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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 半導體測試

          研華COM-HPC Size C模塊SOM-C350,助力存儲ATE測試設備快速部署

          • 隨著人工智能和大數據的發(fā)展,企業(yè)數字化轉型加速,數據量劇增,推動了存儲市場需求的逐年增長,針對存儲測試設備的需求也越來越復雜和多樣化。研華SOM-C350高端COM-HPC解決方案,具備出色算力、高速數據傳輸、豐富I/O接口,且兼容PCIe Gen5,是存儲ATE測試設備的優(yōu)選方案。
          • 關鍵字: ?研華嵌入式  模塊化電腦  COM-HPC  存儲自動測試設備  芯片&半導體測試  

          筑波科技與美商泰瑞達攜手共創(chuàng)半導體測試新局面

          • 自2022年以來,筑波科技 (ACE Solution) 與美商泰瑞達 (Teradyne) 展開策略合作,共同推動半導體測試的 ETS 平臺。我們特別專訪 Teradyne 的營銷總監(jiān)Aik-Moh Ng,他自2006年以來一直領導 Teradyne ETS 亞太地區(qū)團隊。隨著市場發(fā)展,電源管理中集成電路的整合明顯提升。電動車的崛起同時帶來電池管理系統(tǒng)的挑戰(zhàn),需要高效的系統(tǒng)來最大化電池使用。此外,AI 技術將促進許多電源管理 IC 的發(fā)展,推動高端先進 GPU、CPU 和 TPU 的需求。這些設備在啟動
          • 關鍵字: 筑波  泰瑞達  半導體測試  

          泰瑞達與合肥工業(yè)大學“半導體測試技術聯(lián)合實驗室”簽約暨揭牌儀式圓滿結束

          • 全球先進的自動測試設備供應商泰瑞達近日宣布,與合肥工業(yè)大學的“半導體測試技術聯(lián)合實驗室”的簽約暨揭牌儀式圓滿結束。泰瑞達全球半導體測試解決方案工程部副總裁Randy Kramer、全球監(jiān)管策略總監(jiān)Sam Rosen、中國工程方案開發(fā)部研發(fā)總監(jiān)侯毅、亞太區(qū)市場產品經理Hwai-Sern Yap、中國市場溝通經理Lisa Liu等代表泰瑞達公司出席在合肥工業(yè)大學儀器科學與光電工程學院舉辦的現場活動。一直以來,泰瑞達都視中國為重要合作伙伴,秉持著“育芯、育人”的長期支持與承諾, Randy Kramer、Sam
          • 關鍵字: 泰瑞達  合肥工業(yè)大學  半導體測試  

          旺矽科技先進半導體測試部門成為是德科技解決方案合作伙伴

          • 半導體測試解決方案的全球領導者旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 欣然宣布與全球創(chuàng)新合作伙伴是德科技 (Keysight Technologies) 建立具里程碑意義的合作伙伴關系。是德科技致力于提供市場領先的設計、仿真與測試解決方案,幫助工程師加快產品的開發(fā)和部署。此次合作標志著旺矽科技先進半導體測試 (AST) 部門的一個重要里程碑,其將成為半導體測試行業(yè)的有力競爭者。通過戰(zhàn)略合作加快創(chuàng)新進程旺矽科技先進半導體測試部門與是德科技之間的戰(zhàn)略合作建立在雙方共同創(chuàng)新的基礎之
          • 關鍵字: 旺矽科技  半導體測試  是德科技  

          泰瑞達亮相2022 ICCAD:解密“芯”浪潮之下,半導體測試的挑戰(zhàn)與良策

          • 2022年12月28日,中國 北京訊 —— 全球先進的自動測試設備供應商泰瑞達(NASDAQ:TER)宣布,受邀出席了中國集成電路設計業(yè)年會(簡稱ICCAD)。ICCAD是中國半導體界最具影響力的行業(yè)年度盛會之一,旨在為集成電路產業(yè)鏈的各個環(huán)節(jié)營建一個交流與協(xié)作的平臺,促進整個產業(yè)共榮、共進、共同發(fā)展。  在ICCAD 12月27日舉辦的先進封裝與測試論壇上,泰瑞達中國產品專家于波先生發(fā)表了題為《緊跟“芯”浪潮之挑戰(zhàn),引領測試行業(yè)先鋒》的演講,以行業(yè)領頭羊視角向與會嘉賓解讀當下半導體行
          • 關鍵字: 泰瑞達  2022 ICCAD  半導體測試  

          半導體測試|新涌現的技術與物流挑戰(zhàn)

          • 半導體技術的發(fā)展迅猛而廣泛,目前已經滲透并影響到我們生活的方方面面。半導體器件已經應用在我們的汽車、便攜式電子產品、辦公設備、醫(yī)療儀器、工業(yè)機械、通信基礎設施和無數的其他方面,幾乎無處不在。盡管最近發(fā)生的影響廣泛的全球事件對每個行業(yè)都提出了挑戰(zhàn),但半導體行業(yè)仍然充滿活力,并繼續(xù)保持增長勢頭。據行業(yè)分析公司 Statista 給出的預測數據,2021年半導體年出貨量達到歷史最高水平(如圖1所示),即出貨量將達到 1.14 萬億件,總價值約為 4700 億美元。這一創(chuàng)紀錄的增長也將為半導體行業(yè)帶來一系列挑戰(zhàn)。
          • 關鍵字: 半導體測試  羅德與施瓦茨  

