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          Viscom推出3維X-Ray AOI/AXI同步檢測(cè)設(shè)備

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          作者: 時(shí)間:2007-04-20 來(lái)源:EEPW 收藏
          為視覺(jué)檢測(cè)結(jié)合X-Ray檢測(cè)提供了新的標(biāo)準(zhǔn)解決方案,這就是制造商們長(zhǎng)久期待的,AOI/AXI 同步檢測(cè)設(shè)備:  X7056。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)AOI已經(jīng)在全世界廣泛的應(yīng)用。BGA, μBGA和CSP等小型元件的裝配 ,要求檢測(cè)系統(tǒng)能夠可靠、低成本的檢測(cè)到隱藏的缺陷,并且在快速大批量的生產(chǎn)中保證牢固的檢測(cè)深度。

          這正是X7056的實(shí)力:高性能的3維自動(dòng)X-ray檢測(cè)系統(tǒng)(AXI)搭配同步上、下雙面的光學(xué)檢測(cè),以適應(yīng)當(dāng)今電子制造業(yè)高產(chǎn)率的要求。

          X7056的X-ray核心科技—高性能微距X射線顯像管,由研發(fā)并生產(chǎn)—確保每像素?fù)碛?5 μm的解析度。全新的3維X-ray迭代建模,同時(shí)也保證高清晰的成像質(zhì)量。從而,復(fù)雜、重疊交替的雙面PCB能夠被清晰的解析,易于分析。綜合了6百萬(wàn)像素傳感器技術(shù),在最大產(chǎn)量的檢測(cè)中,X7056提供Viscom系統(tǒng)中最高最好的檢測(cè)深度和效果。特別引人注目的,X7056能夠裝備上AOI的鏡頭,同時(shí)檢測(cè)PCB的上、下兩面。

          綜合了雙面光學(xué)檢測(cè)和X-ray檢測(cè),這套高性能的聯(lián)合系統(tǒng)設(shè)立了質(zhì)量保證的新標(biāo)準(zhǔn)。同步檢測(cè)、 雙軌道傳輸,實(shí)現(xiàn)了高速檢測(cè)和低時(shí)間滯留。X7056采用全模塊化設(shè)計(jì),能夠作為AOI/AXI同步檢測(cè)設(shè)備,亦可用作單一AXI檢測(cè)。多樣的檢測(cè)概念,可靈活的滿足客戶不同的檢測(cè)需求。

          另外,該設(shè)備還包含了Viscom EasyPro快速編程軟件、全面兼容Viscom檢測(cè)算法等特性。X7056在軟、硬件上全面兼容Visom AOI系統(tǒng)。

          添加高性能的VPC軟件模塊可以實(shí)現(xiàn)監(jiān)控程序、應(yīng)用多種濾鏡功能優(yōu)化控制。


          關(guān)鍵詞: Viscom 測(cè)量 測(cè)試

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