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          千兆位背板總線測試方法

          作者: 時間:2006-05-07 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘要:簡要介紹了千兆位背板總線的一些關(guān)鍵問題詳細(xì)討論了幾種行之有效的千兆位背板總線測試方法,包括波形觀測、誤碼率測試、眼圖和時域反射計等給出了一個實(shí)際的千兆位背板總線系統(tǒng)的測試結(jié)果。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/255678.htm

          關(guān)鍵詞:千兆位背板總線 誤碼率 眼圖 時域反射計

          背板是互連技術(shù)在印刷電路板上的實(shí)現(xiàn),一般是無源的。背板上有用來插卡的槽,槽與槽之間有各種形式的總線。在背板的插槽中插入各種卡,即構(gòu)成計算機(jī)和各種處理機(jī),所以說背板是系統(tǒng)的硬件平臺。由于傳統(tǒng)的共享總線在某一特定時刻只允許同時被一對端口使用,因而各端口分配到的平均帶寬較少,所以應(yīng)用受到了很大的限制。隨著對總線帶寬要求的不斷提高,人們將注意力更多地轉(zhuǎn)向空分總線??辗挚偩€允許多端口同時通信,端口越多總計帶寬越高,具有很好的可擴(kuò)展性,而可擴(kuò)展性正是通信系統(tǒng)所必需的。由于通信系統(tǒng)中普遍采用串行傳輸方式,所以通信系統(tǒng)中采用的空分總線也多采用串行方式。點(diǎn)到點(diǎn)的串行傳輸方式可以獲得很高的傳輸率,且越來越多地被用于處理器、存儲器和I/O設(shè)備間的互連之中。高速(指千兆位以上)的背板總線已經(jīng)成為高速互連技術(shù)中的一個重要方面[1]。不僅通信領(lǐng)域,計算、控制等領(lǐng)域?qū)Ρ嘲寮夹g(shù)也提出了越來越高的要求。

          千兆位背板總線的高速電路系統(tǒng)對系統(tǒng)的測試提出了挑戰(zhàn)。由千兆位系統(tǒng)的特征時間1ns和真空光速3.00E+8m/s的乘積,得到的波長的量級約為0.3m,這與一般背板的長度在同一量級;如果考慮到信號的上升沿約為0.2ns,則估計出的波長在0.06m量級上,這和一般的PCB板走線在同一量級。這樣,數(shù)字信號的傳輸線效應(yīng)和模擬效應(yīng)就不可忽略了。傳輸線效應(yīng)和模擬效應(yīng)的影響,使得高速數(shù)字電路設(shè)計對阻抗特性、時間參數(shù)和信號質(zhì)量提出了嚴(yán)苛的要求,這樣,對它們的測量,就成為一個重要的課題[2]。

          1 千兆位背板總線系統(tǒng)簡介

          隨著串行數(shù)據(jù)傳輸率的不斷提高,數(shù)字信號和模擬信號間的界線模糊了。為了提供傳輸所必須達(dá)到的低誤碼率,必須保證良好的信號完整性;而為了達(dá)到信號完整性的要求,必須仔細(xì)考慮元件的選擇、電路板的設(shè)計。因此,應(yīng)該對傳輸線效應(yīng)、電磁兼容性、噪聲、串?dāng)_和時鐘分布等諸多問題有清晰的認(rèn)識并將這些知識運(yùn)用到實(shí)際設(shè)計中去[3]。

          其中,在設(shè)計中必須對三個方面予以特別的重視:收發(fā)器、接插件和背板PCB設(shè)計,它們在整個千兆位背板總線系統(tǒng)中,有著舉足輕重的地位。而對千兆位系統(tǒng)的測試,則與這三個方面密切相關(guān)。千兆位背板總線系統(tǒng)示意圖如圖1所示。

          收發(fā)器:收發(fā)器(transceiver)是系統(tǒng)中的核心器件。差分信號LVPECL是一種比較通用、性能較好的信號形式。一般希望收發(fā)器能提供多通道雙工數(shù)據(jù)傳輸,以能夠達(dá)到較高的總計帶寬。通常采用相對低速的參考時鐘,在片內(nèi)進(jìn)行頻率合成。傳統(tǒng)上使用8B/10B的編碼方式,要求收發(fā)器能夠在很短時間內(nèi)實(shí)現(xiàn)位同步、字同步和或通道同步。還要考慮時鐘的驅(qū)動和分配問題、時鐘的偏差(skew)和抖動(jitter)特性。對芯片電路的一些細(xì)節(jié)問題,如阻抗匹配、交流耦合、功耗、與上游/下游電路的接口等也應(yīng)該加以充分與仔細(xì)的考慮。

