新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)研究
新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)研究
介紹由工業(yè)PC控制的且符合IEC61010標(biāo)準(zhǔn)的耐壓測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)由程控電源、測(cè)試回路、信號(hào)采樣/調(diào)理電路和數(shù)據(jù)采集接口卡等部分組成。實(shí)驗(yàn)表明,系統(tǒng)工作穩(wěn)定,數(shù)據(jù)重復(fù)精度高。
關(guān)鍵詞:耐壓;測(cè)試;工業(yè)PC
Research on a New Type of Withstanding Voltage Testing System
YANG Shengbing, LI Dong, WANG Xiaofei, WANG Yanlin
(Department of Electronic Engineering, Beijing Institude of Machinery,
Beijing 100085, China)
Beijing 100085, China)
Key words: withstanding voltage; test; IPC
電器裝置、絕緣材料和絕緣結(jié)構(gòu)的耐壓能力,反映了實(shí)際工作狀態(tài)下設(shè)備的安全性能,是一個(gè)對(duì)人體安全有著直接影響的電參數(shù)。因此,進(jìn)行耐壓測(cè)試是檢驗(yàn)安全性能的重要技術(shù)指標(biāo)之一。?
耐壓測(cè)試的基礎(chǔ)理論是:將一個(gè)產(chǎn)品暴露在非常惡劣的環(huán)境之下,如果產(chǎn)品能夠在這種惡劣的環(huán)境之下能維持正常狀況,就可以確定在正常的環(huán)境之下工作也一定可以維持正常的狀況。耐壓測(cè)試主要達(dá)到如下目的:1.檢查絕緣耐受工作電壓或過電壓的能力;2.檢查電氣設(shè)備絕緣制造或檢修質(zhì)量;3.排除因原材料,加工或運(yùn)輸對(duì)絕緣的影響因素;4.檢查絕緣電氣間隙和爬電距離。
進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)(如圖1所示),由高壓發(fā)生器產(chǎn)生一設(shè)定的高電壓,通過控制開關(guān)K的開合,把一個(gè)高于正常工作的電壓加在被測(cè)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試,所加電壓值由高壓發(fā)生器兩端的電壓表測(cè)定,這個(gè)電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間,通過觀測(cè)回路中電流表的漏電流值的大小來確定被測(cè)試件的耐壓能力。如果一個(gè)被測(cè)設(shè)備或零部件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi),其漏電電流亦保持在規(guī)定的范圍內(nèi),就可以確定這個(gè)被測(cè)設(shè)備在正常條件下能安全地運(yùn)行。
不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格。對(duì)一般器具來說,耐壓測(cè)試是測(cè)試火線與機(jī)殼之間的漏電流值?;疽?guī)定是:以兩倍于被測(cè)物的工作電壓,再加1000V,作為測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓。有些產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能高于兩倍工作電壓加1000V。在IEC61010中規(guī)定,在5s內(nèi)測(cè)試電壓逐漸地上升到所要求的試驗(yàn)電壓值(例如5kV等),然后保持規(guī)定的時(shí)間(5s),同時(shí)測(cè)得回路的漏電流值,以便確定耐壓測(cè)試是否符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),再在規(guī)定的時(shí)間(例如5s)內(nèi),將試驗(yàn)電壓逐漸地降至零。[1]?
進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)(如圖1所示),由高壓發(fā)生器產(chǎn)生一設(shè)定的高電壓,通過控制開關(guān)K的開合,把一個(gè)高于正常工作的電壓加在被測(cè)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試,所加電壓值由高壓發(fā)生器兩端的電壓表測(cè)定,這個(gè)電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間,通過觀測(cè)回路中電流表的漏電流值的大小來確定被測(cè)試件的耐壓能力。如果一個(gè)被測(cè)設(shè)備或零部件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi),其漏電電流亦保持在規(guī)定的范圍內(nèi),就可以確定這個(gè)被測(cè)設(shè)備在正常條件下能安全地運(yùn)行。
不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格。對(duì)一般器具來說,耐壓測(cè)試是測(cè)試火線與機(jī)殼之間的漏電流值?;疽?guī)定是:以兩倍于被測(cè)物的工作電壓,再加1000V,作為測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓。有些產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能高于兩倍工作電壓加1000V。在IEC61010中規(guī)定,在5s內(nèi)測(cè)試電壓逐漸地上升到所要求的試驗(yàn)電壓值(例如5kV等),然后保持規(guī)定的時(shí)間(5s),同時(shí)測(cè)得回路的漏電流值,以便確定耐壓測(cè)試是否符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),再在規(guī)定的時(shí)間(例如5s)內(nèi),將試驗(yàn)電壓逐漸地降至零。[1]?
