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          Tektronix、Altera和FS2技術合作

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          作者: 時間:2005-11-23 來源: 收藏
           TLA邏輯分析儀、Altera Quartus II設計軟件5.1和FS2 FPGAView軟件提供完整的調試包

          有限公司(NYSE:TEK)、Altera(NASDAQ:ALTR)公司和First Silicon Solutions(FS2)近日發(fā)布了FPGAView?——FS2為 TLA邏輯分析儀提供的軟件包,可對Altera? FPGA進行實時調試。采用FPGAView,設計工程師能夠迅速方便的測量其Altera FPGA設計內(nèi)部的信號,不必重新編譯設計便可以選擇探測哪一組內(nèi)部信號。

          FS2副總裁兼總經(jīng)理Rick Leatherman說:“我們與Tektronix和Altera合作,幫助用戶在設計Altera FPGA時提高其效能,縮短調試時間。通過充分利用我們的調試知識產(chǎn)權、探測技術和PC軟件專門技術來生成FPGAView,我們?yōu)樵O計人員提供的工具幫助他們迅速方便的進行信號測量,而不必重新編譯設計,這實際上節(jié)省了時間和金錢?!?

          FPGAView軟件包安裝在Tektronix邏輯分析儀上,由Altera’s Quartus? II設計軟件5.1引入的邏輯分析儀接口功能提供支持。邏輯分析儀接口功能通過用戶配置復用器將大量的內(nèi)部信號映射到少量的輸出引腳上。Tektronix邏輯分析儀由JTAG端口連接至FPGA,F(xiàn)PGAView控制哪些內(nèi)部FPGA信號映射至輸出引腳,進行實時顯示和調試。與其他調試方法相比,設計人員將會發(fā)現(xiàn)FPGAView、Altera邏輯分析儀接口功能和Tektronix邏輯分析儀組合方便易用、對系統(tǒng)的干擾較小。

          Tektronix邏輯分析儀生產(chǎn)線副總裁David Bennett說:“隨著FPGA密度和復雜性的不斷提高,設計人員正在尋求易于使用、效率更高的手段來調試器件內(nèi)部節(jié)點。Tektronix邏輯分析儀這一新的調試方案不但使設計團隊能夠查看其Altera FPGA設計的內(nèi)部運轉情況,還可以將這些內(nèi)部信號與電路板上的其他信號進行關聯(lián)?!?

          Altera產(chǎn)品和公司營銷副總裁Danny Biran說:“隨著FPGA設計的復雜化,以及縮短設計周期壓力的增大,具備迅速調試FPGA的能力變得越來越關鍵,推動了對FPGAView等解決方案的需求。設計人員可以利用Tektronix邏輯分析儀和FPGAView自動調試過程的高級功能來迅速方便的完成其設計,達到產(chǎn)品面市的目標?!?
          FPGAView適用于所有的Tektronix TLA邏輯分析儀。此外,F(xiàn)PGAView可采用Altera的ByteBlaster?和USB-Blaster?編程電纜進行工作,而不必向邏輯分析儀手動輸入信號名稱。


          關鍵詞: Tektronix

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