運算放大器的穩(wěn)定性(九):電容負載穩(wěn)定性(下)
CMOS RRO:輸出引腳補償
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/258940.htm我們的CMOS RRO 輸出引腳補償實例如圖 9.20 所示。這種實際電源應(yīng)用采用 OPA569 功率運算放大器作為可編程電源。為了在負載上提供精確的電源電壓,可以采用一種差動放大器 INA152 對負載電壓實施差動監(jiān)控。閉環(huán)系統(tǒng)可以補償任何從可編程電源到負載的正/負連接中的線路壓降造成的損耗。OPA569 上的電流限值設(shè)定為2A。在我們的實際應(yīng)用中,這種電源具有靈活的配置,因此可以在差動放大器 INA152 的輸出上提供多大達10nF 電容。這樣是否能夠?qū)崿F(xiàn)可編程電源的穩(wěn)定運行?
圖 9.20:可編程電源應(yīng)用 |
我們在圖 9.21 中詳細說明了在我們的可編程電源應(yīng)用中使用的 IC 的主要規(guī)格。
圖9.21:可編程電源 IC 主要規(guī)格 |
我們用于反饋的 INA152 差動放大器采用如圖 9.22 所示的 CMOS RRO 拓撲。
圖9.22:INA152 差動放大器:CMOS RRO |
我們采用圖 9.23 中的 TINA Spice 電路檢查可編程電源的穩(wěn)定性。我們的 DC 輸出由 Vadjust 設(shè)定到3.3V,同時應(yīng)用一個較小的瞬態(tài)方形波檢查過沖與振鈴。
圖9.23:瞬態(tài)穩(wěn)定性測試:原始電路 |
圖 9.24 中的瞬態(tài)穩(wěn)定性測試結(jié)果顯然不夠理想。我們不希望在未經(jīng)進一步穩(wěn)定性補償情況下投產(chǎn)這種電路。
圖9.24:瞬態(tài)穩(wěn)定性圖:原始電路 |
圖 9.25 中的 TINA Spice 電路用于檢查原始電路中的不穩(wěn)定性是否由 INA152 輸出端的 CX負載所引起。我們將采用瞬態(tài)穩(wěn)定性測試進行快速檢測。
圖9.25:差動放大器反饋:原始電路 |
圖9.26可以證明我們的推測,即:是CX造成了差動放大器INA152的不穩(wěn)定性。
圖9.26:瞬態(tài)圖:差動放大器反饋,原始電路 |
差動放大器由 1 個運算放大器以及 4 個精密比率匹配電阻器構(gòu)成。這給我們的分析工作帶來了挑戰(zhàn),因為我們無法直接接入內(nèi)部運算放大器的 - 輸入或 + 輸入。在圖 9.27 中我們可以看到差動放大器的等效示意圖,同時可以看出測量 Aol 的明確方法。我們將采用 LT 斷開任何相關(guān) AC 頻率的反饋,同時仍然保持準(zhǔn)確的 DC 工作點(LT 對于相關(guān) DC 頻率短路,對于相關(guān) AC 頻率開路)。通過把 INA152 的 Ref 引腳連接到 VIN+ 引腳,我們可以創(chuàng)建一個非反相輸入放大器。通過在 Sense 與 VOA 之間放置 LT,我們可以理想地在任何相關(guān)AC頻率驅(qū)動運算放大器進入開路狀態(tài)。INA152 運算放大器的內(nèi)部節(jié)點 VM 可以在相關(guān) AC 頻率達到零點。VP 只需作為 VG1,然后我們可以輕松測出 Aol = VOA/VG1。請注意:我們只要把 VdcBias 設(shè)定為 1.25V 以便在 VOA 產(chǎn)生 2.5V DC,即可衡量 DC 工作點。
我們把圖9.27 的 INA152 Aol 測試電路概念轉(zhuǎn)化成圖 9.28 所示的 TINA Spice 電路。我們知道,用于 INA152 的 TINA Spice 宏模型是一種 Bill Sands 宏模型[參考:《模擬與 RF 模型》,(http://www.home.earthlink.net/%7Ewksands/)],因此該宏模型可以精確匹配實際硅片。
