0 引言

A／D轉(zhuǎn)換電路是數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中的重要部分，也是計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中一種重要的功能接口。目前市場(chǎng)上有兩種常用的A／D轉(zhuǎn)換芯片，一類是逐次逼近式的，如AD1674，其特點(diǎn)是轉(zhuǎn)換速度較高，功率較低。另一類是雙積分式的，如ICL7135，其特點(diǎn)是轉(zhuǎn)換精度高、抗干擾能力強(qiáng)。但高位數(shù)的A／D轉(zhuǎn)換器價(jià)格相對(duì)較高。本文介紹的一種基于單片機(jī)的高精度、雙積分型A／D轉(zhuǎn)換電路，具有電路體積小、成本低、性價(jià)比高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、調(diào)試容易和工作可靠等特點(diǎn)，有很好的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。

1 雙積分式ADC基本原理

雙積分式ADC的基本電路如圖1所示，運(yùn)放A 1、R、C用來組成積分器，運(yùn)放A2作為比較器。電路先對(duì)未知的模擬輸入電壓U1進(jìn)行固定時(shí)間T1的積分，然后轉(zhuǎn)為對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電壓U0進(jìn)行反向積分，直到積分輸出返回起始值，反向積分時(shí)間為T0。如圖2所示，輸入電壓U1越大，則反向積分時(shí)間越長(zhǎng)。整個(gè)采樣期間，積分電容C上的充電電荷等于放電電荷，因而有

由于U0及T1均為常數(shù)，因而反向積分時(shí)間T0與輸入模擬電壓U1成正比，此期問單片機(jī)的內(nèi)部計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)值與信號(hào)電壓的大小成正比，此計(jì)數(shù)值就是U1所對(duì)應(yīng)的數(shù)字量。

2 實(shí)用雙積分A／D轉(zhuǎn)換電路

1)硬件電路圖

如圖3所示，運(yùn)放A1、R、C構(gòu)成積分電路，C常取0．22μF的聚丙烯電容，R常取500kΩ左右，A2是電壓跟隨器，為電路提供穩(wěn)定的比較電壓，運(yùn)放 A3作為電壓比較器，保證A／D轉(zhuǎn)換電平迅速翻轉(zhuǎn)，CD4051是多路選擇開關(guān)，單片機(jī)P1．0、P1．1、P1．2作為輸出端口，控制其地址選擇端A、 B、C選擇不同的通道輸入到積分器A1，U為將要進(jìn)行A／D轉(zhuǎn)換的模擬輸入電壓，Uin為積分器的輸入電壓，U0為比較電壓，U1為基準(zhǔn)電壓，為使A／D 轉(zhuǎn)換結(jié)果具有更高的精度，基準(zhǔn)電路應(yīng)該提供精確的電壓，建議使用精度為1％的精密電阻，單片機(jī)使用89C51，其內(nèi)部定時(shí)器T0為積分電路提供精確的時(shí)間定時(shí)，計(jì)數(shù)器T1用來記錄反向積分時(shí)間，INT0用來檢測(cè)比較器電平變化。所需測(cè)量的模擬輸入信號(hào)和零點(diǎn)參考電壓以及基準(zhǔn)電壓接到多路選擇開關(guān)的輸入端，通過單片機(jī)中的程序控制，輪流選擇接入各路輸入信號(hào)，通過積分電路分別和固定電壓進(jìn)行定時(shí)或定值積分。

積分電路的輸出信號(hào)作為比較器的輸入信號(hào)與比較電壓進(jìn)行比較，當(dāng)比較器輸出翻轉(zhuǎn)信號(hào)時(shí)，CPU計(jì)數(shù)器停止計(jì)數(shù)，從而獲得零點(diǎn)參考電壓的計(jì)數(shù)值，對(duì)這個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理計(jì)算后，完成A／D轉(zhuǎn)換。

2)轉(zhuǎn)換過程

為了給積分電路提供積分零點(diǎn)，在系統(tǒng)上電階段，積分電路先接通GND，待比較器輸出為低電平時(shí)，再對(duì)積分電路進(jìn)行一段時(shí)間的放電，以使得積分電容零電荷。因此雙積分電路的工作過程分為三個(gè)階段：

(1)清零階段：當(dāng)比較器輸出低電平時(shí)，積分電容上聚集了大量電荷，必須對(duì)其放電為后續(xù)的A／D轉(zhuǎn)換提供精確的零起始點(diǎn)。即對(duì)U0進(jìn)行定值積分，由由此可見放電時(shí)間根據(jù)U0、U1、R、C具體值而定。