          接插件:接插件是背板與插卡的連接部分。由于通孔(via)和短線(stub)引入阻抗不連續(xù)性,并產(chǎn)生串?dāng)_、共模噪聲、衰減和額外的抖動,因此影響信號完整性和誤碼率。所以接插件的評估和選擇對于確保高速背板系統(tǒng)的性能至關(guān)重要??梢酝ㄟ^時域反射計測量接插件各點(diǎn)的特性阻抗,來選取各點(diǎn)特性阻抗變化較小且平滑的接插件。通常采用在信號引腳周圍排步地引腳的偽同軸結(jié)構(gòu) 來減少串?dāng)_、共模噪聲。還應(yīng)考慮接插件的機(jī)械性能。

          背板PCB:背板是一種裝有插座、通常安裝在機(jī)箱背面的完成插卡間信號傳輸?shù)碾娐钒?。由Nyquist公式可知,1.25Gbps?shù)據(jù)速率的總線至少應(yīng)有625MHz的帶寬。在如此高的帶寬要求下,千兆位背板PCB設(shè)計與低速背板設(shè)計有著顯著的區(qū)別。為減小地反彈和共模干擾并滿足電磁兼容性要求,背板應(yīng)采用差分信號,差分信號耦合方式有邊沿耦合(edge coupled)和寬面耦合(broad coupled)兩種。

          依據(jù)以上原則,我們成功地設(shè)計了一個千兆位背板總線傳輸系統(tǒng),總計帶寬達(dá)到1.25G×4=5Gbps,考慮采用各種測試方法對這三個方面的性能加以全面細(xì)致的測試。

          2 千兆位背板總線系統(tǒng)測試方法

          總線系統(tǒng)測試包括以下幾個方面:波形觀測、誤碼率測試、TDR阻抗測試和眼圖測試。

          2.1 波形觀測

          波形觀測的內(nèi)容包括信號的上升/下降沿、幅度、抖動、過沖等等。采用的主要儀器為數(shù)字存儲(DSO)。

          通過測量信號在收端和發(fā)端的幅度值,可以計算出被測信號在傳輸系統(tǒng)中的損耗百分比。該損耗與系統(tǒng)的帶寬有著直接的關(guān)系,而且收發(fā)器也要求信號擺幅超過噪聲容限,否則會出現(xiàn)誤碼。收發(fā)器對信號的抖動和上升/下降沿寬度也提出要求。

          由于串行信號速率很高,因此對的要求也相當(dāng)高。主要表現(xiàn)在采樣率和帶寬(包括本身的帶寬和探頭帶寬)兩個方面,其中帶寬是最為關(guān)鍵的。示波器帶寬應(yīng)為被測系統(tǒng)最高頻率成分的3到5倍。系統(tǒng)的上升時間在頻率成分中起著主導(dǎo)作用,而不是時鐘頻率。信號帶寬可用0.35除以上升時間(10%到90%)來估計,這個關(guān)系是基于主極點(diǎn)近似的,所以對應(yīng)特性不同的系統(tǒng)該參數(shù)可以高至0.4或0.5。如果上升時間按照20%到80%計算,則因子0.35應(yīng)當(dāng)換成0.22。示波器帶寬為信號帶寬5倍時,產(chǎn)生0.2%誤差,但是如果與信號帶寬相等,則會產(chǎn)生41%的誤差2。而千兆位系統(tǒng)的上升時間在200ps量級,這對示波器的帶寬提出了嚴(yán)苛的要求。依據(jù)一階主極點(diǎn)近似及卷積特性,在考慮進(jìn)示波器及探頭的帶寬影響以后,測出的上升時間[4]為:

          其中T1為信號的上升時間,T2和T3為示波器和探頭的上升時間。

          從上式中,我們看出示波器的探頭也會影響測出的信號質(zhì)量。因?yàn)樘筋^會帶入阻性和容性成分,而探頭的接地線還會引入感性負(fù)載,這樣也會帶進(jìn)一個時間常數(shù)。所以在測量中,應(yīng)該采用盡量短的探頭和接地線,并使接地點(diǎn)與測試點(diǎn)盡量接近,以免形成比較大的回流。