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測(cè)試系統(tǒng)由電源、信號(hào)采集、調(diào)理、A/D轉(zhuǎn)換、SPWM發(fā)生器和計(jì)算機(jī)等構(gòu)成。進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí),計(jì)算機(jī)輸出適當(dāng)?shù)臄?shù)字量,得到對(duì)應(yīng)的SPWM波,從而在變壓器高壓側(cè)產(chǎn)生一規(guī)定的高電壓,該電壓施加在被測(cè)試件上。計(jì)算機(jī)通過電壓、電流傳感器采集試件兩端的電壓和測(cè)試回路的電流參數(shù),通過閉環(huán)控制技術(shù)可以得到測(cè)試規(guī)定的電壓,再通過軟件就可以測(cè)定被測(cè)試件的耐壓能力。本文介紹的新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)符合最新IEC61010標(biāo)準(zhǔn),采用工業(yè)計(jì)算機(jī)控制技術(shù);實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)試過程,軟件界面友好,操作簡(jiǎn)單,能方便與其他幾項(xiàng)測(cè)試參數(shù)組合進(jìn)行綜合測(cè)試。需要說明的是,耐壓測(cè)試系統(tǒng)是儀器儀表安全性能綜合測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目的一項(xiàng)指標(biāo)。主要指標(biāo)有:耐壓輸出0~5kV,自動(dòng)升壓(AC);漏電流0.1~20mA,任意設(shè)定(AC);準(zhǔn)確度(1~3)%;測(cè)試時(shí)間5s(IEC61010規(guī)定為5s,但可以根據(jù)需要任意設(shè)定)。耐壓測(cè)試系統(tǒng)圖見圖2。
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電壓采樣由與高壓變壓器共繞組的傳感器來實(shí)現(xiàn),電壓傳感器的高壓側(cè)在0~5000V之間變化,而采樣低壓輸出側(cè)在0~5V之間變化,它們之間具有較好的線性關(guān)系;采樣電壓進(jìn)入信號(hào)調(diào)理部分之前采用了光隔措施。電流的采樣由串聯(lián)在測(cè)試回路中的電流互感器來完成。由于漏電流最大設(shè)定值在20mA,電流傳感器選用原邊電流是40mA、副邊電流是17mA的電流互感器。調(diào)理好的信號(hào)經(jīng)過采集板卡中的多路模擬開關(guān)、A/D采集到計(jì)算機(jī)后,求出均方根值;最后通過試驗(yàn)對(duì)采集信號(hào)進(jìn)行標(biāo)定后,將相應(yīng)的函數(shù)關(guān)系保存在程序中,然后按照測(cè)試的需要,通過軟件進(jìn)行標(biāo)度變換,求出實(shí)際測(cè)試的電壓值、電流值、測(cè)試時(shí)間等。其中標(biāo)度變換包括放大環(huán)節(jié)處理、阻值轉(zhuǎn)換、傳輸比換算以及系統(tǒng)綜合標(biāo)定等步驟。
2.2計(jì)算機(jī)接口電路及控制邏輯、控制電平接口
數(shù)據(jù)采集電路采用自行設(shè)計(jì)的ISA板卡,包括地址譯碼電路、總線接口、A/D轉(zhuǎn)換、模擬開關(guān)等部分;可以完成模擬量的輸入/輸出、數(shù)字量的輸入/輸出。
系統(tǒng)中,通過數(shù)字輸出信號(hào)的高低控制交流接觸器的開合,包括耐壓測(cè)試儀的啟動(dòng)、保護(hù)、停止,以及通過數(shù)字輸出信號(hào)的控制來實(shí)現(xiàn)電源模塊中的SPWM信號(hào)的產(chǎn)生、驅(qū)動(dòng)信號(hào)的啟動(dòng)與封鎖等邏輯控制。另外,系統(tǒng)的操作都是由計(jì)算機(jī)程序來實(shí)現(xiàn)的,而計(jì)算機(jī)總線的數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)字I/O信號(hào)邏輯電平不能直接驅(qū)動(dòng)接觸器,因此,在硬件電路上設(shè)計(jì)了相關(guān)的控制電平轉(zhuǎn)換電路,比如:通過固態(tài)繼電器SSR來驅(qū)動(dòng)接?觸器。
2.3電源
電源部分采用計(jì)算機(jī)閉環(huán)控制技術(shù)。交流電壓U?1(50Hz、220V)經(jīng)過整流、濾波后產(chǎn)生的直流電壓U?2在(0.9~1.414)[2]倍交流電源電壓值范圍內(nèi)變化;單相逆變由IGBT構(gòu)成的H橋來實(shí)現(xiàn),通過控制IGBT的H橋臂的門極觸發(fā)脈沖序列得到所需要的交流電壓。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)的脈沖序列采用SPWM波進(jìn)行控制,計(jì)算機(jī)輸出適當(dāng)?shù)臄?shù)字信號(hào),通過電壓采樣環(huán)節(jié)構(gòu)成閉環(huán),輸出基本連續(xù)可調(diào)的交流電壓;在交流輸出側(cè)再加一級(jí)濾波環(huán)節(jié)得到比較理想的正弦波。