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          IC測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)答

          作者: 時(shí)間:2013-09-22 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          我在測(cè)試的時(shí)候,有些DC參數(shù)在同樣的條件下幾次測(cè)試的結(jié)果相差很大。不明白是為什么?

            你使用的測(cè)試機(jī)臺(tái)是什么型號(hào)?測(cè)試的產(chǎn)品是屬于哪種?還有具體什么參數(shù),相差多少?

            我們用的是credence kalos,測(cè)試的是memory,在測(cè)ICC時(shí),可能從幾百u(mài)A--幾十mA,實(shí)際值應(yīng)該在十幾mA。

            credence kalos 我沒(méi)有用過(guò),不過(guò)ICC不穩(wěn)定原因有很多,如果其他同批產(chǎn)品沒(méi)有這個(gè)問(wèn)題的話可能是這個(gè)IC的問(wèn)題,可以先做下BENCHTEST,一般初期診斷是更換測(cè)試機(jī)臺(tái)或者用標(biāo)準(zhǔn)器件做比較。個(gè)人看法,僅供參考

            benchtest是什么意思?還有就是同一顆IC多次測(cè)試他為什么會(huì)不穩(wěn)定。

            狀態(tài)不穩(wěn)定可能是ICC不穩(wěn)定的原因 如果同一個(gè)芯片測(cè)試不穩(wěn)定而且誤差比較大,可從以下2方面去看:

            1. 在測(cè)量時(shí)芯片所處的狀態(tài)是否穩(wěn)定。

            2. 芯片的Input pin是否有Floating,Output pin是否在不停的翻轉(zhuǎn)

            就是自己搭模擬電路測(cè)試,用電源,示波器...比較麻煩,而且需要APPLICATION BOARD,不知道你們有沒(méi)有。如果是同一顆不穩(wěn)定,一般會(huì)交給DA或者FA去分析,CURVE TRACE先吧。

            電源干凈么? 先看一下電源腳是否干凈。然后換一下電流的range來(lái)看一下,最好用樣品校驗(yàn)一下。

            電源很干凈,range應(yīng)該也沒(méi)有問(wèn)題,它有10mA左右的電流,用25mA的range。應(yīng)該沒(méi)有問(wèn)題,只是有時(shí)電流會(huì)變成100uA左右。樣品在10mA左右很穩(wěn)定。

            如果是MEMORY測(cè)試,可以對(duì)其寫(xiě)相同的數(shù)據(jù)讓口上不翻轉(zhuǎn).然后看看會(huì)不會(huì)好點(diǎn).但是據(jù)你所說(shuō)樣品沒(méi)有問(wèn)題的話,可能這個(gè)問(wèn)題無(wú)解.

            多比較

            IDD (ICC)一般為一個(gè)器件的特征值,分布范圍不會(huì)很大,100uA-10mA的變化肯定是異常的。

            1) 如果真的是樣品在10mA左右很穩(wěn)定, 那么設(shè)備及測(cè)試程序沒(méi)有問(wèn)題,產(chǎn)品的問(wèn)題可能很大,也不需要花費(fèi)很大腦筋,正如Code631兄說(shuō)的,交給DA/FA。

            2)如果產(chǎn)品沒(méi)有問(wèn)題,則要確認(rèn)Hardware, Test Program方面的問(wèn)題

            -〉 Hardware重點(diǎn)確認(rèn)Relay的動(dòng)作是否穩(wěn)定,可以在程序Meter讀之前設(shè)置斷點(diǎn),然后不停的Strobe Meter,看Meter值是否穩(wěn)定。這是驗(yàn)證Hardware動(dòng)作靜止的情況下,電流值是否跳動(dòng)。

            -〉 確認(rèn)Drive Pattern是否正常,IDD和Pattern有直接的關(guān)系,如果Pattern編寫(xiě)不正常,會(huì)造成DUT功耗不穩(wěn)定。

            但是,如果標(biāo)準(zhǔn)樣品穩(wěn)定,就不


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