淺談借助靜電測試提高LED品質(zhì)
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結(jié)論
本文對所開發(fā)高速大動態(tài)范圍LED晶圓靜電量測模組，使輸出電壓可涵蓋規(guī)范靜電分類之最小電壓250V至最大電壓8000V大動態(tài)范圍；并縮短低電壓切換至高電壓上升時間至80ms以內(nèi)，未來將進行小型試量產(chǎn)與至客戶端進行耐久測試，并視商品化需求進行修改，以達高速與大動態(tài)范圍LED晶粒線上檢測與分類目的。于應(yīng)用方面除可用于LED靜電測試外主，搭配探針點測技術(shù)可應(yīng)用于半導(dǎo)體BGA、CSP（Chip Scale Package）、FC（Flip Chip）微小元件晶圓靜電測試。進一步應(yīng)用包括可用于X-ray Tubes、Photomultiplier Tubes、Electron Beam Focusing等。
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