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          鋁電容器—做出正確選擇

          作者:Vishay BCcomponents Theo van de Steeg 時間:2008-03-26 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            其總和應(yīng)與時間域中信號的RMS 值接近。如果并非如此,所有均可乘以時間域中的值與頻率域中的值之間的比值??墒褂眠@些糾正的RMS 值來確定IA/IR 的值。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/80710.htm

            記住如何在規(guī)格上下文中認(rèn)識所定義的溫度及散熱,這一點也很重要。的額定溫度為在額定紋波電流及額定電壓下獲得規(guī)定使用壽命時的最大環(huán)境溫度。關(guān)鍵字為“環(huán)境”:實際上,由于紋波電流產(chǎn)生熱量的影響,在電容器上測量的溫度可能比環(huán)境溫度高10℃。

            根據(jù)IEC 60068 第4.6.2 節(jié),如在Vishay 列線圖中所使用的環(huán)境溫度被定義為處于靜態(tài)空氣環(huán)境中相隔一定距離而可忽略散熱影響時的溫度。測量電源中的環(huán)境溫度非常困難,因此,利用上述條件,大多數(shù)設(shè)計人員發(fā)現(xiàn)電容器外殼的溫度提供了非常接近的第一個近似值。

            但如果等效應(yīng)用紋波電流IA 大于電容器的額定紋波電流(IR),則該應(yīng)用可能會使器件產(chǎn)生很大熱量,從而導(dǎo)致外殼溫度與環(huán)境溫度值出現(xiàn)偏差。如果的確如此,若要確保所計算的使用壽命可正確反映這些應(yīng)用情況,則必須使用另一個測量點來估算周圍空氣溫度。

            如果紋波電流導(dǎo)致的產(chǎn)生的熱量致使器件不能達(dá)到規(guī)定的使用壽命,則可能需要在設(shè)計中提高冷卻效果。在制定這種冷卻策略時要注意的第一點是會通過輻射散掉很大熱量:通過輻射同樣可輕松加熱本來利用輻射來冷卻的表面。為避免過熱,設(shè)計人員因而應(yīng)避免將鋁電容器放置在接近熱的位置,例如散熱片或變壓器。

            如果使用對流冷卻(請參見圖6),在對板面進(jìn)行物理布局時必須謹(jǐn)慎。當(dāng)空氣在熱元件的上方流動時會快速升溫,如果通過風(fēng)扇冷卻多個等同加載的鋁電容器(例如輸出電源上的并行鋁電容器),最好將它們放置在與氣流垂直的一條線上,并且使它們之間保持足夠的間距(一般這一距離應(yīng)不少于元件直徑的一半)。

            通過傳導(dǎo)冷卻一般比使用輻射或?qū)α鞲佑行?。安裝具有極大自加熱性的鋁電容器時,使其底座與(冷卻)散熱片接觸將會大幅降低溫度。注意,更高的冷卻會使應(yīng)用條件與用于確定額定紋波電流的參考條件不同。這再次需要添加校正因數(shù)。通常,確定相應(yīng)的Rth 及ESR 值并使用它們來計算鋁電容器的預(yù)計工作溫度更加簡單。在IA/IR = 0 時將此溫度作為該列線圖中的Tamb 可確定相應(yīng)的使用壽命乘數(shù)。

            我們已注意到,在高頻及低溫時,在計算電路工作特性的過程中可忽略ESR 值。到目前為止,我們使ESR 僅與電阻損耗及因紋波電流產(chǎn)生的熱相關(guān)。但鋁電容器的ESR 可產(chǎn)生其它影響,尤其是對于頻率大于10kHz的情況,在這種情況下,ESR 是影響鋁電容器阻抗的主要因素。
          再次考慮鋁電容器的等效電路可關(guān)注這一影響(請參見圖3)。

