為什么要發(fā)展測試友好技術(shù)
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過去，若某一產(chǎn)品在上一測試點(diǎn)不能測試，那么這個(gè)問題就被簡單地推移到直一個(gè)測試
點(diǎn)上去。如果產(chǎn)品缺陷在生產(chǎn)測試中不能發(fā)現(xiàn)，則此缺陷的識(shí)別與診斷也會(huì)簡單地被推移到
功能和系統(tǒng)測試中去。
相反地，今天人們試圖盡可能提前發(fā)現(xiàn)缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今
天的產(chǎn)品非常復(fù)雜，某些制造缺陷在功能測試中可能根本檢查不出來。例如某些要預(yù)先裝軟
件或編程的元件，就存在這樣的問題。（如快閃存儲(chǔ)器或ISPs：In-System Programmable
Devices 系統(tǒng)內(nèi)可編程器件）。這些元件的編程必須在研制開發(fā)階段就計(jì)劃好，而測試系統(tǒng)
也必須掌握這種編程。
測試友好的電路設(shè)計(jì)要費(fèi)一些錢，然而，測試?yán)щy的電路設(shè)計(jì)費(fèi)的錢會(huì)更多。測試本身
是有成本的，測試成本隨著測試級(jí)數(shù)的增加而加大；從在線測試到功能測試以及系統(tǒng)測試，
測試費(fèi)用越來越大。如果跳過其中一項(xiàng)測試，所耗費(fèi)用甚至?xí)蟆?/P>
一般的規(guī)則是每增加一級(jí)測試費(fèi)用的增加系數(shù)是10 倍。通過測試友好的電路設(shè)計(jì)，可以及早發(fā)現(xiàn)故障，從而使測試友好的電路設(shè)計(jì)所費(fèi)的錢迅速地得到補(bǔ)償。
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