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          PCB印制電路板信號損耗測試技術(shù)

          作者: 時(shí)間:2014-06-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/259430.htm

          3 設(shè)備及結(jié)果

          采用介電常數(shù)3.8、介質(zhì)損耗0.008、RTF銅箔的CCL分別制作SET2DIL板、SPP測試板和Multi-Line TRL測試板;測試設(shè)備為DSA8300采樣示波器和E5071C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀;各方法差分插入損耗測試結(jié)果如表2所示。

            

          4 結(jié)語

          本文主要介紹了目前業(yè)界使用的幾種傳輸線測量方法。由于采用的測試方法不同,測得插入損耗值也不一樣,測試結(jié)果不能直接做橫向?qū)Ρ?,因此?yīng)根據(jù)各種技術(shù)方法的優(yōu)勢和限制,并且結(jié)合自身的需求選擇合適的測試技術(shù)。

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