          在千兆位背板總線測試中,主要觀測收發(fā)器引腳或者其直接引出線上的信號質(zhì)量和接插件引腳上的信號質(zhì)量,通過觀測可對收發(fā)器的性能與接插件、總線的傳輸性能有一個大致的了解。

          2.2 誤碼率測試

          誤碼率即出現(xiàn)錯誤比特的概率,是數(shù)字信號傳輸系統(tǒng)應(yīng)該測試的一個基本性能。位誤碼率(Bit Error Ratio)定義為:

          位誤碼率BER=接收錯誤比特數(shù) / 傳輸?shù)目傆嫳忍匦?/p>

          誤碼率測試一般要求采用標(biāo)準(zhǔn)的偽隨機(jī)二進(jìn)制碼序列(PRBS - Pseudo-Random Binary Sequence),這種碼型重復(fù)周期很長,在較短序列內(nèi)可以近似地看成是隨機(jī)并與實(shí)際通信業(yè)務(wù)類似的碼型,因而比之重復(fù)碼型更為可信。誤碼率測試系統(tǒng)的框圖如圖2所示,其中的兩個偽隨機(jī)碼發(fā)生器產(chǎn)生的偽隨機(jī)序列要求一致。

          誤碼率測試可以采用通用的誤碼特性分析儀。如果沒有通用分析儀,也可以針對某一特定的系統(tǒng)用硬件電路實(shí)現(xiàn)誤碼率測試。比如針對千兆位背板總線系統(tǒng)可以組成如圖3所示的系統(tǒng)。

          該測試系統(tǒng)采用相對低速的數(shù)字信號處理器(DSP)向SRAM存儲器寫入隨機(jī)碼型,再通過高速的可編程邏輯器件從SRAM內(nèi)讀出碼型發(fā)往發(fā)送器的輸入端口,在千兆位背板總線系統(tǒng)上傳輸,在接收器的輸出端口用高速的可編程邏輯器件寫入SRAM,其后再從SRAM讀入DSP,進(jìn)行誤碼分析?,F(xiàn)已證明這種方法是行之有效的。

          2.3 TDR測試

          TDR即時域反射計(Time Domain Reflectometer),時域反射計采用一個信號發(fā)生器在傳輸線的一端加一個上升沿很快的階躍波,然后在傳輸線上某點(diǎn)用示波器測量入射波和反射波的波形。時域反射計技術(shù)能夠顯示被測傳輸線上各點(diǎn)的特性阻抗及線上各點(diǎn)阻抗不連續(xù)處的位置和特性(阻性、容性還是感性)。TDR可以用來測試傳輸線上的開路、短路以及相鄰傳輸線間的串?dāng)_。在光傳輸系統(tǒng)的維護(hù)中,可以用光時域反射計來檢測光纖的斷裂等故障,也是基于這一原理。在測試背板時,可以安裝SMA插頭與TDR示波器相連接以便于測試。測試差分信號的特性阻抗及共模和差模反射采用差分時域反射計(DTDR-Differential TDR),可以采用雙階躍波發(fā)生器來激勵,也可以采用單階躍波來激勵。對于千兆位背板總線來說,可以通過TDR來測背板總線的特性阻抗和接插件的阻抗不連續(xù)特性,有很重要的參考意義。圖4是一個終端開路TDR圖樣,其中橫坐標(biāo)是時間,縱坐標(biāo)是幅度,也可以是反射系數(shù)ρ[5]。

          2.4 眼圖測試

          眼圖(Eye Pattern)是在示波器或?qū)S玫难蹐D測試儀上把多段偽隨機(jī)碼波形重疊形成的圖形,用來測試信號質(zhì)量。對于各種標(biāo)準(zhǔn)速率,都有相應(yīng)的模板。所謂模板,是眼圖測量中的一個區(qū)域,合乎標(biāo)準(zhǔn)的眼圖要求不能有波形進(jìn)入這個區(qū)域。從眼圖上可以看出信號的上升沿、下降沿的快慢和抖動的大小。信號上升/下降得越快、抖動越小,眼張開得越大,如圖5所示。眼圖的張度opening與誤碼率之間有著直接的聯(lián)系,張度越大,則誤碼率越小。還可以通過觀察眼圖得出終端匹配電阻的匹配程度,如圖6所示[6]。

