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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試測量

測試測量文章進(jìn)入測試測量技術(shù)社區(qū)

1992年，劉易斯.普萊特當(dāng)選惠普公司總裁及首席執(zhí)行官

　　1992年，劉易斯.普萊特當(dāng)選惠普公司總裁及首席執(zhí)行官。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1991年，惠普收購Advantek公司

　　1991年，收購Advantek公司拓寬了公司在全球通訊市場的元器件供給。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1990年，惠普的超臨界液體提取器進(jìn)入試樣準(zhǔn)備領(lǐng)域

　　1990年，惠普公司以其新研制的超臨界液體提取器進(jìn)入試樣準(zhǔn)備領(lǐng)域。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1990年，HP 建立全新的測試與量測公司

　　1990年，HP 建立全新的測試與量測公司，并指派 Ned Barnholt 領(lǐng)導(dǎo)這間公司。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1989年，惠普推出測試與測量系統(tǒng)語言

　　1989年，推出測試與測量系統(tǒng)語言(TMSL)解決了必須通過寫軟件的方式在測試系統(tǒng)中的不同儀器間傳遞信息的難題。TMSL開辟了一個(gè)新的工業(yè)信息傳送標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1989年，惠普推出的新型原子輻射檢測儀

　　1989年，惠普推出的新型原子輻射檢測儀是首臺能以氣相色譜法檢測除了氦以外的所有元素的檢測儀。
關(guān)鍵字： HP 測試測量原子輻射檢測儀

1989年，惠普歡慶成立50周年

　　1989年，惠普歡慶成立50周年。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1987年，Walter Hewlett和David Woodley Packard當(dāng)選為惠普公司董事

　　1987年，Walter Hewlett(比爾之子)和David Woodley Packard(戴維之子)當(dāng)選為公司董事。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1987年，NI在日本東京成立首家海外分公司

　　1987年，NI在日本東京成立海外分公司，這是NI在美國以外成立的第一家分公司。
關(guān)鍵字： NI 測試測量

1987年，比爾.休利特退休并辭去惠普董事會副主席職務(wù)

　　1987年，比爾.休利特退休并辭去董事會副主席職務(wù)。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

1985年，惠普在中國成立合資高科技公司

　　1985年，惠普在中國成立合資高科技公司。
關(guān)鍵字： Agilent 測試測量

1981年，惠普在中國建立代表處

　　1981年，惠普在中國建立代表處。
關(guān)鍵字： Agilent 測試測量

1979年，惠普開發(fā)的石英毛細(xì)柱簡化了化學(xué)分析過程

　　1979年，惠普開發(fā)的石英毛細(xì)柱簡化了化學(xué)分析過程，使之可以分析更多種化合物。
關(guān)鍵字： HP 測試測量化學(xué)分析

1979年，安捷倫推出用于化學(xué)分析的二極管陣列檢測器

　　1979年，新推出的用于化學(xué)分析的二極管陣列檢測器能迅速地同時(shí)測量多波長光線。
關(guān)鍵字：安捷倫測試測量二極管陣列檢測器

1977年，約翰.楊出任惠普公司總裁

　　1977年，約翰.楊出任惠普公司總裁(1978年出任首席執(zhí)行官)。
關(guān)鍵字： HP 測試測量

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測試測量介紹

電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀…… 　　通信測試測量儀器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試　　儀、電纜故障測 [ 查看詳細(xì) ]

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