而控制SPWM波是通過控制調(diào)制度m(正弦波幅值和三角波幅值之比)來實(shí)現(xiàn)的;改變正弦波的幅值,使調(diào)制度m變化(調(diào)制度m具有256個(gè)可變值),從而達(dá)到控制耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓的目的。逆變輸出的交流電壓U3是0.5倍直流側(cè)電壓與調(diào)制度m的乘積[2]。由于耐壓測(cè)試需要較高的電壓,為此,設(shè)計(jì)了一級(jí)升壓變壓環(huán)節(jié)。通過電壓采樣環(huán)節(jié)和采用計(jì)算機(jī)閉環(huán)控制技術(shù),將設(shè)定的測(cè)試高壓U4施加在被測(cè)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試(圖3)。
2.2計(jì)算機(jī)接口電路及控制邏輯、控制電平接口
數(shù)據(jù)采集電路采用自行設(shè)計(jì)的ISA板卡,包括地址譯碼電路、總線接口、A/D轉(zhuǎn)換、模擬開關(guān)等部分;可以完成模擬量的輸入/輸出、數(shù)字量的輸入/輸出。
系統(tǒng)中,通過數(shù)字輸出信號(hào)的高低控制交流接觸器的開合,包括耐壓測(cè)試儀的啟動(dòng)、保護(hù)、停止,以及通過數(shù)字輸出信號(hào)的控制來實(shí)現(xiàn)電源模塊中的SPWM信號(hào)的產(chǎn)生、驅(qū)動(dòng)信號(hào)的啟動(dòng)與封鎖等邏輯控制。另外,系統(tǒng)的操作都是由計(jì)算機(jī)程序來實(shí)現(xiàn)的,而計(jì)算機(jī)總線的數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)字I/O信號(hào)邏輯電平不能直接驅(qū)動(dòng)接觸器,因此,在硬件電路上設(shè)計(jì)了相關(guān)的控制電平轉(zhuǎn)換電路,比如:通過固態(tài)繼電器SSR來驅(qū)動(dòng)接?觸器。
2.3電源
電源部分采用計(jì)算機(jī)閉環(huán)控制技術(shù)。交流電壓U?1(50Hz、220V)經(jīng)過整流、濾波后產(chǎn)生的直流電壓U?2在(0.9~1.414)[2]倍交流電源電壓值范圍內(nèi)變化;單相逆變由IGBT構(gòu)成的H橋來實(shí)現(xiàn),通過控制IGBT的H橋臂的門極觸發(fā)脈沖序列得到所需要的交流電壓。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)的脈沖序列采用SPWM波進(jìn)行控制,計(jì)算機(jī)輸出適當(dāng)?shù)臄?shù)字信號(hào),通過電壓采樣環(huán)節(jié)構(gòu)成閉環(huán),輸出基本連續(xù)可調(diào)的交流電壓;在交流輸出側(cè)再加一級(jí)濾波環(huán)節(jié)得到比較理想的正弦波。而控制SPWM波是通過控制調(diào)制度m(正弦波幅值和三角波幅值之比)來實(shí)現(xiàn)的;改變正弦波的幅值,使調(diào)制度m變化(調(diào)制度m具有256個(gè)可變值),從而達(dá)到控制耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓的目的。逆變輸出的交流電壓U3是0.5倍直流側(cè)電壓與調(diào)制度m的乘積[2]。由于耐壓測(cè)試需要較高的電壓,為此,設(shè)計(jì)了一級(jí)升壓變壓環(huán)節(jié)。通過電壓采樣環(huán)節(jié)和采用計(jì)算機(jī)閉環(huán)控制技術(shù),將設(shè)定的測(cè)試高壓U4施加在被測(cè)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試(圖3)。
軟件部分主要完成數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)、分析、輸出、顯示等任務(wù),當(dāng)然,軟件的實(shí)現(xiàn)過程要體現(xiàn)IEC61010中的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。通過程序?qū)崿F(xiàn)測(cè)試電源部分的準(zhǔn)確控制。待測(cè)試電壓達(dá)到測(cè)試要求值時(shí),啟動(dòng)計(jì)時(shí)開始測(cè)試,測(cè)試結(jié)束后相應(yīng)的測(cè)試指標(biāo)都顯示在軟件界面上,同時(shí)顯示產(chǎn)品是否合格,并產(chǎn)生報(bào)警(測(cè)試主流程圖見圖4)。無論在升壓還是恒壓過程中,發(fā)生被試樣品擊穿現(xiàn)象時(shí)則試驗(yàn)裝置急速降壓至零,并發(fā)出聲光報(bào)警信號(hào),顯示出試樣的實(shí)際擊穿電壓值以及實(shí)際擊穿電流大小。此軟件還可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試前自校準(zhǔn)、自診斷,自動(dòng)消除可能的誤差因素或?qū)收蠄?bào)警等[3]、[4]。?
