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          吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)KTEI V7.1升級(jí)版

          •   吉時(shí)利(Keithley)儀器公司,日前發(fā)布最近針對(duì)其屢獲殊榮的4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)推出了KTEI(吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境)V7.1版。經(jīng)過(guò)此次軟件升級(jí)之后,KTEI支持更高功率半導(dǎo)體器件的測(cè)試。這樣,4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析,從而成為市場(chǎng)上最完整的半導(dǎo)體特征分析儀,大大降低了一些復(fù)雜測(cè)量的難度,并且通過(guò)保護(hù)用戶的固定資產(chǎn)投資降低了用戶的測(cè)試成本。   KTEI V7.1的此次升級(jí)融合了多種新特征和新功能,擴(kuò)寬了4200-CVU(電容-電壓?jiǎn)卧┑墓δ埽?/li>
          • 關(guān)鍵字: 吉時(shí)利  Keithley  半導(dǎo)體  KTEI  
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