LCD Driver IC 測(cè)試方法及其對(duì)測(cè)試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)

LCD顯示器件在中國(guó)已有二十多年的發(fā)展歷程，已經(jīng)從最初的以數(shù)字顯示為主轉(zhuǎn)變?yōu)橐渣c(diǎn)陣字符、圖形顯示為主。LCD顯示設(shè)備以其低電壓驅(qū)動(dòng)、微小功耗、能夠與CMOS電路和LSI直接匹配、具有極薄的扁平結(jié)構(gòu)、可以在極亮的環(huán)境光下使用、工藝簡(jiǎn)單等等特點(diǎn)成為了極有發(fā)展前景的顯示器件。
　　LCD顯示器件種類繁多、發(fā)展迅速，從種類到原理、從結(jié)構(gòu)到效應(yīng)、從使用方式到應(yīng)用范圍差異很大，從測(cè)試原理上來(lái)說也就會(huì)有一些不同，目前比較常用的是STN和TFT的LCD顯示器件。由于色彩表現(xiàn)能力、反應(yīng)/刷新時(shí)間、視角等因素的限制，STN已經(jīng)退出了大屏幕LCD器件的市場(chǎng)。不過由于彩屏手機(jī)、PDA市場(chǎng)的拓廣，STN器件憑借其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，技術(shù)要求不高，而且投資成本低等特點(diǎn)目前依然占有相當(dāng)?shù)氖袌?chǎng)份額。TFT型的LCD器件通過晶體管可以迅速地控制每個(gè)單元，由于各單元之間的電干擾很小，所以在使用大電流驅(qū)動(dòng)時(shí)也不會(huì)有虛影和拖尾現(xiàn)象。較大的電流能提供更高的對(duì)比度、更銳利和更明亮的圖像。
　　為了使LCD設(shè)備工作，必須用到LCD Driver芯片，圖1中所示的是比較常見的LCD 器件的工作原理，當(dāng)然也有許多廠商將這些部件集合在一起，稱為L(zhǎng)CD顯示模塊，但在生產(chǎn)設(shè)計(jì)時(shí)LCD Driver芯片依然是一個(gè)獨(dú)立的部件。并且它的模擬輸出直接驅(qū)動(dòng)顯示面板，因而LCD Driver IC的品質(zhì)是液晶顯示效果的決定性因素，因此出廠前必須經(jīng)過嚴(yán)格的測(cè)試。由于這類IC具有大量高密度模擬輸出引腳、低電壓高頻輸入信號(hào)等特征，對(duì)于測(cè)試環(huán)境也是一個(gè)不小的考驗(yàn)，而且這種IC發(fā)展迅速，測(cè)試環(huán)境必須有一定的裕量，只有選擇合適高效的測(cè)試系統(tǒng)才能夠節(jié)約成本，提高生產(chǎn)效率。
　　由于STN并不是發(fā)展的趨勢(shì)和主流，后文中我們將主要針對(duì)TFT的LCD Driver IC來(lái)談?wù)劥祟怚C的測(cè)試方法。
　　為了驅(qū)動(dòng)TFT的液晶顯示器需要使用Gate Driver 和Source Driver兩種Driver IC，其中Source Driver負(fù)責(zé)提供列上各色素點(diǎn)的驅(qū)動(dòng)電壓，而Gate Driver控制每一行像素的選通狀態(tài)。TFT Driver IC的難點(diǎn)主要是在于Source Driver IC的設(shè)計(jì)開發(fā)和測(cè)試。
　　LCD Driver的測(cè)試方法
　　和普通的IC一樣，LCD Driver IC在生產(chǎn)過程中同樣需要兩次以上的測(cè)試，只不過由于其自身的特點(diǎn)而具有一些特殊的測(cè)試項(xiàng)目。

