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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 自動(dòng)測(cè)試

          自動(dòng)測(cè)試設(shè)備加流測(cè)壓及加壓測(cè)流的設(shè)計(jì)

          • 摘要:在集成電路的測(cè)試中,通常需要給所測(cè)試的集成電路提供穩(wěn)定的電壓或電流,以作測(cè)試信號(hào),同時(shí)還要對(duì)信號(hào)進(jìn)行測(cè)量,這就需要用到電壓電流源;本系統(tǒng)能作為測(cè)試設(shè)備的電壓電流源,實(shí)現(xiàn)加壓測(cè)流和加流測(cè)壓功能。本
          • 關(guān)鍵字: 自動(dòng)測(cè)試  設(shè)備  加流測(cè)壓  加壓測(cè)流    

          基于PC104的通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          • 通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)可以最大程度地節(jié)約測(cè)試成本,包括了軟件開發(fā)成本,系統(tǒng)維護(hù)、升級(jí)成本以及新的測(cè)系統(tǒng)開發(fā)成本?! y(cè)試程序集TPS可移植使得開發(fā)一套程序可以適于多種不同的場(chǎng)合(理想狀態(tài)下),在系統(tǒng)開發(fā)中不
          • 關(guān)鍵字: 104  PC  自動(dòng)測(cè)試  系統(tǒng)設(shè)計(jì)    

          多總線融合式通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          • 摘要:為在一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)上能滿足更多的測(cè)試要求,避免資金浪費(fèi)和重復(fù)性建設(shè),基于PC/104主機(jī)設(shè)計(jì)了一種通用測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)能融合多種總線,集成多種儀器,并考慮了網(wǎng)絡(luò)化和構(gòu)建大型分布式測(cè)試系統(tǒng)的需要,可根據(jù)實(shí)
          • 關(guān)鍵字: 多總線融合  自動(dòng)測(cè)試  系統(tǒng)設(shè)計(jì)    

          一種末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

          • 0引言末制導(dǎo)雷達(dá)是反艦導(dǎo)彈制導(dǎo)系統(tǒng)的關(guān)鍵部件之一,其性能的優(yōu)劣直接影響到導(dǎo)彈的戰(zhàn)術(shù)和技術(shù)指標(biāo),其技...
          • 關(guān)鍵字: 末制導(dǎo)  雷達(dá)  自動(dòng)測(cè)試  

          某型末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          • 摘要:介紹了基于GPIB總線和RS-422接口協(xié)議的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)說明了系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法,系統(tǒng)具有模塊化、層次化和開放式的特點(diǎn),便于維護(hù)和升級(jí)。闡述了硬件部分的組成、設(shè)計(jì)方法和適配器。
          • 關(guān)鍵字: 末制導(dǎo)  雷達(dá)  自動(dòng)測(cè)試  系統(tǒng)設(shè)計(jì)    

          某型聲自導(dǎo)頭自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與研究

          • 摘要:提出了基于ATE技術(shù)的魚雷聲制導(dǎo)頭自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)思想和總體設(shè)計(jì)方案。在硬件設(shè)計(jì)中介紹了聲制導(dǎo)頭各部件的測(cè)試原理、方法、信號(hào)隔離電路設(shè)計(jì)。軟件部分采用面向?qū)ο?、可視化設(shè)計(jì)的快速應(yīng)用開發(fā)軟件平臺(tái)Labvi
          • 關(guān)鍵字: 自導(dǎo)  系統(tǒng)設(shè)計(jì)  自動(dòng)測(cè)試    

          利用ATE(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編

          • 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)中用作微處理器驅(qū)動(dòng)的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驅(qū)動(dòng)電流-電壓變換器 IC2A,IC2A又驅(qū)動(dòng)功率 MOSFET Q1 的柵極。被
          • 關(guān)鍵字: ATE  自動(dòng)測(cè)試  設(shè)備  測(cè)試電源    

          掛式空調(diào)器用控制板的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)

          • 目前國內(nèi)外相關(guān)廠家的在線測(cè)試已經(jīng)做得相對(duì)成熟了,軟硬件配套設(shè)施先進(jìn)且大多實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)化,其在線測(cè)試的自動(dòng)化程度與國外相比估計(jì)已經(jīng)相差無幾。盡管如此,功能測(cè)試的自動(dòng)化進(jìn)程卻一直進(jìn)展相當(dāng)緩慢。雖然國內(nèi)也有不少
          • 關(guān)鍵字: 空調(diào)器  控制板  自動(dòng)測(cè)試  系統(tǒng)技術(shù)    

