芯片&半導(dǎo)體測(cè)試 文章 進(jìn)入芯片&半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)社區(qū)
研華COM-HPC Size C模塊SOM-C350,助力存儲(chǔ)ATE測(cè)試設(shè)備快速部署
- 隨著人工智能和大數(shù)據(jù)的發(fā)展,企業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型加速,數(shù)據(jù)量劇增,推動(dòng)了存儲(chǔ)市場(chǎng)需求的逐年增長,針對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試設(shè)備的需求也越來越復(fù)雜和多樣化。研華SOM-C350高端COM-HPC解決方案,具備出色算力、高速數(shù)據(jù)傳輸、豐富I/O接口,且兼容PCIe Gen5,是存儲(chǔ)ATE測(cè)試設(shè)備的優(yōu)選方案。
- 關(guān)鍵字: ?研華嵌入式 模塊化電腦 COM-HPC 存儲(chǔ)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 芯片&半導(dǎo)體測(cè)試
筑波科技與美商泰瑞達(dá)攜手共創(chuàng)半導(dǎo)體測(cè)試新局面
- 自2022年以來,筑波科技 (ACE Solution) 與美商泰瑞達(dá) (Teradyne) 展開策略合作,共同推動(dòng)半導(dǎo)體測(cè)試的 ETS 平臺(tái)。我們特別專訪 Teradyne 的營銷總監(jiān)Aik-Moh Ng,他自2006年以來一直領(lǐng)導(dǎo) Teradyne ETS 亞太地區(qū)團(tuán)隊(duì)。隨著市場(chǎng)發(fā)展,電源管理中集成電路的整合明顯提升。電動(dòng)車的崛起同時(shí)帶來電池管理系統(tǒng)的挑戰(zhàn),需要高效的系統(tǒng)來最大化電池使用。此外,AI 技術(shù)將促進(jìn)許多電源管理 IC 的發(fā)展,推動(dòng)高端先進(jìn) GPU、CPU 和 TPU 的需求。這些設(shè)備在啟動(dòng)
- 關(guān)鍵字: 筑波 泰瑞達(dá) 半導(dǎo)體測(cè)試
泰瑞達(dá)與合肥工業(yè)大學(xué)“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”簽約暨揭牌儀式圓滿結(jié)束
- 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)近日宣布,與合肥工業(yè)大學(xué)的“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”的簽約暨揭牌儀式圓滿結(jié)束。泰瑞達(dá)全球半導(dǎo)體測(cè)試解決方案工程部副總裁Randy Kramer、全球監(jiān)管策略總監(jiān)Sam Rosen、中國工程方案開發(fā)部研發(fā)總監(jiān)侯毅、亞太區(qū)市場(chǎng)產(chǎn)品經(jīng)理Hwai-Sern Yap、中國市場(chǎng)溝通經(jīng)理Lisa Liu等代表泰瑞達(dá)公司出席在合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院舉辦的現(xiàn)場(chǎng)活動(dòng)。一直以來,泰瑞達(dá)都視中國為重要合作伙伴,秉持著“育芯、育人”的長期支持與承諾, Randy Kramer、Sam
- 關(guān)鍵字: 泰瑞達(dá) 合肥工業(yè)大學(xué) 半導(dǎo)體測(cè)試
旺矽科技先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試部門成為是德科技解決方案合作伙伴
- 半導(dǎo)體測(cè)試解決方案的全球領(lǐng)導(dǎo)者旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 欣然宣布與全球創(chuàng)新合作伙伴是德科技 (Keysight Technologies) 建立具里程碑意義的合作伙伴關(guān)系。是德科技致力于提供市場(chǎng)領(lǐng)先的設(shè)計(jì)、仿真與測(cè)試解決方案,幫助工程師加快產(chǎn)品的開發(fā)和部署。此次合作標(biāo)志著旺矽科技先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試 (AST) 部門的一個(gè)重要里程碑,其將成為半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)的有力競(jìng)爭(zhēng)者。通過戰(zhàn)略合作加快創(chuàng)新進(jìn)程旺矽科技先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試部門與是德科技之間的戰(zhàn)略合作建立在雙方共同創(chuàng)新的基礎(chǔ)之
- 關(guān)鍵字: 旺矽科技 半導(dǎo)體測(cè)試 是德科技
泰瑞達(dá)亮相2022 ICCAD:解密“芯”浪潮之下,半導(dǎo)體測(cè)試的挑戰(zhàn)與良策
