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          白光LED制程原理

          作者: 時(shí)間:2011-12-24 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          一、制程、量測(cè)與封裝設(shè)備

          ○1 MOCVD →有機(jī)金屬化學(xué)氣相沉積。(制程設(shè)備)
          ○2 DC Sputter →直流式高功率濺鍍機(jī)。(制程設(shè)備)
          ○3 PL →光激發(fā)光譜儀。(量測(cè)設(shè)備) ○4 測(cè)試機(jī)。(量測(cè)設(shè)備)
          ○5 金線焊接機(jī)。(封裝設(shè)備)

          二、磊芯片制程
          芯片清洗完畢后放入Sputter濺鍍第一層材料,濺鍍第一層Buffer layer再將其取出放入MOCVD反應(yīng)爐內(nèi),開始成長量子井的Thin Film Layer。MOCVD因?yàn)榭梢钥刂平饘儆袡C(jī)的化學(xué)材料系數(shù)的多寡,進(jìn)而控制電子躍遷時(shí)的能隙大小,且磊晶成長出來的Thin Film膜厚質(zhì)量佳,且MOCVD的操作較容易,因此在磊芯片所用的制程設(shè)備中目前業(yè)界在長晶方面皆使用MOCVD較多;因此接下來向大家說明目前實(shí)驗(yàn)室常使用的制程、量測(cè)設(shè)備工作原理:

          1、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition):是一種利用化學(xué)反應(yīng)來
          沉積磊晶Thin Film的制程方式。以制程為例,將金屬有機(jī)的化學(xué)材料置入Boat內(nèi),再將Boat放入加熱槽內(nèi),每一種金屬有機(jī)的化學(xué)材料皆放入一個(gè)加熱槽內(nèi),再將加熱槽內(nèi)的金屬有機(jī)化學(xué)材料加熱,使其產(chǎn)生分解形成氣體分子的金屬有機(jī)化學(xué)材料,并通入Ar Gas同時(shí)將MOCVD內(nèi)的電子節(jié)流閥開啟,讓被分解成氣體分子的金屬有機(jī)化學(xué)材料接受以Ar作為載子氣體的方式將金屬有機(jī)化學(xué)材料送入以在恒溫加熱的反應(yīng)爐內(nèi),并使之附著于基板表面上,最后再由電子節(jié)流閥來控制每一層Thin Film成長的時(shí)間,即可形成一層一層的Thin Film Layer※P.S.量子井結(jié)構(gòu)就是利用此設(shè)備來成長。(圖一)中MOCVD的工作原理如下:當(dāng)通入金屬有機(jī)化學(xué)材料,如:圖一中○1-○7可知為金屬有機(jī)化學(xué)材料離子,由Ar Gas載入到MOCVD反應(yīng)爐內(nèi),因爐管為水平式;因此金屬離子在行進(jìn)的過程中,離子會(huì)往下附著于基板上,由○3-○5可以得知,如果金屬有機(jī)材料反應(yīng)物種附著于基板的表面上則形成結(jié)晶體,而未附著于基板上的反應(yīng)物種,則被帶離開反應(yīng)爐內(nèi),由圖中○6-○7即被帶離反應(yīng)爐。

          2、DC Sputter(直流式功率濺鍍機(jī)):是一種利用物理反應(yīng)來沉積磊晶Thin Film
          發(fā)光二極管設(shè)計(jì)


          圖一:MOCVD Chamber 圖二:Sputter Chamber
          【Reference:Silicon VLSI Technology Figure 9-5 and Figure 9-22】
          的制程方式(圖二)。當(dāng)外加電壓,使濺鍍鎗內(nèi)的蜂巢式磁鐵產(chǎn)生極性(陰極)
          ,而Ar 被吹入Sputter Cavity內(nèi),因Ar氣體為電中性,且因外加電壓的影響,而使的Ar產(chǎn)生離子化高速往上和負(fù)離子結(jié)合,而在正Ar離子撞擊濺鍍鎗上的金屬靶材,將金屬蒸氣撞擊出來,而使得金屬蒸氣往基板附著。這時(shí)金屬原子附著于Wafer表面而形成薄膜層。

          3、Photo Luminescene(光激發(fā)光譜儀):是一 種利用光學(xué)物理特性式量測(cè)材料結(jié)構(gòu)的發(fā)光 光譜(圖三)。將待測(cè)Sample固定在Sample Chamber上,再調(diào)整其角度使He-Cd Laser (波長λ=325nm)能夠準(zhǔn)確的打到Sample 待測(cè)面上,并調(diào)整Sample之角度使He-Cd Laser能產(chǎn)生全反射進(jìn)入分光儀中,來進(jìn)行材 料結(jié)構(gòu)的發(fā)光光譜特性分析。由圖三來說明 PL如何產(chǎn)生反射光波來進(jìn)行分光,分析材料的發(fā)光光譜。當(dāng)入射光波角度為 θ時(shí),光行進(jìn)到Sample界面時(shí),會(huì)產(chǎn)生一道反射光,而這道光是由UV波段 的He-Cd Laser產(chǎn)生的。

          圖三:PL測(cè)試流程圖
          4、LED測(cè)試機(jī)(LED Tester):主要是用來測(cè)試發(fā)光二極管的電氣特性,其特性有:順向電壓、電流、逆向電壓、電流、漏電流、發(fā)光亮度、CIE色坐標(biāo)圖、LED發(fā)光波長、LED發(fā)光顏色純度……等。



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