【技術交流】LED芯片壽命試驗過程全解析 作者： 時間：2012-07-18 來源：網(wǎng)絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 源設備，輸出為5路直流36V安全電壓，負載能力為5A，其中2路具有微電腦定時控制功能，可自動開啟或關閉，5路輸入、輸出分別指示，圖三為壽命試驗臺系統(tǒng)接線圖。 本壽命試驗臺設計方案的優(yōu)點： [1].壽命試驗電流準確、可調、恒定; [2].具有微電腦定時控制功能，可自動開啟或關閉; [3].可同時適用不同VF的LED，而不必另外調整; [4].采用單元組合結構，可隨時增加壽命試驗單元，實現(xiàn)在線操作; [5].采用低壓供電，保障安全性能。 上一頁 1 2 下一頁
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