- 2022年12月28日,中國 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)宣布,受邀出席了中國集成電路設(shè)計(jì)業(yè)年會(huì)(簡(jiǎn)稱ICCAD)。ICCAD是中國半導(dǎo)體界最具影響力的行業(yè)年度盛會(huì)之一,旨在為集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的各個(gè)環(huán)節(jié)營建一個(gè)交流與協(xié)作的平臺(tái),促進(jìn)整個(gè)產(chǎn)業(yè)共榮、共進(jìn)、共同發(fā)展。 在ICCAD 12月27日舉辦的先進(jìn)封裝與測(cè)試論壇上,泰瑞達(dá)中國產(chǎn)品專家于波先生發(fā)表了題為《緊跟“芯”浪潮之挑戰(zhàn),引領(lǐng)測(cè)試行業(yè)先鋒》的演講,以行業(yè)領(lǐng)頭羊視角向與會(huì)嘉賓解讀當(dāng)下半導(dǎo)體行
- 關(guān)鍵字: 泰瑞達(dá) 2022 ICCAD 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體測(cè)試|新涌現(xiàn)的技術(shù)與物流挑戰(zhàn)
- 半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展迅猛而廣泛,目前已經(jīng)滲透并影響到我們生活的方方面面。半導(dǎo)體器件已經(jīng)應(yīng)用在我們的汽車、便攜式電子產(chǎn)品、辦公設(shè)備、醫(yī)療儀器、工業(yè)機(jī)械、通信基礎(chǔ)設(shè)施和無數(shù)的其他方面,幾乎無處不在。盡管最近發(fā)生的影響廣泛的全球事件對(duì)每個(gè)行業(yè)都提出了挑戰(zhàn),但半導(dǎo)體行業(yè)仍然充滿活力,并繼續(xù)保持增長勢(shì)頭。據(jù)行業(yè)分析公司 Statista 給出的預(yù)測(cè)數(shù)據(jù),2021年半導(dǎo)體年出貨量達(dá)到歷史最高水平(如圖1所示),即出貨量將達(dá)到 1.14 萬億件,總價(jià)值約為 4700 億美元。這一創(chuàng)紀(jì)錄的增長也將為半導(dǎo)體行業(yè)帶來一系列挑戰(zhàn)。
- 關(guān)鍵字: 半導(dǎo)體測(cè)試 羅德與施瓦茨
降低時(shí)間成本提升良率 泰瑞達(dá)為半導(dǎo)體測(cè)試提速
- 芯片測(cè)試貫穿于半導(dǎo)體研發(fā)到量產(chǎn)的全部過程,是半導(dǎo)體制造無法繞開的一環(huán)。雖然近些年半導(dǎo)體工藝的演進(jìn)速度放緩,但因?yàn)橹圃旃に嚨木?xì)和芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的復(fù)雜,使得測(cè)試和驗(yàn)證的復(fù)雜程度大幅提升。 新工藝,新挑戰(zhàn) 隨著制作工藝越來越先進(jìn),芯片上的晶體管集成度也越來越高。為數(shù)量暴增的晶體管進(jìn)行測(cè)試勢(shì)必會(huì)造成芯片測(cè)試時(shí)間的增加。另外,模擬和射頻芯片測(cè)試過程中模擬測(cè)試占比重較大,且在測(cè)試之前需在內(nèi)部進(jìn)行trim調(diào)整,這樣會(huì)帶來額外的測(cè)試時(shí)間,測(cè)試時(shí)間的增加,就意味著更高的測(cè)試成本。Wafer yield也是先進(jìn)工藝帶來的一個(gè)
- 關(guān)鍵字: 泰瑞達(dá) 半導(dǎo)體測(cè)試 UltraFLEX
致茂并購ESS擴(kuò)大半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用市場(chǎng)
- 致茂電子并購ESS Inc. (Environmental Stress Systems, Inc.) 100%股份。ESS主要提供Thermal Forcing System,其核心技術(shù)的溫控范圍為-104°C ~ +175°C,可擴(kuò)大致茂在半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備溫度控制的能量,以符合晶片市場(chǎng)對(duì)于極低溫與高溫的測(cè)試需求。因應(yīng)5G、物聯(lián)網(wǎng)、車聯(lián)網(wǎng)等新興應(yīng)用,以及先進(jìn)封裝制程中高效能運(yùn)算(HPC)與AI等晶片所需的高功率溫控需求,ESS擁有達(dá)1,500W的冷卻技術(shù)可滿足晶片所需的高功率溫控。根據(jù)TrendF
- 關(guān)鍵字: 致茂 ESS 半導(dǎo)體測(cè)試
日月光投控:今年半導(dǎo)體測(cè)試業(yè)務(wù)仍可強(qiáng)勁成長
- 封測(cè)龍頭日月光投控董事長張虔生表示,原先預(yù)期樂觀的2020年因爆發(fā)新冠肺炎疫情,使未來成長動(dòng)能埋下極大隱憂。不過,集團(tuán)預(yù)期測(cè)試業(yè)務(wù)仍能維持強(qiáng)勁成長動(dòng)能,其中系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)及扇出型封裝(Fan-out)成長表現(xiàn)備獲看好。