用測(cè)試軟件控制升壓變壓器產(chǎn)生高電壓,施加在大負(fù)載電阻上,通過電流互感器采集漏電流;在IEC61010標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求下,以不同的高壓進(jìn)行多次試驗(yàn)測(cè)試,測(cè)量數(shù)據(jù)重復(fù)精度高;通過變換不同的大負(fù)載電阻,測(cè)量數(shù)據(jù)線性度高;與實(shí)際的耐壓測(cè)試儀器進(jìn)行比對(duì)試驗(yàn),數(shù)據(jù)一致性較好。測(cè)得的漏電流見表1。我們?cè)O(shè)計(jì)的耐壓測(cè)試系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)測(cè)、控、顯一體化,具有超標(biāo)報(bào)警等功能;軟件界面友好,操作簡(jiǎn)單,容易升級(jí)。
參考文獻(xiàn)?
[2]陳國(guó)呈.PWM變頻調(diào)速及軟開關(guān)電力變換技術(shù)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2001.
[3]林衛(wèi)星.十六位單片機(jī)在耐壓測(cè)試儀中的應(yīng)用[J].工業(yè)控制計(jì)算機(jī),2002,15(6).
[4]賴壽宏.微型計(jì)算機(jī)控制技術(shù)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2002.
[3]林衛(wèi)星.十六位單片機(jī)在耐壓測(cè)試儀中的應(yīng)用[J].工業(yè)控制計(jì)算機(jī),2002,15(6).
[4]賴壽宏.微型計(jì)算機(jī)控制技術(shù)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2002.
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故障現(xiàn)象:電路在使用中出現(xiàn)通訊錯(cuò)誤。檢查51本身串口及8251工作皆正常,最后發(fā)現(xiàn)循環(huán)對(duì)6264進(jìn)行讀寫操作時(shí),間或出現(xiàn)錯(cuò)誤。因?yàn)楦鞔谕ㄓ崟r(shí),緩存的數(shù)據(jù)會(huì)存入6264。分析這可能是造成故障的根源。
進(jìn)一步檢查51和RAM6264之間工作的時(shí)序。根據(jù)ATMEL公司的器件手冊(cè),其寫波形如下:
進(jìn)一步檢查51和RAM6264之間工作的時(shí)序。根據(jù)ATMEL公司的器件手冊(cè),其寫波形如下:
故障分析:現(xiàn)在大部分電路采用CMOS器件。而CMOS器件的門限電平(2.0~2.5V)和TTL電平(0.8~2.0V)不一樣。89C52的ALE在輸出時(shí),下降沿有時(shí)會(huì)出現(xiàn)尖峰,而地址鎖存芯片采用了74HCT373。由于兩種電平判斷的差異,ALE的毛刺將數(shù)據(jù)當(dāng)?shù)刂分匦骆i存,造成錯(cuò)誤。
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由于福祿克公司的199C示波表具有臺(tái)式數(shù)字存儲(chǔ)示波器的性能,200MHz的帶寬,2.5GS/s的采樣率;兩個(gè)浮地隔離的輸入通道;可用電池工作,體積小,重量輕,攜帶方便,故特別適合現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試電路,查找故障。
評(píng)論