          3 一個實(shí)際系統(tǒng)的測試結(jié)果

          通過以上幾種方法,我們對設(shè)計的千兆位背板總線系統(tǒng)進(jìn)行了測試。

          3.1 波形觀測

          圖7給出了收端信號的波形。在測試中,由于條件所限,我們使用的示波器本身帶寬為1GHz,采用的差分探頭帶寬也為1GHz,這樣得出的綜合帶寬約為700MHz,示波器引入的上升時間(20%到80%)約為300ns,而正常情況下接收器和發(fā)送器信號的上升時間也應(yīng)在這個量級,所以測出的上升時間誤差較大。示波器的帶寬限制也會影響到測出信號的幅度。測試中我們嘗試采用各種長度的探頭、接地線和不同的接地點(diǎn),觀察到長探頭、接地線和離被測點(diǎn)較遠(yuǎn)的接地點(diǎn)都會引起測出信號的波形性能變壞。所以在測試中采用最短的探頭和接地線、離被測點(diǎn)最近的接地點(diǎn)。比較收端和發(fā)端的波形,可以得出信號通過接插件和背板的幅度衰減,本系統(tǒng)的幅度衰減在10%之內(nèi),能夠保證收端無誤接收,是令人滿意的。也可以通過比較收端和發(fā)端的上升時間估算出系統(tǒng)的帶寬,采用如下公式:

          其中Triserec為收端上升時間,Trisetrans為發(fā)端上升時間。由于公式中兩者平方后相減,抵消了示波器和探頭有限帶寬的影響。按此公式算出本系統(tǒng)帶寬約為1GHz,基本上保證了1.25Gbps信號傳輸?shù)目尚行浴?/p>

          3.2 誤碼率測試

          我們設(shè)計了一個誤碼率測試系統(tǒng),系統(tǒng)框圖如圖3所示,并采用DSP編程實(shí)現(xiàn)了一種簡單有效的偽隨機(jī)信號序列,偽隨機(jī)信號長度為32K。系統(tǒng)在測試中運(yùn)行良好。測出系統(tǒng)傳送6,000,000包無誤碼(每包為32K數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)為1Byte),計算出系統(tǒng)誤碼率在10-12以下,這是相當(dāng)令人滿意的。

          3.3 TDR測試

          由于本系統(tǒng)的高速信號線采用的是差分信號形式,所以采用差分TDR,雙階躍波激勵。圖8是測得的TDR波形。圖中,橫軸坐標(biāo)為時間,縱軸坐標(biāo)為信號幅度,也可以是反射率ρ??梢钥闯霰澈蟀逍盘柧€特征阻抗較為連續(xù)(前端的不連續(xù)處分別為測試頭與接插件引入,后端是終端開路波形)。連續(xù)的背板特征阻抗對傳輸是有利,因?yàn)榭梢詼p少信號在背板上傳輸時的反射。從TDR可以測出背板特征阻抗的數(shù)值。本背板的特征阻抗約為82Ω。

          3.4 眼圖測試

          圖9是本系統(tǒng)在接收端的眼圖。該眼圖由偽隨機(jī)信號迭加約2000次形成,其中沒有一次進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)的千兆位以太網(wǎng)眼圖模板,該模板眼圖張度為50%;而我們的收發(fā)器只要保證接收到的信號能達(dá)到24%的眼圖張度就能完成BER低于10-8的信號傳輸,由此可見,本系統(tǒng)信號完整性性能遠(yuǎn)超過收發(fā)器的要求。從眼圖中可見,信號線匹配電阻略為偏大。這也與實(shí)際的電阻與信號線特性阻抗的匹配情況吻合。

          千兆位背板總線系統(tǒng)由于其信號速率高,導(dǎo)致了不可忽略的傳輸線效應(yīng)和模擬效應(yīng),具有低速總線系統(tǒng)所不具備的一些特點(diǎn),所以設(shè)計中要對一些關(guān)鍵之處加以特別的考慮,也對測試方法提出了新的挑戰(zhàn)。新的測試方法針對信號的質(zhì)量和系統(tǒng)傳輸?shù)男阅?,主要包括波形觀測、誤碼率測試、TDR和眼圖測試,經(jīng)實(shí)驗(yàn)證明這些方法對于千兆位背板總線系統(tǒng)的測試是行之有效的。通過測試得出結(jié)論:所設(shè)計出的千兆位背板總線系統(tǒng)性能優(yōu)良,能夠達(dá)到預(yù)定的性能指標(biāo)。

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