- 關(guān)鍵字: 日月光投控 半導(dǎo)體測(cè)試 NPI
挑戰(zhàn)傳統(tǒng)ATE,測(cè)試廠商發(fā)力半導(dǎo)體測(cè)試
- 2017年春天開始,筆者有幸每個(gè)月接觸一家測(cè)試巨頭的高管,談?wù)?017中國市場(chǎng)的熱點(diǎn)時(shí),半導(dǎo)體測(cè)試是被提及的最多的一個(gè),也是最讓很多人意外的一個(gè)。
- 關(guān)鍵字: ATE PXI NI 半導(dǎo)體測(cè)試
PXI加入戰(zhàn)局,ATE全面模塊化時(shí)代到來
- 半導(dǎo)體測(cè)試ATE是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)中最為精密的一個(gè)環(huán)節(jié),也是最具市場(chǎng)價(jià)值的測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域之一,相比于幾萬塊錢規(guī)模的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),動(dòng)輒百萬的半導(dǎo)體測(cè)試ATE從技術(shù)上就限制了很多玩家的進(jìn)入。當(dāng)然,龐大的系統(tǒng)有自己固有的問題,就是設(shè)備的使用成本過于昂貴,基于這樣的需求,NI的PXI技術(shù)尋找了市場(chǎng)的切入點(diǎn)技術(shù)找到了市場(chǎng)的切入點(diǎn)。 在快速變遷的市場(chǎng)環(huán)境下,設(shè)備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限,測(cè)試設(shè)備的淘汰速度加快,測(cè)試成本也隨之增加,因而需要與日益嚴(yán)苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導(dǎo)體測(cè)試客戶的最大亮
- 關(guān)鍵字: PXI ATE NI 模塊化 半導(dǎo)體測(cè)試
NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) 開啟ATE測(cè)試新未來
- 如果你想要對(duì)半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)和測(cè)試的新動(dòng)向有所了解,這無疑是個(gè)非常合適的地方。9月3日至9月5日,NationalInstruments又將發(fā)布新的半導(dǎo)體測(cè)試儀。這次的發(fā)布依然端莊大氣,場(chǎng)合是在2014SEMICONTaiwan國際半導(dǎo)體展上。
- 關(guān)鍵字: NI 半導(dǎo)體測(cè)試
愛德萬測(cè)試主攻亞洲市場(chǎng)
- 半導(dǎo)體測(cè)試巨頭愛德萬測(cè)試(Advantest)是一家日本測(cè)試公司,愛德萬測(cè)試(Advantest)于去年7月購并惠瑞捷(Verigy),惠瑞捷與愛德萬測(cè)試于今年4月1日起已正式整并至愛德萬測(cè)試,自此成為全球最大的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備廠商。 合并后的愛德萬測(cè)試和惠瑞捷優(yōu)勢(shì)互補(bǔ),在ATE、SOC以及Memory Test市場(chǎng)占有率居全球第一位,并在擴(kuò)大客戶群、提升服務(wù)以及拓展業(yè)務(wù)范圍等方面取得了明顯的優(yōu)勢(shì)。 愛德萬測(cè)試(Advantest)5月21日在上海Kerry Hotel舉行媒體發(fā)布會(huì)。愛德萬
- 關(guān)鍵字: 愛德萬 半導(dǎo)體測(cè)試
集成在半導(dǎo)體測(cè)試中的重要性
- 在今年5月1日于美國加利福尼亞州伯克利(Berkeley)舉行的2006年VLSI測(cè)試研討會(huì)上,一個(gè)專家小組探究了可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)的發(fā)展前景。我們的姊妹出版物EDN的執(zhí)行主編Ron Wilson報(bào)道說,討論的主要問題是單點(diǎn)工具或集
- 關(guān)鍵字: 集成 半導(dǎo)體測(cè)試
惠瑞捷宣布收到愛德萬的修訂后并購提案
- 惠瑞捷有限公司 (Verigy Ltd.)今天宣布,已收到來自愛德萬公司(紐約證券交易所代碼:ATE)的修訂后并購提案,以每股15美元的現(xiàn)金價(jià)格收購惠瑞捷的所有上市普通股。
- 關(guān)鍵字: 惠瑞 半導(dǎo)體測(cè)試
芯片&半導(dǎo)體測(cè)試介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條芯片&半導(dǎo)體測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)芯片&半導(dǎo)體測(cè)試的理解,并與今后在此搜索芯片&半導(dǎo)體測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)芯片&半導(dǎo)體測(cè)試的理解,并與今后在此搜索芯片&半導(dǎo)體測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473