針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試靜電放電抗擾度試驗(yàn)等問題研究 作者： 時(shí)間：2014-01-12 來源：網(wǎng)絡(luò) 英飛凌汽車電子生態(tài)圈 掃碼關(guān)注獲取最新最全汽車電子技術(shù)方案與實(shí)用技巧 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 論本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/226988.htm手機(jī)的電磁兼容性能直接關(guān)系到手機(jī)的各個(gè)性能，保證手機(jī)的電磁兼容性能是保證手機(jī)質(zhì)量的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，因此手機(jī)的電磁兼容測(cè)試及設(shè)計(jì)不容忽視。 上一頁 1 2 3 4 下一頁
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