圖9.27:INA152 Aol 測試電路概念 |
圖9.28:TINA Spice INA152 Aol 測試電路 |
圖 9.29 說明了根據(jù) TINA Spice 仿真獲得的 INA 152 詳細 Aol 曲線。請注意:Aol 曲線中在 1MHz 時存在第二個極點,在基于 Aol 相位曲線的頻率之外存在某些更高階的極點,其在 1MHz 之外表現(xiàn)出比每十倍頻程 -45度更陡的斜率。
圖 9.29:INA152 Aol TINA Spice 結(jié)果 |
由于我們已知道 INA152 是一款 CMOS RRO 差動放大器,因此,除了 Aol 曲線,還需要 Zo 進行穩(wěn)定性分析。在圖 9.30 中建立一個 Zo 測試電路概念。與圖 9.28 的 Aol 測試電路相似,我們可以利用所示的 LT 與電路連接強迫 INA152 的內(nèi)部運算放大器在任何相關(guān) AC 頻率進入開路狀態(tài)。我們現(xiàn)在將采用設(shè)為 1Apk 的 AC 電流電源驅(qū)動輸出,同時直接根據(jù) VOA 的電壓測量 Zo。
圖 9.30:INA152 Zo 測試電路概念 |
我們在圖 9.31 中建立了 TINA Spice INA152 Zo 測試電路??焖?DC 分析表明我們可以得到 INA152 的正確 DC 工作點。最好在利用 Spice 進行 AC 分析之前先執(zhí)行 DC 分析,以便確定電路在任何電源軌下都不飽和,電源軌可能會造成錯誤AC分析結(jié)果。
圖 9.31:INA152 Zo TINA 測試電路 |
圖 9.32:INA152 TINA Zo 曲線 |
圖 9.32 的 TINA Zo 測試結(jié)果顯示了 Zo 的典型 CMOS RRO 響應(yīng)。我們可以看到在 fz=76.17Hz 時出現(xiàn)一個零點,在 fp=4.05Hz 時出現(xiàn)一個極點。
圖 9.33:INA152 Tina Ro 測量 |
我們在圖 9.33 中根據(jù)由 TINA Spice 創(chuàng)建的 Zo 曲線測量 Ro。Ro = 1.45k 歐姆。
我們從測量的 Zo 圖可以獲得 Ro、fz 以及 fp。我們利用這些資料可以創(chuàng)建 INA152 的等效 Zo 模型,如圖 9.34 所示。
圖 9.34:INA152 Zo 模型 |
我們可以利用 TINA Spice 仿真器快速檢測等效 Zo 模型與實際 INA152 Zo 相比的準(zhǔn)確性。等效 Zo 模型結(jié)果如圖 9.36 所示,并與圖 9.35 作了相關(guān)對比。由此可見,等效 Zo 模型非常接近,因此可以繼續(xù)進行穩(wěn)定性分析。
圖 9.35:Zo 等效模型與 INA152 Zo 對比 |
圖 9.36:TINA 圖:INA152 等效 Zo 模型 |
現(xiàn)在我們可利用 Zo 等效模型分析負載電容 CL 對 INA152 輸出的影響。從 Aol 曲線中,我們可以看到在CL=10.98kHz 時造成的附加極點(如圖 9.37 所示)。
圖 9.37:計算 Zo 與 CL 造成的極點(fp2) |
我們在圖 9.38 中在 INA152 的等效 Zo 模型中添加 CL(CL=10nF)。
圖 9.38:用于分析 fp2 的 TINA 電路 |
從圖 9.39 我們可以看出模擬結(jié)果中 fp2 位于 11.01kHz,其非常接近我們預(yù)測的 10.98kHz,因此可以繼續(xù)分析。
圖 9.39:Zo 與 CL=10nF 時的 fp2 圖 |
