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科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award

科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測試獎）獎項。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類芯片測試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
關(guān)鍵字： Award Best in Test 測試與測量世界科利登測試測量

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