測試測量 文章 進(jìn)入測試測量技術(shù)社區(qū)
HT46R47組成的電壓頻率測量顯示電路(05-100)
- 引言 對單片機(jī)為核心構(gòu)成的智能檢測儀器,測量電壓、頻率時有多種方法。一般對電壓測量采用A/D轉(zhuǎn)換法或V/F轉(zhuǎn)換法。對頻率測量則采用測頻法或測周法。具體說： ·A/D轉(zhuǎn)換法將被測電壓信號經(jīng)過阻抗匹配,變成單片機(jī)可測量的電壓范圍,后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換測得相應(yīng)的電壓值。 ·V/F轉(zhuǎn)換則將被測電壓加到V/F轉(zhuǎn)換器上,然后對輸出的頻率進(jìn)行測量,后經(jīng)單片機(jī)內(nèi)部程序的換算轉(zhuǎn)換為電壓值。 ·測頻法是利用單片機(jī)內(nèi)部計數(shù)器計數(shù)一定門限內(nèi)的頻率信號脈沖數(shù)。 ·測周法是計時一定數(shù)量的被測頻率信號的脈沖的時間?？偟膩碚f,每種方法
- 關(guān)鍵字： 測試測量 HT46R47 電壓頻率 電路
測試系統(tǒng)開關(guān)技術(shù)(05-100)
- 設(shè)計完善的開關(guān)系統(tǒng)至少應(yīng)具備3個子系統(tǒng)：計算機(jī)控制與處理、測量儀表和開關(guān)。只要再增加DUTC(被測設(shè)備)電源和DUT負(fù)載就構(gòu)成完整的功能測試設(shè)備。無可爭辯的是,開關(guān)子系統(tǒng)是測試系統(tǒng)的心臟,因為所有其它子系統(tǒng)是測試系統(tǒng)的心臟,因為所有其它子系統(tǒng)都要與它接口。因此,對它有一個全面的、正確的了解是十分必要的。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 開關(guān)系統(tǒng) P580
JTAG測試(05-100)
- 現(xiàn)在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測試中,使得在開發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測試行動組)測試技術(shù)。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 JTAG 聯(lián)合測試行動組 XJTAG
邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)
- 當(dāng)前,PCB是越來越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測試方法都有其固有的局限性。于是,測試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來以達(dá)到他們所要求的測試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測試覆蓋范圍,是任何一種單獨(dú)技術(shù)無法比擬的。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 邊界掃描 處理器
嵌入式邊界掃描(05-100)
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級測試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 IEEE1149.1
新一代開放式儀器接口標(biāo)準(zhǔn)LXI(05-100)
- 在推動電子測量儀器技術(shù)發(fā)展過程中,從70年代初至2000年代初的三十多年中,先后出現(xiàn)GPIB(通用儀器總線,IEEE488標(biāo)準(zhǔn))、VXI(VME總線的儀器擴(kuò)展,IEEE1515標(biāo)準(zhǔn))和PXI(PCI總線的儀器擴(kuò)展)三種開放式儀器總線,2005年9月LXI聯(lián)盟發(fā)布LXI(LAN的儀器擴(kuò)展)標(biāo)準(zhǔn)1.0版本,標(biāo)志著測量儀器的新一代開放總線標(biāo)準(zhǔn)的到來。LXI標(biāo)準(zhǔn)繼承前面三種開放式總線的優(yōu)點(diǎn),在局域網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)(IEEE802.3)基礎(chǔ)上增加測量儀器系統(tǒng)所需的功能,擴(kuò)展成為性能強(qiáng)大的結(jié)構(gòu)靈活的開放式平臺,LXI聯(lián)盟發(fā)
- 關(guān)鍵字： 測試測量 LXI
下一代自動測試系統(tǒng)與合成儀器的發(fā)展(05-100)
- 合成儀器是有望革新測試產(chǎn)品的新型測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系,業(yè)已被業(yè)內(nèi)人士逐漸認(rèn)同。 合成儀器這個術(shù)語首先是美國國防部(DoD)下一代自動測試系統(tǒng)(NxTest)集成產(chǎn)品組使用的,用來描述該研制組竭力主張的新型測試結(jié)構(gòu)體系。2002年4月,DoC自動測試系統(tǒng)(ATS)執(zhí)行代理辦公室(EAO)正式成立NxTest IPT,由海、陸、空三軍代表組成。主要目標(biāo)有兩個：降低DoD ATS的采購和支撐成本;改進(jìn)軍事服務(wù)“ATS功能”的內(nèi)、外合作。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 自動測試系統(tǒng) 合成儀器
NI發(fā)布2009年測試與測量發(fā)展趨勢
- 軟件定義的儀器系統(tǒng)將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢，用以提升性能和降低成本 2009年1月，如今全球經(jīng)濟(jì)現(xiàn)狀對于預(yù)算成本有著嚴(yán)格的限制，測試工程師現(xiàn)今面臨的挑戰(zhàn)將是如何尋找更高效的測試方法。美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI），作為全球測試測量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，指出2009年將極大改進(jìn)測試測量系統(tǒng)效率的三大趨勢——軟件定義的儀器系統(tǒng)，并行處理技術(shù)以及無線和半導(dǎo)體測試新方法。它們將幫助工程師在減少測試總成本的條件下，開發(fā)更快、更靈活的自動化測
- 關(guān)鍵字： NI 測試測量
測試測量介紹
電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器：光時域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
儀、電纜故障測 [ 查看詳細(xì) ]
測試測量研討會推薦
測試測量電路
測試測量相關(guān)帖子
測試測量資料下載
測試測量視頻
測試測量專欄文章
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473