是可見的，但問題的根源可能是屏蔽有缺陷的屏幕電纜、主處理器對測試頻率的敏感性，或者完全是其他原因。

識別電磁干擾（EMI）的原因通常需要特殊的工具。事實上，只要一個工具是近場探頭，就有可能消除數(shù)小時的故障排除。在EMC測試期間，我們可以使用近場探頭來識別源和受害者。正如我們將在本文稍后討論的那樣，它們也可用于驗證EMI屏蔽的有效性。

什么是近場探測器？

近場探頭（圖1）是用于測量其源附近電磁場的診斷工具。它們對電場（E）或磁場（H）都很敏感。相比之下，遠場測量無法將E場與H場分開，因此很難確定干擾來自哪里。

近場探頭套件。

圖1 近場探頭套件。圖片由Tekbox提供

近場探測器的物理工作原理基于麥克斯韋方程組。當置于時變電場中時，電場探頭會產(chǎn)生可測量的電壓。類似地，H場探頭在存在時變磁場的情況下產(chǎn)生可測量的電流。

近場探頭，無論是E場還是H場，通常與頻譜分析儀一起使用，以觀察頻率分布。然而，如果你想觀察時間變化，也可以使用帶示波器的近場探頭。

為什么在EMC測試中使用近場探頭？

正如我們上面提到的，近場探頭可以幫助我們在EMC故障排除期間執(zhí)行以下操作：

識別排放源。

查找敏感組件。

驗證屏蔽的有效性。

識別排放源

讓我們回到我們的第一個例子，我們在EMC室中測試了一個系統(tǒng)，遇到了過量排放。為了排除故障，我們需要知道哪個組件或結構是問題的根源。近場探測器如何幫助我們找到它？

在近場中，我們將有一個主導的電場或磁場。因此，我們需要E場和H場探測器來找到排放源。為了測量發(fā)射水平，我們將探頭放置在電路附近。知道高水平發(fā)射的頻率，我們可以測量EUT周圍的磁場或電場。

查找敏感組件

在抗擾度測試中，我們施加強電場或磁場，觀察系統(tǒng)是否按預期工作。當一個系統(tǒng)測試失敗時，這是因為一個組件或一組組件對施加的場及其頻率很敏感。假設我們知道可能干擾EUT的頻帶，我們可以將信號發(fā)生器連接到探頭，并產(chǎn)生一個復制EMC實驗室觀察到的行為的場。

驗證屏蔽效果

EMI屏蔽用于吸收或反射電磁能。圖2顯示了EMC膠帶的一個示例，這是一種EMI屏蔽形式。

用于屏蔽電子設備的EMC膠帶。

圖2 用于屏蔽電子設備的EMC膠帶。圖片由Holland Shielding提供

在設計屏蔽時，有兩個主要參數(shù)需要考慮：

頻率范圍。

衰減。

為了測量屏蔽的有效性，我們將一個近場探頭連接到信號發(fā)生器，將第二個近場探針連接到頻譜分析儀。Kenneth Wyatt的文章“用兩個近場探頭測量屏蔽效率”詳細描述了這一過程。為避免錯誤測量，請務必考慮探頭的頻率限制。

近場探頭的有效使用

現(xiàn)在我們已經(jīng)清楚地了解了為什么近場探頭在EMC故障排除中很有用，讓我們簡要回顧一下如何充分利用探頭的一些技巧。最常見的設置是通過同軸電纜將探頭連接到頻譜分析儀。為了減少直接耦合到電纜中的高頻噪聲，您可能需要在同軸電纜中添加鐵氧體。

探頭尺寸將決定其靈敏度。大型探測器可以捕獲高水平，但空間分辨率低。從大探頭開始，然后在確定產(chǎn)生排放的區(qū)域后使用較小的探頭。系統(tǒng)化并遵循迭代方法。

擁有可訪問的工具來解決EMC問題對于控制風險至關重要。近場探頭是一種易于使用的工具，從第一個原型到整個系統(tǒng)的認證，都可以在經(jīng)過認證的實驗室中使用。正如我們現(xiàn)在所看到的，它們可以用來定位有問題的組件或測量屏蔽結構的有效性。通過這樣做，近場探頭可以幫助硬件設計人員和EMC測試人員以實惠的價格縮短上市時間。