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tektronix 文章 進(jìn)入tektronix技術(shù)社區(qū)
下一代半導(dǎo)體氧化鎵器件光電探測(cè)器應(yīng)用與測(cè)試
- _____氧化鎵（Ga2O3）探測(cè)器是一種基于超寬禁帶半導(dǎo)體材料的光電探測(cè)器，主要用于日盲紫外光的探測(cè)。其獨(dú)特的物理化學(xué)特性使其在多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域中展現(xiàn)出廣泛的前景。探測(cè)器性能由于材料不同、結(jié)構(gòu)不同、制備工藝以及應(yīng)用場(chǎng)景的不同的區(qū)別會(huì)有較大的性能差異。而性能指標(biāo)之間往往存在制約，例如暗電流和輸出電流、靈敏度和響應(yīng)度、可靠性和靈敏度等需要權(quán)衡和折中。對(duì)于性能表征也是如此，高響應(yīng)度一定無(wú)法和高精度電流表征同時(shí)進(jìn)行。Tektronix提供了多種性能、架構(gòu)的測(cè)試儀器儀表，滿足探測(cè)器在不同極限維度下測(cè)試的需求。氧化鎵的
- 關(guān)鍵字： 氧化鎵 Ga2O3 氧化鎵探測(cè)器 光電探測(cè)器 泰克 Tektronix
PCI Express發(fā)射器一致性/調(diào)試解決方案
- _____PCI-SIG 6.0規(guī)范引入了PAM4信號(hào)，旨在在保持NRZ信號(hào)向后兼容的同時(shí)實(shí)現(xiàn)64GT/s。多級(jí)（PAM4）方法為采用者和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)帶來(lái)了新的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)。Tektronix的PCI Express 6.0軟件通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試來(lái)減少這種新復(fù)雜性，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。Tektronix的PCE6 (Gen6)選項(xiàng)、PCE5 (Gen5)選項(xiàng)、PCE4 (Gen4)選項(xiàng)和PCE3 (Gen 1/2/3)選項(xiàng)應(yīng)用程序?yàn)镻CI Express發(fā)射機(jī)和參考時(shí)鐘符合性測(cè)試以及根據(jù)PCI-SIG?
- 關(guān)鍵字： PCI Express發(fā)射器 調(diào)試 Tektronix
用混合信號(hào)示波器識(shí)別建立和保持時(shí)間違規(guī)
- _____信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系對(duì)數(shù)字設(shè)計(jì)的可靠運(yùn)行至關(guān)重要。對(duì)于同步設(shè)計(jì)，時(shí)鐘信號(hào)相對(duì)于數(shù)據(jù)信號(hào)的時(shí)間尤為重要。使用混合信號(hào)示波器，可以輕松確定多個(gè)邏輯輸入和時(shí)鐘信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系。建立和保持時(shí)間觸發(fā)器自動(dòng)確定時(shí)鐘與數(shù)據(jù)時(shí)間關(guān)系。建立時(shí)間是指在有效時(shí)鐘邊緣發(fā)生之前，輸入數(shù)據(jù)信號(hào)保持穩(wěn)定（高或低）的時(shí)間。保持時(shí)間是指在有效時(shí)鐘邊緣發(fā)生之后，輸入數(shù)據(jù)信號(hào)保持穩(wěn)定（高或低）的時(shí)間。同步器件（如觸發(fā)器）的元件數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定了設(shè)置和保持時(shí)間。必須滿足設(shè)置和保持時(shí)間的要求，才能確保元件能夠正確可靠地工作?；旌闲盘?hào)示波器
- 關(guān)鍵字： 混合信號(hào)示波器 MSO 時(shí)間違規(guī) Tektronix
MOSFET器件的高壓CV測(cè)試詳解
- _____MOSFET、IGBT和BJT等半導(dǎo)體器件的開(kāi)關(guān)速度受到元件本身的電容的影響。為了滿足電路的效率，設(shè)計(jì)者需要知道這些參數(shù)。例如，設(shè)計(jì)一個(gè)高效的開(kāi)關(guān)電源將要求設(shè)計(jì)者知道設(shè)備的電容，因?yàn)檫@將影響開(kāi)關(guān)速度，從而影響效率。這些信息通常在MOSFET的指標(biāo)說(shuō)明書(shū)中提供。圖1 功率MOSFET的組件級(jí)電容三端功率半導(dǎo)體器件的電容可以在兩種不同的量級(jí)上看待：組件和電路。在組件上查看電容涉及到表征每個(gè)設(shè)備終端之間的電容。在電路上觀察電容涉及到描述組件級(jí)電容的組合。例如，圖1說(shuō)明了一個(gè)功率MOSFET的組件級(jí)電容