            當(dāng)電流對鋁電容器進(jìn)行充電/放電時,它會改變該電容器中的電壓(因為I = C .dv/dt),并會在ESR 中產(chǎn)生壓降(因為V = I·R)。如果電容器通過高頻、高電流脈沖充電(例如,對于回掃電源的輸出電容器來說這是一種典型情況),則ESR 中的壓降導(dǎo)致的紋波會高于電容充電/放電導(dǎo)致的紋波。這樣,輸出電壓上允許的最大紋波便會確定該電容器的規(guī)定最大ESR。應(yīng)再次強(qiáng)調(diào),高頻ESR 隨溫度而變化,當(dāng)鋁電容器的溫度升高時,其ESR 值會降低。因此,當(dāng)電源溫度升高時,紋波電壓將下降。

            通過選擇具有低ESR(最佳材料)、薄而長的封裝(低箔阻)及大尺寸(接觸紙/電解質(zhì)的箔更多)的元件系列可獲得最低的高頻ESR 值。由于鋁電容器一般與箔只有兩個連接,因此并聯(lián)使用多個更小的元件一般會提供比單個大器件更低的高頻ESR。

            在其它多種情況下,使用鋁電容器需要特別小心。尤其是,在使用前經(jīng)過了長期存放以及與其它器件(相同或不同)并聯(lián)或串聯(lián)時需要仔細(xì)考慮漏電流。在其它情況下,鋁電容器的機(jī)械設(shè)計可能會對電源的設(shè)計產(chǎn)生較大影響。

            長期存放主要影響元件的直流漏電流。漏電流是由于鋁電容器的電解質(zhì)與氧化鋁層發(fā)生化學(xué)反應(yīng)并慢慢分解氧化鋁的過程中出現(xiàn)的特性。施加電壓會產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng),從而重新構(gòu)建該層。當(dāng)該氧化層的薄弱點被重新構(gòu)建時,電流會下降到平衡分解氧化鋁的化學(xué)反應(yīng)所需的水平。為此電化學(xué)反應(yīng)供電的電流稱為漏電流。

            如果鋁電容器在一段時間內(nèi)尚未使用,則在第一次通電時氧化層厚度的降低會使傳輸?shù)穆╇娏髟黾?。該電流產(chǎn)生的熱量會進(jìn)一步損壞器件本身。保質(zhì)期指示了在不會極大增加漏電流的情況下可存放鋁電容器的時間。對于85℃、105℃及125℃ 的部件,Vishay 鋁電容器的保質(zhì)期在20℃時分別為3 年、4 年及10 年。

            如果在存放后發(fā)現(xiàn)漏電流太高,則在將該鋁電容器內(nèi)置到電源中之前對其施加電壓將會恢復(fù)氧化層。為防止在此過程中過熱,必須限制漏電流。該電流限制可通過公式Imax = Asurf/Ur 加以計算,其中Imax 為最大電流,單位為mA,Asurf 為鋁電容器的表面積,單位可為mm2,Ur 為該電容器的額定電壓。鋁電容器中的電壓應(yīng)永遠(yuǎn)不超過Ur。

            我們已經(jīng)認(rèn)識到,在電源電路中以并聯(lián)方式連接鋁電容有若干優(yōu)勢:主要是紋波電流可于器件之間共享。例如,兩個相同的并聯(lián)鋁電容可各使用一半紋波電流值,因此將IA/IR值實現(xiàn)平分。因溫升與IA/IR二次冪互成比例,增量將僅為使用單一鋁電容時所產(chǎn)生的四分之一。若IA/IR大于一,元件壽命則可大大延長。

            將此類器件以并聯(lián)方式連接以共享紋波電流時,需考慮到鋁電容在溫度、頻率及時間方面的依賴性。因各鋁電容端子之間的電壓Uf相同,通過各器件的紋波電流If取決于其阻抗Zf(f為紋波電流的頻率)。利用等效電路模型(見圖3)運(yùn)算出下列結(jié)果:

            其中

            處于多數(shù)電源中使用的較高頻率時,ESRf將是該有效阻抗中的主導(dǎo)條件,即:ESRf為最低值的鋁電容將處理最高紋波電流,并因此以最高溫度運(yùn)行。此類高溫將導(dǎo)致老化過程加速,隨時間推移而促使歐姆損耗(ESRf)加快。這將導(dǎo)致其總紋波電流的共享值降低,溫度也會降低。其它鋁電容的總紋波電流共享值則會增加,正如其溫度及老化率也將增高一樣。該紋波電流的“平衡效果”最終確保并聯(lián)電容的壽命接近估算值。