圖 9.40:CL=10nF 時,Aol 修正曲線的 TINA 電路圖 |
現(xiàn)在我們可以對 CL=10nF 的實際 INA152 進行 TINA 模擬,并使用圖 9.40 的電路將其與預(yù)測響應(yīng)進行對比。
圖 9.41 的 TINA 模擬結(jié)果顯示了 INA152 運算放大器原始 Aol 在 3.4Hz (fp1) 時造成的低頻極點以及 Zo 與 CL=10nF 在 fp2=11.02kHz 時產(chǎn)生的第二個極點。請記住,我們曾經(jīng)根據(jù)一階分析預(yù)測fp2=10.9kHz,并根據(jù) CL=10nF 的等效 Zo 模型預(yù)測 fp2=11.01kHz。
圖 9.41:CL=10nF 的 Aol 修正曲線的 TINA 圖 |
圖 9.42:輸出引腳補償:CMOS RRO |
我們在圖 9.42 中確定用于 CMOS RRO 運算放大器的輸出引腳補償方法。此方法的圖形與適用于雙極性發(fā)射極跟隨器運算放大器的輸出引腳補償方法的圖形非常類似。我們首先利用由 Zo 與 CL 造成的極點 fp2 修正運算放大器的最初 Aol 曲線(見圖 9.41)。一旦創(chuàng)建了該曲線(修正 Aol,CL=10nF),我們就可以繪制從 CL=10nF 的Aol 修正曲線與 0dB 交叉點開始的第二條曲線(最終修正 Aol)。從上述起點我們按照每十倍頻程 -20dB 的斜率畫到比 CL=10nF 的Aol修正曲線的 0dB 交點低一個十倍頻程的點(100kHz)。我們在 fzc1 極點將斜率修改為每十倍頻程為 –40dB。我們在 fpc2 極點與原始 INA152 Aol 曲線相交。通過使極點和零點相互保持在一個十倍頻程內(nèi)以保持環(huán)路增益相位在環(huán)路增益帶寬范圍不低于 45 度,這樣上述建議的最終 Aol 修正曲線符合我們所有經(jīng)驗標(biāo)準(zhǔn)。另外,我們建議的最終Aol曲線修正還滿足在 fcl 極點閉合速率為每十倍頻程 20dB 的一階穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)。
圖 9.43 詳細說明基于 Zo 及 Slide 47 的預(yù)期最終Aol修正曲線的公式。此外,我們注意到在CCO 短路時由于 RCO 與 CL 相交造成的另一個高頻極點。
圖 9.43:輸出引腳補償公式:CMOS RRO |
我們在圖 9.44 中建立一個 TINA Spice 電路,用于證明可以預(yù)測 Zo、CCO、RCO 及 CL對 Aol 曲線所產(chǎn)生的影響的公式。
圖9.44:預(yù)測 Zo、CCO、RCO與CL 造成的Aol修正影響的 TINA 電路 |
圖 9.45:Zo、CCO、RCO 及 CL 造成的Aol 修正影響 |
我們從圖 9.45 可以看出模擬結(jié)果,用于檢查針對 Zo、CCO、RCO 與 CL的 Aol 修正公式。預(yù)測的 fpc2=1kHz,實際 fpc2=1.23kHz;預(yù)測的 fzc2=10kHz,實際 fzc2=10.25kHz;預(yù)測的fpc3=106kHz,實際 fpc3=105.80kHz。根據(jù)我們的等效 Zo 模型,我們的預(yù)測非常接近模擬結(jié)果。
根據(jù)圖 9.43 的分析及相關(guān)模擬證明,我們可以創(chuàng)建如圖 9.46 所示的最終 Aol 修正預(yù)測。最終閉環(huán)響應(yīng) Vout/Vin 預(yù)計為平直曲線,直到環(huán)路增益在 fcl 位置達到零點,此時預(yù)計其遵循所示的Aol修正曲線。
圖 9.46:最終Aol 修正預(yù)測 |
圖 9.47 為采用最終輸出引腳補償?shù)?AC 穩(wěn)定性測試電路。最終可以產(chǎn)生由于輸出引腳補償與CL造成的Aol 修正曲線。
