美國俄亥俄州克里夫蘭，2009年3月18日訊：吉時利儀器公司(NYSE：KEI)，作為新興測量解決方案的領導者，今日宣布將在中國啟動“吉時利2009中國科研測試設備現(xiàn)場體驗巡回展示”，專門為高校和研究機構搭建學、研和具體實踐操作及面對面交流的平臺。首場活動將于3月31日下午在北京麗亭華苑酒店三層鴻運廳舉行，詳情請參見http://www.keithley.cn/edm/9/seminar/beijing/pr/ 。

　　本次活動中，吉時利將以涵蓋微弱信號/低電平測試、半導體測試及IV、射頻測試等三大領域的多款測試測量儀器，現(xiàn)場提供大量的產品演示、精彩的技術講解和免費的技術咨詢。與會者不但能了解到最新的測試測量技術，更能即時解決在日常教學、生產、科研及工作中遇到的測試問題，還可以親手操作，現(xiàn)場咨詢遇到的技術難題。

　　微弱信號/低電平測試解決方案

　　六十余年來，吉時利在微弱信號測試和源產生方面一直處于世界領先水平，包括低電流/高阻測量、低電壓/低電阻測量等解決方案，提供電壓、電流、電阻、溫度、電容以及電荷等微弱電信號的測試，可用于材料研究實驗室的導電測試以研發(fā)新的納米材料、原型和工藝過程，及工業(yè)界生產線測試。低電壓測量儀器、低電流測量儀器、開關和源，特別適用于光電器件、顯示器、汽車電子、軍事/航天等領域的有源和無源器件的高準確度測量。

　　此次活動，所用演示儀器包括具有代表性的皮安表、靜電計、源測量單元等解決方案，如6430型亞fA遠程源表、6517A型靜電計、6514型靜電計、6485型皮安表、6487型皮安表/電壓源、2502型雙通道皮安表、6220型直流電流源、6221型交流和直流電流源、2182A型納伏表、2001/2002數(shù)字多用表等。

　　半導體測試及IV解決方案

　　憑借擁有無可匹敵的靈敏度和自動化測試的特性參數(shù)分析及測試系統(tǒng)，吉時利成為半導體測試解決方案的領導者。吉時利的半導體測試方案具有多功能、可升級、可擴展等特點，包括自動參數(shù)測試系統(tǒng)，晶片可靠性(WLR)系統(tǒng)和I-V/C-V測試系統(tǒng)等，專注于幫助客戶應對不斷變化的新材料、新工藝和新結構的挑戰(zhàn)。可用于材料研究、器件特性分析、可靠性測試和晶圓生產工藝的監(jiān)控。

　　吉時利在本次活動中將演示4200型半導體特性分析系統(tǒng)(4200-SCS系統(tǒng)、4200-CVU)、自動特性分析組合(ACS)以及2635和2636型數(shù)字源表。4200-SCS系統(tǒng)以一套緊密集成的特征分析方案取代了多個分離的電子測試工具，非常適合于半導體技術研究、工藝開發(fā)、可靠性實驗室/材料與器件研究實驗室的材料研究，也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場合。4200-CVU將C-V測試選件集成到4200型分析系統(tǒng)中，使用戶能夠在同一平臺上完成直流、脈沖和C-V的測量。自動特性分析組合(ACS) 用于搭建集成化的測試平臺，可根據(jù)用戶的測試需求量身定制，提供可配置的靈活測試方案。本部分還將結合數(shù)字源表演示吉時利獨有的測試腳本處理器(TSP) 技術。

　　射頻測試解決方案

　　吉時利提供了全套的射頻測試與測量解決方案，適用于手機、傳呼機、基站以及數(shù)字交換系統(tǒng)的測試，并能夠滿足最新的 WLAN , WiMAX, TD-SCDMA, WCDMA等對SISO 和MIMO 測試的需求，可用于產品設計、生產和QA/QC實驗室。借助先進的矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器以及MIMO射頻測試系統(tǒng)等創(chuàng)新產品，吉時利為高速發(fā)展的無線測試領域提供最新的測量手段。利用SignalMeister軟件，工程師都可以通過基于框圖式的圖形用戶界面快速而方便地創(chuàng)建并分析信號。