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延時(shí)校準(zhǔn)、脈沖測(cè)試一定要做的事兒！
- 進(jìn)行雙脈沖測(cè)試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開(kāi)關(guān)特性，可以說(shuō)它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期。基于雙脈沖測(cè)試獲得的器件開(kāi)關(guān)波形可以做很多事情，包括：通過(guò)對(duì)開(kāi)關(guān)過(guò)程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開(kāi)關(guān)特征參數(shù)制作器件規(guī)格書(shū)、計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐、不同廠商器件開(kāi)關(guān)特性的對(duì)比等。測(cè)量延時(shí)的影響被測(cè)信號(hào)在測(cè)量過(guò)程中會(huì)經(jīng)歷兩次延時(shí)，不同信號(hào)所經(jīng)歷延時(shí)的差別會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí)，索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級(jí)別，對(duì)于
- 關(guān)鍵字： Tektronix 延時(shí)校準(zhǔn) 脈沖測(cè)試
SiC MOSFET驅(qū)動(dòng)電壓測(cè)試結(jié)果離譜的六大原因
- _____開(kāi)關(guān)特性是功率半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)器件最重要的特性之一，由器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中的驅(qū)動(dòng)電壓、端電壓、端電流表示。一般在進(jìn)行器件評(píng)估時(shí)可以采用雙脈沖測(cè)試，而在電路設(shè)計(jì)時(shí)直接測(cè)量在運(yùn)行中的變換器上的器件波形，為了得到正確的結(jié)論，獲得精準(zhǔn)的開(kāi)關(guān)過(guò)程波形至關(guān)重要。SiC MOSFET相較于 Si MOS 和 IGBT 能夠顯著提高變換器的效率和功率密度，同時(shí)還能夠降低系統(tǒng)成本，受到廣大電源工程師的青睞，越來(lái)越多的功率變換器采用基于 SiC MOSFET 的方案。SiC MOSFET 與 Si 開(kāi)關(guān)器件的一個(gè)重要區(qū)別是它
- 關(guān)鍵字： Tektronix SiC MOSFET
【AFG專(zhuān)題系列72變】之四：磁共振成像我搞定
- _____磁共振成像是一種使用磁場(chǎng)及射頻脈沖進(jìn)行的特殊檢查，安全、準(zhǔn)確、無(wú)創(chuàng)傷、對(duì)人體無(wú)害，因此，在醫(yī)療行業(yè)上被廣泛的應(yīng)用。要完成磁共振掃描并且得到圖像需要一個(gè)非常復(fù)雜的磁共振成像系統(tǒng)，而該系統(tǒng)主要由以下幾個(gè)部分組成，包括：磁體系統(tǒng)、射頻系統(tǒng)、梯度系統(tǒng)、接收線圈及其他計(jì)算機(jī)輔助系統(tǒng)。射頻系統(tǒng)主要由射頻線圈、射頻發(fā)生器、射頻放大器組成，主要的作用是發(fā)射能夠激發(fā)成像區(qū)域的射頻脈沖。梯度切換率Slew Rate是描述梯度場(chǎng)變化快慢的一個(gè)指標(biāo)，表示單位時(shí)間內(nèi)梯度場(chǎng)強(qiáng)的變化量，它的單位是mT/m/s，也反映了梯度場(chǎng)
- 關(guān)鍵字： 核磁共振 醫(yī)療 任意波形函數(shù)發(fā)生器 Tektronix
e絡(luò)盟發(fā)售Tektronix AFG31000任意函數(shù)發(fā)生器
- 全球電子元器件與開(kāi)發(fā)服務(wù)分銷(xiāo)商e絡(luò)盟現(xiàn)在備有 Tektronix AFG31000 任意函數(shù)發(fā)生器。這款行業(yè)一流的波形發(fā)生平臺(tái)旨在滿足整個(gè)產(chǎn)品運(yùn)行過(guò)程中，對(duì)性能和多功能性的最嚴(yán)苛要求。 全新 AFG31000 系列融合了四個(gè)行業(yè)第一，為研究人員和工程師帶來(lái)前所未有的用戶體驗(yàn)： 9 英寸電容式觸摸顯示屏和簡(jiǎn)化的菜單方便用戶更快地查找和更改設(shè)置，同時(shí)便于瀏覽?！ ∧軌蚴褂肐nstaView?實(shí)時(shí)監(jiān)控被測(cè)設(shè)備上生成的波形。當(dāng)信號(hào)從 AFG31000 輸出到被測(cè)電路中的測(cè)試點(diǎn)時(shí)，通過(guò)實(shí)時(shí)驗(yàn)證生成的波形圖，
