隨著固定和移動(dòng)電子設(shè)備的日益增多，電磁兼容性（EMC）成為了一個(gè)重要話(huà)題。當(dāng)一個(gè)系統(tǒng)、子系統(tǒng)或元器件通過(guò)電磁方式對(duì)另一個(gè)產(chǎn)生干擾時(shí)，可能會(huì)產(chǎn)生災(zāi)難性的后果。本文首先對(duì)EMC問(wèn)題進(jìn)行了解釋?zhuān)S后講述了一個(gè)基本理論，以及如何利用這一理論來(lái)在初始設(shè)計(jì)階段控制EMC問(wèn)題。文中還會(huì)對(duì)目前一些硅制造商用來(lái)控制EMC的方法進(jìn)行檢驗(yàn)，并研究這些改變?nèi)绾斡绊懳覀兊南到y(tǒng)。另外，本文還詳細(xì)分析了整個(gè)系統(tǒng)（車(chē)載無(wú)線(xiàn)電），以驗(yàn)證可降低EMC的COP8TM型8位微控制器的效果，并提供了整體設(shè)計(jì)導(dǎo)則，以便設(shè)計(jì)者能夠在EMC成為大問(wèn)題之前將之最小化。

了解并消除微控制器應(yīng)用中的EMI