          基于LabWindows/CVI的航電設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          • 隨著航空電子設(shè)備技術(shù)的迅猛發(fā)展,先進(jìn)的電子技術(shù)廣泛應(yīng)用到航空電子設(shè)備上,尤其是航空總線技術(shù)的應(yīng)用,使得航空電子設(shè)備綜合化程度越來越高,給維護(hù)檢測(cè)帶來了一定的難度 然而隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和微電子
          • 關(guān)鍵字: LabWindows  CVI  設(shè)備  自動(dòng)測(cè)試    

          基于虛擬儀器技術(shù)自動(dòng)測(cè)試與數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)

          •  在虛擬儀器開發(fā)中必須解決專業(yè)軟件和數(shù)據(jù)庫之間的數(shù)據(jù)傳輸和調(diào)用問題,而LabVIEW 現(xiàn)有的版本中沒有提供與通用數(shù)據(jù)庫直接接口的方法。這一問題可以采用以下幾種方法解決 ?! ?.購買NI公司的LabVIEW AddOns中的數(shù)
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          AM8000系列搭建讓學(xué)生用得起的測(cè)試平臺(tái)

          • 隨著電子設(shè)備日益復(fù)雜,自動(dòng)測(cè)試技術(shù)被廣泛應(yīng)用到通信、汽車、機(jī)電、石化、電力等各個(gè)領(lǐng)域,社會(huì)對(duì)相關(guān)專業(yè)高校...
          • 關(guān)鍵字: 通信  自動(dòng)測(cè)試  硬件  總線技術(shù)  AM8000  

          MIL-STD-1553A/B數(shù)據(jù)總線自動(dòng)測(cè)試儀的設(shè)計(jì)

          • 前言 MIL-STD-1553作為一個(gè)軍用串行總線標(biāo)準(zhǔn)于1973年由美國國防部發(fā)布,此標(biāo)準(zhǔn)定義了總線的機(jī)械特性、電氣特性和功能特性。1553總線首先被應(yīng)用在航空設(shè)備中,后來也被廣泛應(yīng)用在航天的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)中。它作為
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          自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的波形數(shù)字化器(08-100)

          • 波形數(shù)字化器是數(shù)字示波器的精簡(jiǎn)型模塊,適合自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)要求快速采集大量輸入數(shù)據(jù),而不必觀察輸入波形的特點(diǎn)。本文介紹波形數(shù)字化器的電路構(gòu)成、重要參數(shù)和當(dāng)前進(jìn)展,以及在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。
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          基于I2C總線的大型開關(guān)矩陣設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

          •   1 引言   自動(dòng)測(cè)試設(shè)備在軍事及工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛,然而在電路單元尤其是電路板測(cè)試中,由于被測(cè)單元種類多,被測(cè)通道數(shù)量大,傳統(tǒng)的開關(guān)矩陣體積大、切換速度慢、電氣性能差。已不能滿足現(xiàn)代測(cè)試儀器高速、便攜的要求。本文介紹了一種采用USB接口,利用I2C總線傳輸數(shù)據(jù),由CPLD控制多路復(fù)用器件的大型開關(guān)矩陣結(jié)構(gòu),具有較高的切換速度及較好的電氣性能,并滿足了小型化的要求。   2 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及功能   開關(guān)矩陣主要實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與被測(cè)電路單元之間的信息交換,功能如下:   (1)將程控電源系統(tǒng)
          • 關(guān)鍵字: I2C  開關(guān)矩陣  CPLD  USB  自動(dòng)測(cè)試  

          TestQuest CountDown手機(jī)自動(dòng)測(cè)試方案

          共51條 3/4 « 1 2 3 4 »

          自動(dòng)測(cè)試介紹

            目錄   1 正文   正文   現(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試起源于軍事上的需要,于50年代中期開展了大規(guī)模的研制,到60年代中后期已應(yīng)用于工業(yè)中并得到進(jìn)一步發(fā)展。第一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)幾乎都是為某些測(cè)試目的而專門設(shè)計(jì)制造的。為了適應(yīng)武器系統(tǒng)和工業(yè)裝備的迅速更新?lián)Q代,人們?cè)噲D制成“萬能”的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),以至設(shè)備日益龐大復(fù)雜。自動(dòng)測(cè)試的目的除加快測(cè)試速度之外,更重要的是節(jié)省高級(jí)熟練技術(shù)人員的復(fù)雜勞動(dòng),使之從事 [ 查看詳細(xì) ]
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