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          關(guān)于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會

          • 當(dāng)一個產(chǎn)品無法通過EMI 測試﹐首先就要有一個觀念﹐找出無法通過的問題點﹐此時千萬不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對策。常常有許多有經(jīng)驗的 EMI 工程師﹐由于修改過許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對于產(chǎn)品可能造成 EMI 問題的地方也非常了解﹐而習(xí)慣直接就下藥方﹐當(dāng)然一般皆可能 非常有效﹐但是偶而也會遇到很難修改下來﹐最后發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵都是起行認為不可能的地方﹐之所以會種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認一次﹐甚而多次確認。這是因為造成EMI 的問題往往是錯綜復(fù)雜﹐并非單一點所造成。故反
          • 關(guān)鍵字: EMI測試  測試測量  

          當(dāng)RF遇到模擬信號和數(shù)字信號–EMI測試

          • 當(dāng)前,對工程師們來說,EMI (電磁干擾)和EMC (電磁兼容性)即使不算災(zāi)難,也算是非常棘手的任務(wù)。這是因為如果沒適 ...
          • 關(guān)鍵字: RF  模擬信號  數(shù)字信號  EMI測試  

          R&S全面電磁兼容和射頻微波創(chuàng)新方案亮相首屆電子設(shè)計創(chuàng)新會議

          • 由Microwave Journal 和《微波雜志》(Microwave Journal China)主辦的首屆電子設(shè)計創(chuàng)新會議(Electronic Design Innovation Conference,EDI CON 2013)將于2013年3月12日-14日在中國北京舉辦。
          • 關(guān)鍵字: 羅德  EMI測試  
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          emi測試介紹

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