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打造貼近萬(wàn)物互聯(lián)時(shí)代的測(cè)試儀器
- 沉舟側(cè)畔千帆過(guò)，對(duì)于飛速發(fā)展的電子信息產(chǎn)業(yè)來(lái)說(shuō)，變化才是永恒不變的發(fā)展主題，一家企業(yè)越是領(lǐng)先于競(jìng)爭(zhēng)者，就越要不斷抓住市場(chǎng)的變化趨勢(shì)，從而保持領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)不被對(duì)手超越。對(duì)于一直定義著示波器標(biāo)準(zhǔn)的泰克科技來(lái)說(shuō)，面對(duì)測(cè)試市場(chǎng)客戶需求的變化，需要全面調(diào)整自己的產(chǎn)品研發(fā)策略。近日，筆者專(zhuān)訪了泰克科技總裁 Pat Byrne，請(qǐng)他暢談泰克科技如何進(jìn)行企業(yè)的戰(zhàn)略全面轉(zhuǎn)型。從被丹納赫集團(tuán)收購(gòu)之后，泰克科技經(jīng)歷了很多變化，可以說(shuō)Pat Byrne上任之后，憑借他對(duì)測(cè)試儀器更深厚的職業(yè)經(jīng)歷，帶領(lǐng)泰克科技開(kāi)始全面的企業(yè)戰(zhàn)略調(diào)整，即
- 關(guān)鍵字： 示波器 tektronix 泰克科技
泰克舉辦中國(guó)測(cè)試測(cè)量科普研討會(huì)
- 泰克公司日前宣布，從即日起，泰克將在全國(guó)開(kāi)展“探索電子世界，泰克在您身邊”大型科普活動(dòng)。用戶登錄本次活動(dòng)網(wǎng)頁(yè)，并選擇感興趣的主題，即可獲得泰克資深工程師上門(mén)講座和演示以及與他們一對(duì)一交流的機(jī)會(huì)，整個(gè)活動(dòng)完全免費(fèi)。 本次活動(dòng)涉及測(cè)量領(lǐng)域的十大熱門(mén)主題，包括： ·創(chuàng)新的自動(dòng)功率電子分析與測(cè)試方案 ·整合您的LED測(cè)試解決方案 ·為最新的汽車(chē)設(shè)計(jì)提供突破性解決方案 ·機(jī)電行業(yè)的電子測(cè)試需求和示波器應(yīng)
- 關(guān)鍵字： Tektronix 示波器 測(cè)試測(cè)量
泰克優(yōu)選樣機(jī)折扣銷(xiāo)售
- 從即日起到2009年10月2日，在泰克網(wǎng)站下單訂購(gòu)泰克MSO2024免費(fèi)試用活動(dòng)樣機(jī)，即可享受額外15%價(jià)格優(yōu)惠。 泰克優(yōu)選樣機(jī)有著與新機(jī)一樣的性能與質(zhì)量，并享受同樣的保修服務(wù)(自開(kāi)發(fā)票之日起計(jì)算保修時(shí)限)。如果您的預(yù)算有限，又不愿在儀器的性能質(zhì)量上作出讓步，泰克優(yōu)選樣機(jī)將為您提供一個(gè)很好的選擇。 泰克優(yōu)選樣機(jī)是進(jìn)行過(guò)展示、或提供給用戶進(jìn)行試用的機(jī)型，所以在外觀上難免會(huì)存在一些使用過(guò)的痕跡。但為此您可以得到額外的折扣優(yōu)惠，并享受不折不扣的泰克品質(zhì)和保修服務(wù)。 了解詳情：http://
- 關(guān)鍵字： Tektronix 示波器 MSO2024
tektronix介紹
泰克公司是一家全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案提供商。泰克公司成立于1946年，它在電子技術(shù)方面的革命可以追溯到60多年前。泰克公司創(chuàng)始人在1946年發(fā)明了世界上第一臺(tái)觸發(fā)式示波器，始于這個(gè)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，如今的泰克已經(jīng)崛起成為全球最大的測(cè)試，測(cè)量和監(jiān)測(cè)設(shè)備供應(yīng)商之一?，F(xiàn)在，泰克公司在19個(gè)國(guó)家中設(shè)有辦事機(jī)構(gòu)，2006年銷(xiāo)售收入超過(guò)11億美元。
作為測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)領(lǐng)域的全球領(lǐng)導(dǎo)者，泰克公司 [ 查看詳細(xì) ]
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