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          五位半導(dǎo)體行業(yè)專家對芯片缺陷分析

          • 在圓桌會議上,半導(dǎo)體工程專家們就“半導(dǎo)體和封裝技術(shù)日益增加的復(fù)雜性將如何推動故障分析方法的轉(zhuǎn)變”展開了討論,討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應(yīng)用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級產(chǎn)品專家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級營銷經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場討論的精彩摘錄。[從左到右]
          • 關(guān)鍵字: 先進(jìn)封裝,F(xiàn)A  SEM  TEM  

          是德科技為低壓高分辨率 FE-SEM 系統(tǒng)增添完全集成的 EDS 功能

          •   是德科技公司日前宣布,其最新型場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術(shù)領(lǐng)先的緊湊型低電壓 FE-SEM(場發(fā)射掃描電子顯微鏡),可以為科學(xué)家提供強(qiáng)大的能譜分析功能。   這款場即插即用型發(fā)射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡單,只需連接交流電源插座即可使用,是各類實驗室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。   最新 8500B 系統(tǒng)具有完全集成的硅漂移 x 射線探測器、數(shù)字多通道分析儀和直
          • 關(guān)鍵字: 是德科技  FE-SEM  

          Matlab圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用

          • Matlab圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用,0引 言   根據(jù)國內(nèi)外的相關(guān)文獻(xiàn),研究和發(fā)展圖像處理工具,改善圖像質(zhì)量是當(dāng)今研究的熱點。圖像增強(qiáng)與復(fù)原是一種基本的圖像處理技術(shù)。其按照特定的需要突出一幅圖像中的某些信息或強(qiáng)化某些感興趣的特征,將原來不
          • 關(guān)鍵字: 圖像  SEM  應(yīng)用  技術(shù)  復(fù)原  增強(qiáng)  Matlab  

          基于Matlab的圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用

          • 基于Matlab的圖像增強(qiáng)與復(fù)原技術(shù)在SEM圖像中的應(yīng)用, 0引 言   根據(jù)國內(nèi)外的相關(guān)文獻(xiàn),研究和發(fā)展圖像處理工具,改善圖像質(zhì)量是當(dāng)今研究的熱點。圖像增強(qiáng)與復(fù)原是一種基本的圖像處理技術(shù)。其按照特定的需要突出一幅圖像中的某些信息或強(qiáng)化某些感興趣的特征,將原來
          • 關(guān)鍵字: 圖像  SEM  應(yīng)用  技術(shù)  增強(qiáng)  Matlab  基于  復(fù)原  

          艾瑞:受北美SEM市場發(fā)展啟發(fā) 中國SEM市場始動

          •   adSage繼2007年底在北美地區(qū)推出ad Intelligence和ad Management引起北美SEM行業(yè)重視后,在2008年2月,adSage(中國)公司與百度合作,最先推出百度競價排名廣告系統(tǒng)管理工具 adSage for Baidu,成為基于百度API的第一款搜索營銷(SEM)工具,這也標(biāo)志著中國SEM市場受北美SEM市場發(fā)展的影響,迅速進(jìn)入到與國際接軌的時代。   而2008年3月,百度與美國網(wǎng)絡(luò)業(yè)務(wù)優(yōu)化軟件提供商Omniture開展戰(zhàn)略合作,百度將向Omniture開放AP
          • 關(guān)鍵字: SEM    

          應(yīng)用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測系統(tǒng)

          •   近日,應(yīng)用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統(tǒng),它將應(yīng)用材料公司非常成功的SEMVision系統(tǒng)的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節(jié)點。SEMVision G4系統(tǒng)的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強(qiáng)的多視角SEM成像系統(tǒng)(MPSI),他們具有卓越的2納米物理精度,能提供無與倫比的成像質(zhì)量,其每秒一個缺陷的檢測速度也設(shè)定了新的基準(zhǔn)。   應(yīng)用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門總經(jīng)理Ronen Benzion表示:“45納米
          • 關(guān)鍵字: 測試  測量  應(yīng)用材料  EMVision  G4  SEM  測量工具  
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          fe-sem介紹

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