          降低時間成本提升良率 泰瑞達為半導體測試提速

          • 芯片測試貫穿于半導體研發(fā)到量產的全部過程,是半導體制造無法繞開的一環(huán)。雖然近些年半導體工藝的演進速度放緩,但因為制造工藝的精細和芯片內部結構的復雜,使得測試和驗證的復雜程度大幅提升。 新工藝,新挑戰(zhàn) 隨著制作工藝越來越先進,芯片上的晶體管集成度也越來越高。為數量暴增的晶體管進行測試勢必會造成芯片測試時間的增加。另外,模擬和射頻芯片測試過程中模擬測試占比重較大,且在測試之前需在內部進行trim調整,這樣會帶來額外的測試時間,測試時間的增加,就意味著更高的測試成本。Wafer yield也是先進工藝帶來的一個
          • 關鍵字: 泰瑞達  半導體測試  UltraFLEX  

          致茂并購ESS擴大半導體測試應用市場

          • 致茂電子并購ESS Inc. (Environmental Stress Systems, Inc.) 100%股份。ESS主要提供Thermal Forcing System,其核心技術的溫控范圍為-104°C ~ +175°C,可擴大致茂在半導體測試設備溫度控制的能量,以符合晶片市場對于極低溫與高溫的測試需求。因應5G、物聯(lián)網、車聯(lián)網等新興應用,以及先進封裝制程中高效能運算(HPC)與AI等晶片所需的高功率溫控需求,ESS擁有達1,500W的冷卻技術可滿足晶片所需的高功率溫控。根據TrendF
          • 關鍵字: 致茂  ESS  半導體測試  

          日月光投控:今年半導體測試業(yè)務仍可強勁成長

          • 封測龍頭日月光投控董事長張虔生表示,原先預期樂觀的2020年因爆發(fā)新冠肺炎疫情,使未來成長動能埋下極大隱憂。不過,集團預期測試業(yè)務仍能維持強勁成長動能,其中系統(tǒng)級封裝(SiP)及扇出型封裝(Fan-out)成長表現備獲看好。
          • 關鍵字: 日月光投控  半導體測試  NPI  

          挑戰(zhàn)傳統(tǒng)ATE,測試廠商發(fā)力半導體測試

          • 2017年春天開始,筆者有幸每個月接觸一家測試巨頭的高管,談論2017中國市場的熱點時,半導體測試是被提及的最多的一個,也是最讓很多人意外的一個。
          • 關鍵字: ATE  PXI  NI  半導體測試  

          PXI加入戰(zhàn)局,ATE全面模塊化時代到來

          • 半導體測試ATE是整個測試系統(tǒng)中最為精密的一個環(huán)節(jié),也是最具市場價值的測試應用領域之一,相比于幾萬塊錢規(guī)模的自動化測試系統(tǒng),動輒百萬的半導體測試ATE從技術上就限制了很多玩家的進入。當然,龐大的系統(tǒng)有自己固有的問題,就是設備的使用成本過于昂貴,基于這樣的需求,NI的PXI技術尋找了市場的切入點技術找到了市場的切入點。 在快速變遷的市場環(huán)境下,設備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限,測試設備的淘汰速度加快,測試成本也隨之增加,因而需要與日益嚴苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導體測試客戶的最大亮
          • 關鍵字: PXI  ATE  NI  模塊化  半導體測試  

          NI半導體測試系統(tǒng) 開啟ATE測試新未來

          •   如果你想要對半導體芯片設計和測試的新動向有所了解,這無疑是個非常合適的地方。9月3日至9月5日,NationalInstruments又將發(fā)布新的半導體測試儀。這次的發(fā)布依然端莊大氣,場合是在2014SEMICONTaiwan國際半導體展上。
          • 關鍵字: NI  半導體測試  

          愛德萬測試主攻亞洲市場

          •   半導體測試巨頭愛德萬測試(Advantest)是一家日本測試公司,愛德萬測試(Advantest)于去年7月購并惠瑞捷(Verigy),惠瑞捷與愛德萬測試于今年4月1日起已正式整并至愛德萬測試,自此成為全球最大的半導體測試設備廠商。   合并后的愛德萬測試和惠瑞捷優(yōu)勢互補,在ATE、SOC以及Memory Test市場占有率居全球第一位,并在擴大客戶群、提升服務以及拓展業(yè)務范圍等方面取得了明顯的優(yōu)勢。   愛德萬測試(Advantest)5月21日在上海Kerry Hotel舉行媒體發(fā)布會。愛德萬
          • 關鍵字: 愛德萬  半導體測試  

          集成在半導體測試中的重要性

          • 在今年5月1日于美國加利福尼亞州伯克利(Berkeley)舉行的2006年VLSI測試研討會上,一個專家小組探究了可測試設計(DFT)的發(fā)展前景。我們的姊妹出版物EDN的執(zhí)行主編Ron Wilson報道說,討論的主要問題是單點工具或集
          • 關鍵字: 集成  半導體測試    

          惠瑞捷宣布收到愛德萬的修訂后并購提案

          •   惠瑞捷有限公司 (Verigy Ltd.)今天宣布,已收到來自愛德萬公司(紐約證券交易所代碼:ATE)的修訂后并購提案,以每股15美元的現金價格收購惠瑞捷的所有上市普通股。  
          • 關鍵字: 惠瑞  半導體測試  
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