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誤碼測(cè)試儀
誤碼測(cè)試儀 文章 進(jìn)入誤碼測(cè)試儀技術(shù)社區(qū)
基于ADμC7020的高速誤碼測(cè)試儀
- 針對(duì)國(guó)內(nèi)外高速誤碼測(cè)試儀價(jià)格昂貴、系統(tǒng)復(fù)雜的現(xiàn)狀，采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratoties公司生產(chǎn)的XFP收發(fā)芯片Si5040，設(shè)計(jì)一種簡(jiǎn)易、低成本的誤碼測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)由Si5040、ADμCT020和虛擬儀器Lab Windows／CVI組成。Si5040具有可編程的偽隨機(jī)碼比特流生成和比較功能，讀出誤碼值，通過(guò)ADμC7020計(jì)算得到誤碼率，并通過(guò)I2C接口與Lab Windows／CVI構(gòu)成的上位機(jī)進(jìn)行通信。
- 關(guān)鍵字： C7020 誤碼測(cè)試儀
高速突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀的FPGA實(shí)現(xiàn)方案
- 摘要：突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀與一般連續(xù)誤碼測(cè)試儀不同，其接收端在誤碼比對(duì)前要實(shí)現(xiàn)在十幾位內(nèi)，對(duì)具有相位跳變特點(diǎn)的信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘提取和數(shù)據(jù)恢復(fù)，并且在誤碼比對(duì)時(shí)須濾除前導(dǎo)碼和定界符，僅對(duì)有效數(shù)據(jù)進(jìn)行誤碼統(tǒng)計(jì)。
- 關(guān)鍵字： FPGA 模式 誤碼測(cè)試儀 實(shí)現(xiàn)方案
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誤碼測(cè)試儀介紹
誤碼測(cè)試儀是評(píng)估信道性能的基本測(cè)量?jī)x器。通過(guò)檢測(cè)數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的誤碼性能指標(biāo)（包括誤碼率、誤碼間隔、無(wú)誤碼間隔等）對(duì)其系統(tǒng)傳輸質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估。誤碼測(cè)試儀測(cè)量方法一經(jīng)提出，就在測(cè)量領(lǐng)域中獲得了廣泛的關(guān)注，諸多優(yōu)點(diǎn)已得到了廣泛認(rèn)可?！ 〗涌陬愋秃退俾数R全，功能完善，滿足多種數(shù)字信道測(cè)試要求； 體積小、攜帶方便，適合各種測(cè)試需求； 采用可充電鋰電池供電及低功耗設(shè)計(jì)，在鋰電池充足電的情況下能滿足4小時(shí) [ 查看詳細(xì) ]
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