　　一般來(lái)說，LCD Driver IC會(huì)執(zhí)行以下的一些測(cè)試項(xiàng)目：
　?。?） 參考電壓源的動(dòng)態(tài)電流測(cè)試（芯片處于運(yùn)行狀態(tài)）
　　主要是測(cè)試參考電壓源引腳在芯片運(yùn)作時(shí)的電流消耗，由于只是作為D/A轉(zhuǎn)換時(shí)的基準(zhǔn)電源，因此這個(gè)電流通常應(yīng)當(dāng)不大。
　　（2） 功能測(cè)試
　　用于檢驗(yàn)IC能否完成應(yīng)當(dāng)具備的功能，例如：接受RGB輸入并輸出合適的驅(qū)動(dòng)電壓，選通進(jìn)入特定的工作模式等。和一般邏輯IC測(cè)試的方法一樣，需要使用Pattern程序?yàn)镮C提供輸入信號(hào)，并且檢驗(yàn)引腳的輸出是否和期待值相符和。
　　（3） DC參數(shù)測(cè)試（VSIM / ISVM）
　　測(cè)定IC的一些具體的電流、電壓參數(shù)。例如：各引腳的漏電流、輸入/輸出的電壓電流等等，通常需要使用DC（直流參數(shù)測(cè)試部件）或HVDC（高壓直流參數(shù)測(cè)試部件）進(jìn)行測(cè)試。
　　（4） Contact測(cè)試（聯(lián)接完好性測(cè)試）
　　和一般IC的測(cè)試步驟一樣，這是芯片測(cè)試時(shí)首先要進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目，電源引腳、參考電壓源引腳、RGB輸入和控制信號(hào)引腳、以及LCD輸出引腳都需要分別進(jìn)行Contact測(cè)試。Contact測(cè)試包括短路（Short）和斷路（Open）測(cè)試兩種。測(cè)試的方法多種多樣，通常都是借助于IC內(nèi)部的反偏保護(hù)二極管進(jìn)行測(cè)試的。
　　（5） 動(dòng)態(tài)電源電流和平均電源電流測(cè)試
　　用于衡量IC的平均功耗和瞬時(shí)功耗，一般情況下TFT Driver IC的功耗比STN的Driver IC 要大一些。另外，許多LCD 器件都有Standby（待機(jī)）模式和節(jié)能模式，這時(shí)就需要使用Pattern程序?yàn)镮C輸入特定的信號(hào)選通進(jìn)入指定的模式，然后再進(jìn)行電流的測(cè)試。
　　（6） 色階測(cè)試
　　這是彩色（灰度）LCD Driver IC最重要的測(cè)試項(xiàng)目，由液晶器件的顯示原理可知，LCD顯示器件的色彩表現(xiàn)是通過向LCD面板加不同的電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的，因此測(cè)試的方法就是在向IC輸入不同RGB信號(hào)組合的同時(shí)檢驗(yàn)IC 驅(qū)動(dòng)引腳的輸出電壓是否是在預(yù)期的范圍內(nèi)來(lái)完成測(cè)試的，如圖2所示。

　　如果LCD Driver輸出的驅(qū)動(dòng)電壓精度要求并不高，為了減少測(cè)試時(shí)間，通常只需要使用LCD-CP（電壓比較部件）對(duì)所有的輸出引腳同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。此項(xiàng)測(cè)試只比較電壓高低，不需要測(cè)定具體的電壓數(shù)值。
　　假如顯示色彩的深度比較高，那么驅(qū)動(dòng)電壓的測(cè)試精度要求就會(huì)比較高，那么LCD-CP已經(jīng)無(wú)法滿足測(cè)試的要求，這時(shí)候就需要使用數(shù)字采樣器（Digitizer）來(lái)完成測(cè)試。數(shù)字采樣器的數(shù)量將直接關(guān)系到測(cè)試的時(shí)間。
　　（7） AC參數(shù)測(cè)試
　　眾所周知，響應(yīng)/刷新時(shí)間是LCD顯示器件除了色彩深度以外最重要的指標(biāo)之一，AC參數(shù)測(cè)試就是為了對(duì)IC的開關(guān)特性進(jìn)行檢驗(yàn)。諸如：輸出響應(yīng)時(shí)間、輸入最小設(shè)置/保持時(shí)間等，這些都屬于AC參數(shù)測(cè)試的范疇。
　?。?） LCD輸出偏差測(cè)試
　　對(duì)于大屏幕的顯示器件來(lái)說，Driver IC的輸出引腳數(shù)量巨大，要求各引腳在同樣的RGB數(shù)據(jù)輸入時(shí)的輸出電壓偏差不能太大，否則在顯示時(shí)就會(huì)有各像素顯示顏色不一致的現(xiàn)象，而且這些顯示器件通常需要使用多枚IC同時(shí)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，那么就會(huì)要求這些IC在同一RGB輸入數(shù)據(jù)下的輸出電壓也要盡量一致，如圖3所示。在這種情況下，就必須對(duì)各引腳在不同RGB輸入時(shí)的輸出電壓分別測(cè)定實(shí)際的電壓數(shù)據(jù)，然后進(jìn)行輸出偏差、極限值、平均值等等相關(guān)計(jì)算。