            對于通常為電源頻率兩倍的低頻率而言,包含Cf在內(nèi)的條件是阻抗中的主導(dǎo)條件。因此,Cf值為最高的鋁電容將會處理最高紋波電流,并以最高溫度運(yùn)行,引起老化過程加速。同樣,這即是說:其歐姆損耗(ESRf)隨時間推移而加快。然而,若配予Cf的值變化不大,該器件將繼續(xù)處理最高紋波電流。在此情況下,并聯(lián)電容的壽命則會短于估算值。

            在多數(shù)電源中,電源緩沖電容器內(nèi)的IA/IR比率小于一,因此,歐姆損耗所引起的自動加熱對其壽命不造成大的影響。因此,由上述紋波電流共享而造成的壽命縮短將不會很嚴(yán)重。

            有時,配套鋁電容的額定電壓低于其應(yīng)用所要求的值。在此情況下,兩個或以上元件必須以串聯(lián)方式連接,以確保單個鋁電容的額定電壓未超值。

            以串聯(lián)方式連接需使用平衡電阻抵消漏電流在其他相同器件之間(在所加電壓相同情況下)變化幅度較大的情況。因此,通過各電容強(qiáng)制形成相同電流將導(dǎo)致電壓的平均分配,并使其中一個器件受到了超出其最大額定值的電壓。為避免此情況,設(shè)計人員必須合并平衡電阻,其中一個電阻與各電容并聯(lián)。該方法限制了各個電容在直流情況下的電壓差異。

            要求的電阻值可通過對下列條件的掌握情況進(jìn)行計算:任一電容所需最大電壓(Um通常與額定電壓相同);整個網(wǎng)絡(luò)(Utotal)的總電壓;以及五分鐘后所指定的安培漏電流IL5(接近兩個電容之間的漏電流差異)。然后,最大電阻值可以下列公式算出:

            對于選擇電容的最后一條要求是,電容必須適配目標(biāo)電源的實際尺寸。明智的做法是在設(shè)計時確認(rèn)實際最大尺寸,而不是依賴于數(shù)據(jù)手冊中列出的標(biāo)稱尺寸。通常,電壓及最高溫度額定值越低,器件的體積則越小。然而,需牢記的是,小型鋁電容的壽命有時短于大電容的壽命。對于在高度方面有特殊限制的應(yīng)用設(shè)備,軸式鋁電容可能更為合適。

            許多鋁電容系列還提供各類腳接與引導(dǎo)配置。例如,已開發(fā)的三腳SI配置用于防止反向安裝,而同時保持與標(biāo)準(zhǔn)兩腳SI配置的兼容性。此點非常重要,因為反向安裝除目測檢查外無其他方式可以檢測到。

            此外,也可采用對標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)設(shè)計的特殊更改,使鋁電容能夠處理高于標(biāo)準(zhǔn)額定值的振動水平。

            諸如Vishay之類的公司提供各類鋁電容(部分系列請見表2)。在300W額定功率及125℃的最高溫度下,設(shè)計人員可將ESR的壽命、尺寸及形狀系數(shù)最優(yōu)化。

            此類各系列器件反映了無源元件在電路性能中的重要作用。生產(chǎn)商之所以制造諸多不同器件,是因為設(shè)計人員的需要。該事實不僅體現(xiàn)了要求的多樣性,也體現(xiàn)了滿足此類要求時選擇元器件的重要性。

            通過指定正確的元件,工程師可省去“圍繞”問題區(qū)域被動進(jìn)行設(shè)計的麻煩。對元件(如鋁電容)工作模式及其特性描述方式已有詳細(xì)了解,因此,電源設(shè)計人員可快速鎖定解決方案,并設(shè)計出壽命更長、性能更佳且效率更高的設(shè)備。這樣,此類“商品”便可在當(dāng)今市場幾乎各種電子產(chǎn)品的設(shè)計中大有所為?!?/p>

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