現實環(huán)境中的測量要求從噪聲源中提取微弱信號。即使在差分測量中也經常會出現很高的共模電壓。解決這個問題的常用方法是使用運算放大器或儀表放大器，然后進行某種類型的低通濾波來降低背景噪聲電平。這種傳統方法的問題是，分立的運算放大電路具有很差的共模抑制特性，而且其輸入電壓范圍總是低于電源電壓。當使用具有儀表放大器電路的差分信號源時，利用單片集成電路（IC）就可以大大改善共模抑制特性。但是，標準的儀表放大器無法處理比電源電壓高的信號源或者依附在很高的共模電壓之上的信號。采用一只外部增益電阻器的儀表放大器還會受到增益漂移的影響。此外，低通濾波要求使用一個獨立的運算放大器以及幾只外部元件。這種方法會把寶貴的電路板空間都用完。圖1所示電路在一塊μSOIC上克服了所有這些性能上的局限。


圖1 一塊儀表放大器為ADC輸入提供精密驅動和低通濾波。
　　AD628型精密增益部件IC被配置成一個差分輸入放大器和一個雙極點低通濾波器。該電路可以提取依附在高達