由Microwave Journal 和《微波雜志》(Microwave Journal China)主辦的首屆電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2013)將于2013年3月12日-14日在中國(guó)北京舉辦。德國(guó)羅德與施瓦茨公司是歐洲最大的電子測(cè)量?jī)x器公司和全球最大的EMC系統(tǒng)集成公司， 將參加EDI CON的講座、演示及研討會(huì)，屆時(shí)，羅德與施瓦茨公司將有六位來自德國(guó)的專家、一位來自俄羅斯的專家和多位中國(guó)本地的專家，分別以五個(gè)專題講座、兩個(gè)專題討論和七個(gè)主題展示，參與大會(huì)的電子設(shè)計(jì)板塊、測(cè)量與建模板塊、系統(tǒng)與工程板塊和商業(yè)應(yīng)用板塊，全面介紹羅德與施瓦茨公司在微波毫米波、電磁兼容、導(dǎo)航、雷達(dá)、元器件等領(lǐng)域的最新測(cè)試技術(shù)和最新的電子測(cè)試與測(cè)量?jī)x器。

　　五個(gè)主題講座分別為：基于時(shí)域掃描的EMI測(cè)試接收機(jī)技術(shù)、衛(wèi)星導(dǎo)航應(yīng)用、變頻設(shè)備的噪聲系數(shù)測(cè)試、寬帶放大器設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn)、反射測(cè)量的誤差源分析。

　　兩個(gè)專題講座分別為：微波毫米波測(cè)試解決方案和矢網(wǎng)的單次連接全面測(cè)量技術(shù)。

　　七個(gè)主題展示分別為：110GHz測(cè)試系統(tǒng)、40GHz多端口測(cè)試系統(tǒng)、基于多音技術(shù)的群時(shí)延測(cè)量系統(tǒng)、雷達(dá)脈沖信號(hào)分析系統(tǒng)、最新EMI測(cè)試接收機(jī)、導(dǎo)航測(cè)試解決方案、最新示波器技術(shù)。

　　與會(huì)代表和參觀者將直接接觸和了解到R&S全面的電磁兼容測(cè)試技術(shù)與解決方案、在射頻微波領(lǐng)域的先進(jìn)測(cè)試技術(shù)，以及以R&S的測(cè)試測(cè)量?jī)x表為核心，根據(jù)客戶需求定制開發(fā)電磁兼容和微波射頻測(cè)試解決方案。這些新產(chǎn)品和亮點(diǎn)引導(dǎo)新領(lǐng)域的電子設(shè)計(jì)發(fā)展，是電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域的專家與工程師共同關(guān)注的焦點(diǎn)。