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          嵌入式邏輯分析儀在FPGA時序匹配設(shè)計中的應(yīng)用(07-100)

          •   引言   隨著FPGA器件規(guī)模的不斷增加、封裝密度不斷提高,傳統(tǒng)邏輯分析儀在FPGA板級調(diào)試中的應(yīng)用日益困難。為此,主流FPGA廠商相繼在其開發(fā)工具中增加了嵌入式邏輯分析儀(ELA) IP軟核,如Lattice在ispLEVER中提供的ispTRACY,Xilinx在ISE中提供的ChipScopePro,Altera在Quartus II提供中的Signal Tap II等。ELA在FPGA內(nèi)部預(yù)先設(shè)計探測點和測試邏輯,可在軟件工具的配合下對FPGA設(shè)計進行較全面的測試。采用ELA,只需用JTAG
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          時序匹配設(shè)計介紹

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