圖 9.47:AC 穩(wěn)定性電路:輸出引腳補償 |
圖 9.48 說明采用輸出引腳補償方法的最終Aol 修正結(jié)果,其符合圖 9.46 所示的一階預(yù)測。
圖 9.48:AC 穩(wěn)定性圖:輸出引腳補償 |
我們將采用圖 9.49 的電路進行基于最終輸出引腳補償?shù)乃矐B(tài)穩(wěn)定性測試。
圖 9.49:瞬態(tài)穩(wěn)定性測試:輸出引腳補償 |
圖 9.50 的瞬態(tài)穩(wěn)定性測試結(jié)果證明我們確實已經(jīng)正確地為用于 CMOS RRO 差動放大器的輸出引腳補償方法選擇了合理的補償值。
圖 9.50:瞬態(tài)穩(wěn)定性結(jié)果:輸出引腳補償 |
圖 9.51 的 TINA 電路使我們能夠確定圖 9.46 中的預(yù)測 Vout/Vin 轉(zhuǎn)移函數(shù)是否正確。
圖 9.51:Vout/Vin AC 響應(yīng)電路:輸出引腳補償 |
我們可以從圖 9.52 看出針對由輸出引腳補償方法補償之后的 INA152 電路的 Vout/Vin AC 閉環(huán)響應(yīng)。圖 9.46 的對比說明我們的預(yù)測響應(yīng)符合模擬結(jié)果,閉環(huán)響應(yīng)圖從稍高于 35kHz 之處開始傾斜。
圖 9.52:Vout/Vin AC 響應(yīng):輸出引腳補償 |
我們在圖 9.53 中返回到最初的 CMOS RRO 應(yīng)用并在 INA152 中增加輸出引腳補償,另外關(guān)閉整個環(huán)路,以便利用瞬態(tài)穩(wěn)定性測試來檢查穩(wěn)定性。
圖9.53:可編程電源:輸出引腳補償 |
圖 9.54 表明,通過利用輸出引腳補償方法消除 INA152 輸出的電容負載不穩(wěn)定性,我們可以實現(xiàn)穩(wěn)定的可編程電源。
圖9.54:可編程電源:基于輸出引腳補償?shù)乃矐B(tài)穩(wěn)定性測試 |
鉭電容器簡介
在電容器值超過約 1uF 情況下,往往采用鉭電容器,因為其具有較高的電容值及相對較小的尺寸。鉭電容器并非純粹的電容。它們還具有 ESR 或電阻元件及較低的寄生電感與阻抗(參見圖 9.55)。除電容之外,它最重要的組件是 ESR。在采用輸出引腳補償方法實現(xiàn)穩(wěn)定性時,應(yīng)當(dāng)確保 ESR 小于 RCO/10,以保證 RCO 是主導(dǎo)電阻,從而設(shè)定 Aol 修正曲線的零點。
圖 9.55:鉭電容器與輸出引腳補償說明 |
作者:Tim Green,德州儀器(TI)線性應(yīng)用工程經(jīng)理
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Tim Green 于 1981 年畢業(yè)于亞利桑那大學(xué) (University of Arizona) 并獲得電子工程學(xué)士學(xué)位。他是一名杰出的模擬與混合信號板級/系統(tǒng)級設(shè)計工程師,擁有長達 24 年之久的豐富經(jīng)驗,其涉及的工作領(lǐng)域包括無刷馬達控制、飛機噴氣發(fā)動機控制、導(dǎo)彈系統(tǒng)、功率運算放大器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)及 CCD 相機等。最近,Tim 還從事了有關(guān)模擬與混合信號半導(dǎo)體戰(zhàn)略營銷方面的工作。他現(xiàn)任亞利桑那州圖森市TI公司的線性應(yīng)用工程經(jīng)理。
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