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          研究關(guān)于電源管理的開關(guān)頻率與電磁干擾之間的平衡

          作者: 時間:2012-04-21 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          好的功率轉(zhuǎn)換器除了要有較高的之外,也要顧及系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換效率及。各方面都要兼顧,力求取得適當(dāng)?shù)钠胶狻?a class="contentlabel" href="http://cafeforensic.com/news/listbylabel/label/開關(guān)頻率">開關(guān)頻率越高,電源開關(guān)、整流器及控制電路的開關(guān)損耗便會越高。以模塊式DC/DC轉(zhuǎn)換器來說,只要提高便可采用較小的濾波器及能源存儲元件,這是提高開關(guān)頻率的好處。但以采用硬開關(guān)的系統(tǒng)來說,電源管理芯片的高頻信號會出現(xiàn)較多諧波,令芯片與散熱器或供電層之間的雜散電容出現(xiàn)大量位移電流。這些位移電流甚至?xí)魅胱儔浩鞯木€圈電容,最后甚至?xí)斐晒材8蓴_。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/230712.htm

          采用DC/DC轉(zhuǎn)換器的控制與驅(qū)動系統(tǒng)來說,工程師設(shè)計集成電路及其封裝時,已考慮到磚塊轉(zhuǎn)換器的結(jié)構(gòu)而做出適當(dāng)?shù)恼{(diào)節(jié)。以電路的設(shè)計來說,更高的技術(shù)集成度、板上高電壓穩(wěn)壓器、更高時鐘頻率以及可編程壓擺率的低射穿驅(qū)動器都適合新一代的設(shè)計采用。散熱是設(shè)計電源管理IC需要面對的主要問題。電源管理IC內(nèi)置的驅(qū)動器、穩(wěn)壓器通道晶體管以及電源開關(guān)都設(shè)于裸片的外圍,緊貼焊盤。這些內(nèi)置芯片及晶體管進行操作時,熱能會傳遍整顆裸片,形成一幅由不同等溫線組成的熱能“分布圖”。若不同的晶體管分別設(shè)于不同的等溫線之上,部分次電路便會在性能上受到影響。集成電路的線路布局必須做出調(diào)整,例如,芯片正常操作時,不同晶體管在同一時間內(nèi)都處于相同的溫度之下,但要取得這樣的效果并不容易。電源管理IC的縮微圖顯示部分芯片經(jīng)常采用交叉耦合的設(shè)計,以便可以在初期階段減少熱能的耗散量。

          無引線導(dǎo)線封裝是一種有導(dǎo)線的芯片級封裝,其優(yōu)點是可以提高芯片的速度,降低熱阻以及占用較少印刷電路板的板面空間。由于這種封裝具有體積小巧且外型纖薄的優(yōu)點,因此最適用于設(shè)有模塊式DC/DC轉(zhuǎn)換器、元件較為密集的多層式印刷電路板。

          LLP 封裝有如下的優(yōu)點:低熱阻;較少寄生電子響應(yīng);可以充分利用電路板板面空間,以支持更多其他功能;封裝纖薄、輕巧。

          集成電路的封裝設(shè)計過程涉及很多繁復(fù)的工序,例如要為散熱及機械系統(tǒng)建立模型,以便進行測試;此外,進入生產(chǎn)及測量階段之后,裸片上的實際測量數(shù)字或模擬圖所示的熱能分布數(shù)字必須與有限接線電路模型互相比較。針對設(shè)于新封裝內(nèi)的測試裸片,測量其二極管的正向壓降,可取得裸片的實際測量數(shù)字。很多不同的遠程二極管溫度傳感器芯片都采用這種經(jīng)過長期測試、證實有效的技術(shù),以便能夠為新一代的微處理器、數(shù)字信號處理器及數(shù)字特殊應(yīng)用集成電路提供更可靠的防護。也可利用測試裸片內(nèi)置的一個或多個二極管將熱能傳入,以核實裸片的熱特性。




          關(guān)鍵詞: 開關(guān)頻率 電磁干擾

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