吉時(shí)利發(fā)布用于半導(dǎo)體器件探測和特征分析設(shè)備的混合信號互連解決方案

• 　　先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的世界級領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司，日前發(fā)布測試界第一個(gè)利用一套線纜即可處理I-V、C-V和脈沖I-V信號的互連解決方案(正申請專利)。本款最新布線套件基于專利型設(shè)計(jì)，能大大加快并簡化從任意先進(jìn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探測器進(jìn)行直流電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測試互連的過程?；ミB線的設(shè)計(jì)與吉時(shí)利4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)以及其他一些用于特征分析的測試儀器兼容。 　　該高性能三同軸線纜套件的設(shè)計(jì)非
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